光計測・検査装置『光ビームNFP計測装置』
光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く対応可能！
『光ビームNFP計測装置』は、発光素子・光ファイバ・光導波路・各種光 モジュールの光ビームプロファイル観察・計測から光学特性解析まで幅広く 対応可能な汎用光ビームプロファイラシステムです。 光学系は当社の高機能NFP計測光学系（簡易型NFP計測光学系も使用可能） を使用し、各種光検出器・光ビーム解析モジュールAP013との組み合わせ により、さまざまな光デバイスのNFP計測・光ビーム形状観察や光ビーム プロファイル計測・解析に使用することができます。 また光検出器の選択により、可視域から光通信の1550nm近赤外波長帯まで さまざまなシステム構築が可能です。 【特長】 ■高機能NFP計測光学系 M-Scope type Sを使用 ■光検出器の選択により、可視域から近赤外域までの測定に対応可能 ■光ビーム解析モジュールAP013との組み合わせにより、 さまざまな光デバイスの計測・解析が可能 ■低価格でシステム構築も可能 ※詳しくは、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：シナジーオプトシステムズ株式会社
- 価格：応相談
