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In-Plane XRDによる薄膜の結晶性評価や、XRRによる薄膜の物性測定が可能！
当社で行う「薄膜X線回折(XRD)」についてご紹介します。 数nmレベルの薄膜の結晶構造同定に加え、X線反射率測定による 多層膜の膜密度・膜厚・粗さの解析も可能。 平行性の良いX線を試料に極浅い角度で入射させることで、X線の 侵入深さを極めて浅くすることができ、In-Plane XRDによる薄膜の 結晶性評価や、XRRによる薄膜の物性測定ができます。 【特長】 ■In-Plane XRD(面内回転測定) 数nmレベルの結晶性薄膜の評価 ■XRR(X線反射率測定) 膜密度・膜厚・(表面・界面)粗さの評価 ■一般的な薄膜法(θ固定2θ走査)も対応 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
大気下も含め、様々な環境下での測定が可能！内部に埋もれた物質の測定も可能
当社で行う「XRDによるハイドロキシアパタイト顆粒の化合物同定」について ご紹介します。 構成元素は同じで性状の異なる化合物は数多く存在します。例えばリン酸 カルシウムと呼称される化合物は多く存在し、薬用成分としても用いられる ハイドロキシアパタイト(HAp)もその一種ですが、元素分析では原則として 化合物種までは識別できません。 X線回折(XRD)では結晶構造同定により、構成元素が同じ化合物の識別が可能です。 【特長】 ■原子の周期性を検出 ■XRDパターンのデータベースとの照合などにより、 元素分析だけでは 困難な化合物の同定が可能 ■リートベルト法が適用できる場合など、結晶相の定量が可能な場合もある ■絶縁物・有機物の測定が可能(非破壊分析) ■測定領域は、サブmm～数cm ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
