回折装置のメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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回折装置 - メーカー・企業11社の製品一覧とランキング | イプロスものづくり

更新日： 集計期間:2026年02月04日～2026年03月03日
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回折装置のメーカー・企業ランキング

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  1. 株式会社大同分析リサーチ 愛知県/サービス業
  2. 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST 東京都/試験・分析・測定
  3. スペクトリス株式会社 マルバーン・パナリティカル事業部 兵庫県/試験・分析・測定
  4. 4 東芝ナノアナリシス株式会社 神奈川県/試験・分析・測定
  5. 5 株式会社クオルテック 大阪府/サービス業
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回折装置の製品ランキング

更新日： 集計期間:2026年02月04日～2026年03月03日
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  1. EBSD 主要な解析手法 株式会社大同分析リサーチ
  2. 多目的X線回折装置 Empyrean（エンピリアン） スペクトリス株式会社 マルバーン・パナリティカル事業部
  3. EBSD（電子線後方散乱回折法）を利用した結晶解析とは 株式会社クオルテック
  4. ［XRD］X線回折法 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST
  5. 4 リートベルト解析によるX線回折データの定量分析 東芝ナノアナリシス株式会社

回折装置の製品一覧

1～29 件を表示 ／ 全 29 件

表示件数
多目的X線回折装置 Empyrean（エンピリアン）

多目的X線回折装置 Empyrean（エンピリアン）

開発から品質管理まで！さまざまな形態の試料解析を可能にした超高性能のX線回折装置

多目的X線回折装置Empyrean（エンピリアン）に搭載された新開発MultiCore Opticsは、多様なサンプルを簡単な操作で測定することを可能にしました。 1つの装置で、粉末から薄膜、ナノ材料から固形物まで、原料が持つ様々な見どころを色々な角度でとらえる多目的XRD機能を搭載！ 標準構成にいくつかのスリットや分析ソフトウェアを追加しただけの単純なものから、専用の光学系、光源、および検出器を使用したトップパフォーマンス構成に至る様々な方法でアプリケーションを処理することができます。 【特長】 ■原料、処方違いの製品評価 ■未知試料や開発品を急いで解析したい時に強力サポート ■多様なサンプルの効率的な測定に好適 ■簡単操作 ■サンプルスループット30％以上向上 ■40％以上高い感度や速度で不純物検出 ■複数の測定条件の設定ミスや漏れの削減 ■ユーザートレーニング時間を30％短縮 ※詳しくはウェブサイトをご参照下さい。

  • 分析機器・装置
  • X線検査装置
  • 回折装置

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高圧反射高エネルギー電子回折『RHEED』

高圧反射高エネルギー電子回折『RHEED』

薄膜成長を調節！リアルタイムでのプロセスモニタリングのための診断ツールをご提供

『High-Pressure Reflection High-Energy Electron Diffraction(RHEED)』は、 高圧反射高エネルギー電子回折です。 PLD/PEDシステムに対してin-situにおけるリアルタイムでの プロセスモニタリングのための診断ツールを提供。 振動強度と回折による構造データから薄膜成長を調節します。 【特長】 ■振動強度と回折による構造データから薄膜成長を調節 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他エネルギー機器
  • 回折装置

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EBSD（電子線後方散乱回折法）を利用した結晶解析とは

EBSD（電子線後方散乱回折法）を利用した結晶解析とは

試料表面で生じる電子線後方散乱回析により金属など結晶性材料の結晶方位・粒径・歪み分布などに関する情報を取得することが出来ます。

EBSD分析とは、SEM（走査電子顕微鏡）と組み合わせて、金属結晶粒子の方位、微粒子化を解析する事で、問題点を顕在化させ、 設計・プロセス・材料の改善や、品質トラブルの未然防止に役立てることが出来ます。 また、 信頼性試験と組み合わせることにより、評価初期段階での歪み発生箇所の解明、破壊メカニズムの解明などに役立ちます。 【マッピングの例】 ■IQマップ 　パターンの良否により結晶性の良し悪しを表します。 　IQ値は試料断面加工の精度良否の指標として用いられます。 ■IPF（結晶方位）マップ 　試料座標系を設定し、結晶面がその方向に向いているかを表したものです。 ■Grainマップ 　基準方位差を指定し、隣り合う測定点同士の方位差が基準より大きく、粒子として閉じていれば、 　異なる結晶粒とみなし、異なる色を付けます。 ■KAMマップ 　微視的方位変化、局所方位差を表します。 ■GRODマップ 　Grainマップで定義された粒子1つ1つに対し、微小な方位変化を求め、 　印加されている残留応力を粒子毎に求める場合に用いります。 ※詳細は下記までお問い合わせください。

