さまざまな光ビーム解析に対応する高機能画像処理解析システム
『AP013』は、レーザや光ファイバ・光モジュールなどの光ビームプロファイル 計測をはじめ、NFP・FFP・コリメート光等のさまざまな発光パラメータ計測を 目的とした画像処理・解析用モジュールです。 当社の光計測用光学系M-Scopeシリーズ・2次元光検出器ISAシリーズとの組合せにより、 可視～近赤外波長域のさまざまな光ビーム観察・光パラメータ計測に応用が可能です。 【特長】 ■解析装置（PC本体）・解析ソフトウエア・検出器ドライバ・補正データの セットで直ちに使用可能 ■【Optometrics BA Standard】さまざまな光ビームプロファイル計測に 対応した高機能光ビーム計測解析ソフトウエア ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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基本情報
【「Optometrics BA Standard」詳細】 ■光ビームプロファイル計測に必須の光ビームパラメータ計測機能 ■【光パワー分布解析機能】 EF（エンサークルドフラックス）/EAF（エンサークルドアンギュラーフラックス）解析機能 ■【新機能：光パワー分布解析機能】D86幅解析機能 ■【新機能/光パワー分布解析機能】4σ法によるXY軸幅・長短径幅・傾き計測解析機能 ■光強度プロファイル計測のみに機能を限定したOptometrics BA Basicも選択可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
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企業情報
シナジーオプトシステムズ株式会社は、光学技術・センサ技術・エレクトロニクス・ソフトウエア・精密機構技術を融合したユニークで新しいセンサ・電子光学機器の創造を目指しています。当社では、光学設計・光センサ・光源・光モジュール・計測システム設計の各分野で多くの経験と実績を有するエンジニアが、お客様のご要求仕様を分析し、最適なソリューションをご提案させていただきます。また、お客様のご要求仕様に基づく光学系や光学システムをカスタムで設計・製作させていただくことも可能です。