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分析装置×日本セミラボ株式会社 - 企業1社の製品一覧

製品一覧

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結晶欠陥分析装置(非接触、非破壊式)

結晶欠陥分析装置(非接触、非破壊式)

結晶欠陥分析装置(非接触、非破壊式)

ウェハーを割らずにそのままで測定可能です。

  • 半導体検査/試験装置
  • その他計測・記録・測定器
  • 分析機器・装置

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表面電荷分析装置 SCA2011

表面電荷分析装置 SCA2011

表面電荷分析装置

表面電荷分析装置は、半導体前工程管理とりわけ熱酸化膜、ＣＶＤ膜形成、メタライゼーション、洗浄及びエッチングなどプロセス中に生じた汚染とダメージのモニタリングに最適です。

  • その他検査機器・装置

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