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  • その他解析
  • 画像解析ソフト
  • 超音波発振器
  • 回折装置

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［XRD］X線回折法

［XRD］X線回折法

XRDは、回折パターンから試料の結晶構造情報を得る手法です。

・結晶性物質の同定が可能 ・結晶子サイズの評価 (数nm～100nm)が可能 ・結晶化度の評価が可能 ・配向性の評価が可能 ・歪み量・応力の評価が可能 ・非破壊で分析が可能 保有装置の特徴 ・室温～1100℃までの加熱分析が可能 ・ビーム径100μmまでの微小部測定が可能 ・N2、He、Ar、真空での雰囲気制御が可能

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【分析事例】IGZO

【分析事例】IGZO

酸化物半導体のXRD・XRR分析事例

透明酸化物半導体であるIGZO薄膜はディスプレイ用TFT材料として研究開発が進んでいます。 IGZOは膜の組成・酸素欠損の有無・結晶性で大きく特性が変化する材料でもあり、膜質との相関を考慮することが重要です。加熱温度の異なる3種類のIGZO薄膜の結晶性・膜厚・膜密度をXRD・XRRにて測定し、比較を行った事例をご紹介します。高温では結晶化が進み、膜密度が高くなっている様子を非破壊で確認することができました。

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【分析事例】高温XRDによる金属膜の評価

【分析事例】高温XRDによる金属膜の評価

昇温過程での相転移・結晶性変化を追跡評価

Pt をSi 基板にスパッタ蒸着させた試料に対して、昇温させながらOut-of-plane XRD、 In-plane XRD 測定をそれぞれ行いました。両測定で、Pt(111) は500℃より高い温度ではピーク強度が増加し、半価幅が小さくなり、結晶化が進行していることが分かりました。 また、温度が上昇するにつれ、熱膨張によりピークが低角度側（格子間隔が広がる方向）にシフトしていることを確認できました。

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電子回折の種類と特徴

電子回折の種類と特徴

TEM：透過電子顕微鏡法

透過電子顕微鏡での電子回折法は、試料への電子線の入射の仕方によって3つに分類されます。それぞれの特徴とデータ例を示します。評価対象物のサイズや分析目的に応じて、適切な手法を選択する必要があります。

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【資料DL可/EBSD】線材の内部歪み測定

【資料DL可/EBSD】線材の内部歪み測定

EBSDで金属組織の形状変化確認と内部歪み測定を行うことで板バネ、ひげぜんまい等の曲げ加工が適切かを判断できます

電子線後方散乱回折法EBSD（Electron Backscatter Diffraction Pattern）は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで以下が可能です ・断面形成後の結晶方位解析 ・金属組織の形状変化と内部歪み分布の確認 本事例では EBSDによる「線材の内部歪み測定」を紹介しています この測定技術は、板バネ、ひげぜんまい等の曲げ加工が適切か、加工条件決めに役立ちます ぜひお試しください なお、弊社ではEBSDとSEMに加え、TEMによる各種断面解析、XPSによる表面分析なども行っており多面的に解析分析を行えます 営業だけでなく技術者も直接対応しますので、お気軽にご相談いただければ幸いです セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/

  • その他金属材料
  • 受託測定
  • その他顕微鏡・マイクロスコープ
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高温XRDによる極薄膜の結晶性評価

高温XRDによる極薄膜の結晶性評価

温度条件による相変化・化学反応・格子定数の変化を知るために有効な手段！

当社で行う「高温XRDによる極薄膜の結晶性評価」についてご紹介いたします。 高温でのX線回折(XRD)は、各種材料の温度条件による相変化・化学反応・ 格子定数の変化を知るために有効な手段です。 添付のPDF資料にて、nmオーダの極薄膜の結晶構造の変化をIn-PlaneXRD＋ 高温測定で評価した事例をご紹介しておりますので、ぜひご覧ください。 【高温＋In-Plane XRD 特長】 ■極低角でX線を入射して面内方向に検出器を走査させる方法 ■入射X線は表面から深くまで入らず、かつ表面に対して 　垂直な回折面のみを検出することができる ■数nmの極薄膜についても結晶の情報を得ることができる ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • その他 分析・評価受託
  • 回折装置

