更新日： 集計期間:2025年04月02日～2025年04月29日
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品質、測定精度に妥協せず低価格！すぐに測定を始められるパッケージ製品
『IMPACT(TM)』は、すぐに測定を始められるアクセサリを含んだ 低価格パッケージ製品です。 パッケージ製品でありながら、アプリケーションや個々の測定に合わせた 自由度を持ち合わせております。 大学、政府機関、研究機関などのDC/CVおよびRF測定ニーズに見合った 製品となっております。 【特長】 ■すぐに測定を始められる ■アクセサリを含んだパッケージ製品 ■アプリケーションや個々の測定に合わせた自由度がある ■周波数が高くなる場合は40GHz、50GHz、67GHzオプションを ご選択いただくことにより、より高い周波数での測定が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ソフトコンタクトで半田ボールや測定基板にダメージを与えないテストソリューション！
『PCR』は、今後の5G、IoT時代に向けたハイスペックなパッケージに最適なテストソリューションです。低インダクタンス、低抵抗及び低接触特性を必要とする高周波検査に優れた性能を発揮します。また、シンプルな構造により、メンテナンスが容易で、ソケット交換時の生産ラインの停止時間が短縮でき生産性向上を可能とします。 【特長】 ■測定基板などにダメージを与えない ■優れた価格優位性 ■メンテナンスが用意 ■生産性向上が可能 ※詳細は資料請求して頂くかダウンロードからPDFデータをご覧下さい
試験業務の効率化とコスト削減をサポート！カスタムシステムやラボアクセサリなど豊富にご紹介
当カタログは、Mini-Circuits社の『テストソリューション』についてご紹介します。 「製品ラインの概要」をはじめ、「カスタムシステム」、 「インテグレートアンプ」や「ラボアクセサリ」など詳しく掲載。 Mini-Circuits社では、これまでに数多くのお客様の試験業務の効率化とコスト削減をサポートしてまいりました。 このガイドの情報が、同じような試験業務を行うお客様に役立つアイデアとして提供できることを願っています。 【掲載内容（抜粋）】 ■製品ラインの概要 ■カスタムシステム ■インテグレートアンプ ■ラボアクセサリ ■測定器 ■パネルマウント構造 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
フレキシブルに対応！「不具合防止」と「テスト効率化」を実現するテストソリューション
システム開発工程で避けては通れないソフトウェアテスト。全体の工数の 三分の一を占めるともいわれ、開発者の大きな負担になっています。 当社は、テストを専門にこれまで1万件以上のご支援を行っており、 お客様の課題に合わせて、好適なテスト体制をご提供。 お客様のプロダクトや開発体制に合ったテストソリューションを提案します。 サービス品質やテストに関するお困り事は、お気軽にご相談ください。 【支援内容（一部）】 ■第三者検証 ・専門会社のテスト設計/テスト実施によって、バグを早期検出 ・テストを分業することによる開発効率化・コストダウンを実現 ■マルチデバイステスト ・スマートフォンを中心とした6 000台を超えるテスト用実機を保有 ・網羅性の高いマルチデバイステストで、端末依存不具合の抑止に貢献 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
測定したい光集積回路をカスタマイズ！当社のテストソリューションをご紹介
当社は、パッシブおよびアクティブコンポーネントテストやBERテスターなど 幅広いPICテスト環境をご提供いたします。 お客様のご要望に応じて、測定したい光集積回路毎に好適な構成を 都度カスタマイズしてご利用いただけます。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■幅広い光集積回路を、ウェハーレベル、ダイレベル、 コンポーネントレベルでのテスト環境を提供 ■自動化ソフトウェア、プローブシステムから光学/電気/ パフォーマンス測定系までワンストップでご提供 ※日本語版・英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
測定したい光集積回路をカスタマイズ！スペクトル分析や、機能テストにも活用できる
当社では「PIC(光集積回路)テストソリューション」をご提供しております。 パッシブおよびアクティブコンポーネントテストやBERテスターなど 幅広いPICテスト環境をご提供。 お客様のご要望に応じて、測定したい光集積回路(PIC：Photonic Integrated Circuit)毎に適切な構成を都度カスタマイズして ご利用いただけます。 【特長】 ■パッシブ部品、アクティブ部品、量子フォトニクスチップ(ダイ)、 AWG、トランシーバー(伝送、BER)など幅広い光集積回路を、ウェハー レベル、ダイレベル、コンポーネントレベルでのテスト環境を提供 ■自動化ソフトウェア、プローブシステムから光学/電気/ パフォーマンス測定系までワンストップでご提供 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