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リートベルト解析によるX線回折データの定量分析

リートベルト解析によるX線回折データの定量分析

二次電池の充放電過程における正極/負極材料の粒径・ひずみ量評価などの用途に！

当社で行う「リートベルト解析によるX線回折データの定量分析」 についてご紹介いたします。 X線回折データにリートベルト解析を適用することにより、標準試料を 必要とせずに、試料に含まれる結晶相の質量分率、結晶子サイズ、 均一ひずみの定量が可能です。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■標準試料を必要とせずに、試料に含まれる結晶相の質量分率、 　結晶子サイズ、均一ひずみの定量が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • その他 分析・評価受託
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薄膜X線回折(XRD)

薄膜X線回折(XRD)

In-Plane XRDによる薄膜の結晶性評価や、XRRによる薄膜の物性測定が可能！

当社で行う「薄膜X線回折(XRD)」についてご紹介します。 数nmレベルの薄膜の結晶構造同定に加え、X線反射率測定による 多層膜の膜密度・膜厚・粗さの解析も可能。 平行性の良いX線を試料に極浅い角度で入射させることで、X線の 侵入深さを極めて浅くすることができ、In-Plane XRDによる薄膜の 結晶性評価や、XRRによる薄膜の物性測定ができます。 【特長】 ■In-Plane XRD(面内回転測定) 　数nmレベルの結晶性薄膜の評価 ■XRR(X線反射率測定) 　膜密度・膜厚・(表面・界面)粗さの評価 ■一般的な薄膜法(θ固定2θ走査)も対応 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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EBSD 主要な解析手法

EBSD 主要な解析手法

EBSDにより材料の結晶構造や結晶方位の評価が可能です。

弊社では、調査目的に応じて、適切な手法によるEBSD解析が可能です。

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卓上型X線回折装置（XRD）　Aeris（ エアリス）

卓上型X線回折装置（XRD）　Aeris（ エアリス）

【2021年透過測定・薄膜測定オプション登場】卓上型X線回折装置(XRD)!1％以下の低濃度の結晶相まで検出可能な高感度分析装置

スペクトリス(株)マルバーン・パナリティカル事業部は、卓上型粉末X線回折装置Aerisで、この度大きく機能を追加したリニューアルモデルを発売しました。 薄膜XRD（GIXRD）測定の機能拡張により、薄膜やコーティング材料の結晶性や残留応力の測定が可能になったほか、透過率測定機能の拡張により、サンプル前処理時の配向の影響を低減し、製剤試料のような試料でも、より正確なデータが得られるようになりました。 今回のリニューアルで、以前は床置き型の大型装置でのみ対応していた機能が搭載できるようになりました。 新しいAerisは、多結晶材料から高品質のデータをスループットよく提供することが出来る卓上型の多目的X線回折装置であり、すべての環境で使用できるように設計されています。 また従来のAerisでも定評のあったユーザフレンドリな操作性、X線暴露の心配のない安心設計、詳細な解析が可能な大型の床置き装置と同じ解析ソフトウエアは今回のリニューアルでもしっかりと引き継がれています。 製品の詳細説明、測定事例のご紹介、お見積りのご要望などは是非お問合せください！

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全自動多目的X線回折装置: XRDynamic 500

全自動多目的X線回折装置: XRDynamic 500

最上位精度の全自動多目的X線回折装置

XRDynamic 500は、卓越したXRDデータ品質と最大限の効率性を実現します。粉末XRD、非大気下XRD、PDF解析、SAXSなどの最適なソリューションにより、幅広いアプリケーションをカバーする多目的プラットフォームを活用できます。 直感的な操作性と、完全に自動化された光学系のアライメントルーティンにより、初心者から熟練者まで、誰もがエラーを最小限に抑えながら、最高品質のXRDデータを迅速に収集することができます。

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[EBSD]電子後方散乱回折法

[EBSD]電子後方散乱回折法

容易に広い領域の結晶情報を得ることが可能

EBSDを利用して結晶性試料の方位解析ができる手法です。 電子回折法より容易にかつ広い領域の結晶情報を得ることができます。 EBSP：Electron Backscatter Pattern、SEM-OIM、OIMとも呼ばれます。 ・単一結晶粒の面方位の測定が可能 ・測定領域の配向測定が可能 ・結晶粒径観察が可能 ・双晶粒界（対応粒界）観察が可能 ・特定結晶方位の抽出が可能 ・隣接結晶粒の回転角の測定が可能 ・透過法により10nm以上のグレインを評価可能

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［ED］電子回折法

［ED］電子回折法

EDは、電子線を試料に照射することで得られた回折パターンから結晶構造を調べる手法です

EDは、電子線を試料に照射することで得られた回折パターンから結晶構造を調べる手法です。 ・物質の結晶学的情報が得られます。 透過電子顕微鏡の場合、単結晶では規則正しく並んだ回折斑点(スポット)、多結晶では同心円状の円環、非晶質ではブロードな円環状の電子回折図形となります。 ・透過電子顕微鏡で観察される微小領域の結晶構造を調べることができます。 ・結晶構造とEDX法での元素分析結果とを組み合わせることで、結晶性を有する物質を特定することも可能です。

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【分析事例】IGZO膜の局所結晶構造解析

【分析事例】IGZO膜の局所結晶構造解析

電子回折で結晶性・配向性を連続的に評価

IGZO膜はディスプレイ用TFT材料として研究開発が進んでいる材料です。 薄膜中の結晶構造の有無はTFT特性や信頼性に影響する可能性があり、デバイス中における局所的な結晶評価が必要になります。 TEMの電子回折測定を用いてIGZO膜中の結晶構造を連続的に評価した事例をご紹介します。

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【分析事例】XRDを用いた負荷印加前後の金属材残留応力測定

【分析事例】XRDを用いた負荷印加前後の金属材残留応力測定

非破壊で引張・圧縮応力を定量することが可能です

残留応力測定は部材が様々な応力条件下に耐えられるかを調べる重要な方法の一つです。XRD（X線回折法）では、格子面間隔を測定することで残留応力を求めることが可能です。本資料では引張試験用にアルミニウム板の左右をＶ字加工した試料を作製し、引張試験用装置で引張負荷を印加する前後の残留応力の比較および、印加後の試料で残留応力の分布を確認した事例について紹介します。なお、残留応力値はsin2ψ法を用いて求めています。 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。

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【分析事例】X線回折・散乱技術を用いた高分子材料の階層構造評価

【分析事例】X線回折・散乱技術を用いた高分子材料の階層構造評価

ラメラ等の構造解析が可能！WAXS(X線広角散乱法)でも同様の評価ができる

弊団では、X線回折・散乱技術を用いた高分子材料の階層構造評価を 行っております。 両親媒性物質が造り出す高次構造の違いにより皮膚組織に対する保湿性や 浸透性が変化することが知られており、これらの構造を把握することは 材料の機能性を評価する上で重要となります。 ～数nmの構造にはXRD(X線回折法)を、～数十nmの構造にはSAXS(X線小角散乱法)を 用いて、高分子の階層構造を評価した事例を紹介します。 【測定法・加工法】 ■［XRD］X線回折法 ■［SAXS］X線小角散乱法 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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【DL可/EBSD】線材(ばね材)の金属組織 観察

【DL可/EBSD】線材(ばね材)の金属組織 観察

EBSDで金属組織を観察することで材料選定や材料変更の検討がスムーズに行えます

電子線後方散乱回折法EBSD（Electron Backscatter Diffraction Pattern）は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで以下が可能です ・結晶系の異なる相の分離 ・分離相ごとに分布割合や結晶方位解析 本事例では EBSDによる「線材(ばね材)の金属組織観察」を紹介しています ばね材の加工工程（伸線Φ1.00mm、0.07mm）における金属組織変化を調査して、伸線後に金属組織が変化している様子を確認できました この測定技術は、金属材料選定や材料変更時の比較に大いに役立ちます ぜひお試しください なお、弊社ではEBSDとSEMに加え、TEMによる各種断面解析、XPSによる表面分析なども行っており多面的に解析分析を行えます 営業だけでなく技術者も直接対応しますので、お気軽にご相談いただければ幸いです セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/

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【資料DL可/EBSD】EBSD を用いたアルミスパッタ膜の評価

【資料DL可/EBSD】EBSD を用いたアルミスパッタ膜の評価

電子線後方散乱回折法EBSDはアルミスパッタ膜の性能評価や下地材料の選定に役立ちます

電子線後方散乱回折法EBSD（Electron Backscatter Diffraction Pattern）は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで以下が可能です ●微小領域の結晶粒の形状および方位の測定 ●基準方位に対する結晶の配向の確認 ●結晶方位差の情報から材料内部の歪の測定 本事例では 「EBSD を用いたアルミスパッタ膜の 評価」を紹介しています この測定技術は、アルミスパッタ膜の性能評価、下地選択に役立ちます 磁石の方位評価や結晶性があればセラミック材料にも応用可能です ぜひお試しください なお、弊社ではEBSDとSEMに加え、TEMによる各種断面解析、XPSによる表面分析なども行っており多面的に解析分析を行えます 営業だけでなく技術者も直接対応しますので、お気軽にご相談いただければ幸いです セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/

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【資料DL可：EBSD】サマリウムコバルト磁石のEBSD 測定

【資料DL可：EBSD】サマリウムコバルト磁石のEBSD 測定

SEMとEBSDによって磁石の方位分布がわかり、製品の性能や経年による変化などを把握できます。

電子線後方散乱回折法EBSD（Electron Backscatter Diffraction Pattern）は走査電子顕微鏡SEMと組み合わせることで材料の結晶方位分布を把握できます 本事例では「サマリウムコバルト磁石のEBSD 測定」を紹介しています この技術を各種磁石の性能評価、性能向上に役立てているお客様が多数いらっしゃいます ぜひPDF資料をご覧ください なお、弊社ではEBSDとSEMに加え、TEMによる各種断面解析、XPSによる表面分析なども行っており多面的に解析分析を行っております 営業だけでなく技術者も直接対応しますので、お気軽にご相談いただければ幸いです セイコーフューチャークリエーション 公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/

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『X線回折試験』

『X線回折試験』

環境粉じんの定量分析にも最適！高温下での測定も可能なＸ線回折装置！

『X線回折装置』は、回折したX線の角度やX線強度を測定することによって、 結晶構造つまり物質名を調べる装置です。 定性分析時の回折位置や積分強度から、リートベルト解析法による物質ごとの 定量分析も行うことができます。 また、高温下（常用で室温～1300 ℃）での測定も可能です。 【試験項目】 ■結晶構造の同定、定量分析 ■結晶格子の大きさや格子ひずみ測定 ■環境粉じんの定量分析 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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RHEEDユニット『PHD-30K-034』

RHEEDユニット『PHD-30K-034』

30kV対応かつコンパクトな制御電源！1Pa台まで使用可能な差動排気設計

『PHD-30K-034』は、超真空下で加速収束された電子線を基板に照射し、 表面キャラクタリゼーションを行うための反射高速電子線回析システムです。 コンパクトサイズでICF34フランジマウントの電子銃は、その小ささから 取り付けやメンテナンスが容易。 また、標準的な回折像観察に加えて、オプション追加により高圧条件下での 測定またはサンプル面内スキャン機能を実現することができます。 【特長】 ■30kV対応かつコンパクトな制御電源 ■1Pa台まで使用可能な差動排気設計 ■2段差動排気（オプション）により100Pa台でのモニター可能 ■スキャンコイル（オプション）による電子線スキャニングで、 　同一条件での多数回折が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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高温時の物質形態変化の観察（高温X線回析測定）

高温時の物質形態変化の観察（高温X線回析測定）

測定温度の間隔を細かくすることで、⽣成する温度も知ることが可能！高温X線回析測定をご紹介

物質は、加熱や冷却により化合形態や結晶構造が変化し、高温X線回折装置に より観察することができます。 当社所有の装置では、半導体検出器による超高速（数分）の測定、 室温から1200℃までの測定などが可能。また、昇降温速度、 保持時間を設定できます。 塩化カリウム（KCl）と塩化亜鉛（ZnCl2）を混合して、温度を変化させて 測定した例では、塩化カリウム（融点776℃）と塩化亜鉛（融点365℃）から 低融点物質（K2ZnCl4）が比較的低温で生成することが判りました。 【所有装置の特長】 ■半導体検出器による超高速（数分）の測定が可能 ■室温から1200℃までの測定が可能 ■昇降温速度、保持時間を設定できる ■各種ガス雰囲気での測定が可能（腐食性ガス、有害性ガスは不可） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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X線回析装置のご紹介

X線回析装置のご紹介

２次元検出器や多軸ステージの導入により材料分析メニューが充実しました

この度、当社では新たにＸ線回折装置を導入いたしました。 この装置は、大型２次元半導体検出器や大型多軸ステージを搭載し、 従来に比べ高効率、高精度の分析が可能になりました。 これにより粉末を対象とした分析に加え、 金属部品の微小部測定や高配向材料（結晶方位が制御された材料） の解析など、材料分析への適応範囲が拡大しました。 ここでは、腐食調査に関する分析例や新たに測定可能になった結晶方位解析に 関する分析事例をご紹介します。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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XRDによるハイドロキシアパタイト顆粒の化合物同定

XRDによるハイドロキシアパタイト顆粒の化合物同定

大気下も含め、様々な環境下での測定が可能！内部に埋もれた物質の測定も可能

当社で行う「XRDによるハイドロキシアパタイト顆粒の化合物同定」について ご紹介します。 構成元素は同じで性状の異なる化合物は数多く存在します。例えばリン酸 カルシウムと呼称される化合物は多く存在し、薬用成分としても用いられる ハイドロキシアパタイト(HAp)もその一種ですが、元素分析では原則として 化合物種までは識別できません。 X線回折(XRD)では結晶構造同定により、構成元素が同じ化合物の識別が可能です。 【特長】 ■原子の周期性を検出 ■XRDパターンのデータベースとの照合などにより、 元素分析だけでは 　困難な化合物の同定が可能 ■リートベルト法が適用できる場合など、結晶相の定量が可能な場合もある ■絶縁物・有機物の測定が可能(非破壊分析) ■測定領域は、サブmm～数cm ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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蛍光バックグラウンドを根本から解決するXRD装置 鉄含有サンプル

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粉末X線回折装置XRDynamic 500は、X線管の交換と新しいシステムセットアップの完全自動アライメントを簡単に行えます

XRDynamic 500は、卓越したXRDデータ品質と最大限の効率性を実現します。粉末XRD、非大気下XRD、PDF解析、SAXSなどの最適なソリューションにより、幅広いアプリケーションをカバーする多目的プラットフォームを活用できます。 直感的な操作性と、完全に自動化された光学系のアライメントルーティンにより、初心者から熟練者まで、誰もがエラーを最小限に抑えながら、最高品質のXRDデータを迅速に収集することができます。 ラボ用装置を使った X 線回折測定は、通常、Cu-Kα 線を用いて行われます。しかし、サンプルに鉄が含まれる場合は、蛍光 X 線が原因でバックグラウンドが高くなり、サンプルからの回折強度が見えにくくなってしまいます。このようなサンプルには波長の異なる適切な X 線源を選択することで、蛍光バックグラウンドを根本から解決し、短いスキャン時間でも高品質のデータを得ることができます。

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  • 回折装置

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【XRD装置】定性・定量分析を改善する自動・真空型X線光学系

【XRD装置】定性・定量分析を改善する自動・真空型X線光学系

最上位精度の全自動多目的X線回折装置による定性・定量分析

XRDynamic 500は、卓越したXRDデータ品質と最大限の効率性を実現します。粉末XRD、非大気下XRD、PDF解析、SAXSなどの最適なソリューションにより、幅広いアプリケーションをカバーする多目的プラットフォームを活用できます。 直感的な操作性と、完全に自動化された光学系のアライメントルーティンにより、初心者から熟練者まで、誰もがエラーを最小限に抑えながら、最高品質のXRDデータを迅速に収集することができます。 X線光学系を正しく選択すれば、XRDデータの品質を大幅に向上させ、定量・定性分析を容易にし、回折データに潜む重要な情報を見落とさずに実験を進めることができます。

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