エスジーテック IGBTバーンイン検査装置（自動車関連）
自動車関連向けカスタム検査装置の製造が可能です。
・356個のモジュールを同時検査 ・棚を引き出しモジュールをセット、棚へ押し込む 際に機構的にプローブコンタクト。 ・125度の温度負荷 ・Varm:４８０V／VGE ０V ・漏れ電流 100μA未満を検査 ・昇温2時間→検査2時間→降温2時間
- 企業：エスジーテック株式会社
- 価格：応相談
検査装置(igbt) - 企業と製品の一覧
更新日： 集計期間:2025年03月26日～2025年04月22日
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製品一覧
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ウェーハチップ単体用動特性検査装置
チップ単体でのパワーデバイスを測定する動特性検査装置です。 ウェーハ状態での検査装置も多くの実績があります。
各種半導体（IGBT、P-MOS FET、SiC、GaN、Diode等）のウェーハチップ単体を対象とした動特性測定装置（AC特性測定装置）です。チップ単体での出荷検査や受け入れ検査をはじめ、パッケージ封止前の工程での動特性検査が可能になります。
- 企業：コペル電子株式会社
- 価格：応相談
パワー・モジュール用動特性検査装置
モジュールとしてパッケージングされたパワーデバイスを測定する動特性検査装置です。
１台でスイッチングタイム、ＶＣＥ（ＳＵＳ）、負荷短絡測定を実現 高温／低温環境下での動特性（AC特性）測定に最適 コペル電子独自のノウハウにより低Ls測定が可能 加熱／冷却用チャンバー付きも可能
- 企業：コペル電子株式会社
- 価格：応相談
パルス出力基板電圧波形検査装置
パルス波形が自由に出力可能!!測定波形もモニタ上でキレイに再現!!
・PCモニタ上で検査ステップの編集、組替えが可能 ・パルス出力の波形パターン、電源電圧を変えた検査ステップを組合わせた検査が可能 ・パルス波形は任意のパターンが出力可能 ・熱抵抗は専用の測定器を採用し、高精度を確保（熱抵抗計とはGPIBで通信） ・すべての検査結果をログファイルに保存可能 ・測定波形をPCモニタ上で見ることができる ・Windows PCを採用しているので操作もわかりやすい ・2ch同時に測定し、測定波形の相互関係からの判定も可能
- 企業：コスモテック株式会社
- 価格：応相談
パワーデバイス用チップ外観検査装置『CI4000』
狙った欠陥を確実にキャッチ！パワーデバイス用チップの欠陥検査を高精度で自動化
『CI4000』は、全6面検査自動化により、目視検査レスを実現した パワーデバイス用チップ外観検査装置です。 上面・下面検査は、マルチアングル照明＋複数枚撮像で 様々な欠陥モードに適した検査画像を取り込みます。 また、側面検査ではXYθズレによる焦点ズレをワーク毎に補正し、 ジャストフォーカスで微細な欠陥を確実に検出します。 【特長】 ■全6面の微細欠陥を自動検査 ■最大25Mpixカメラによる高分解能・高解像度検査 ■オリジナルシームレス・7チャンネル マルチアングル照明 ■Min10msec/画像取込→検査モード毎に複数枚を連続取り込み ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社安永 本社
- 価格：応相談
パワーデバイスチップ用 外観検査装置
欠陥検査を高精度で自動化！全６面検査自動化により、目視検査レスを実現！
パワーデバイス用チップの欠陥検査を高精度で自動化した外観検査装置です。 全6面検査自動化により、目視検査レスでの2D高精度欠陥検査を実現しました。(対象製品：IGBT用チップ・パワーダイオード用チップ等） 側面検査では、XYθズレによる焦点ズレをワーク毎に補正し、ジャストフォーカスで微細な欠陥を確実に検出。上面・下面検査では、マルチアングル照明＋複数枚撮像で様々な欠陥モードに適した検査画像を取り込み、狙った欠陥を確実に検出します。 【特長】 ■高解像度：最大25Mpixカメラによる 高分解能・高解像度検査 ■好適な照明環境：マルチアングル照明 ■高速制御・取り込み：欠陥モード毎に最適画像を複数枚を連続取り込み ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：日精株式会社 本社
- 価格：応相談
モジュール用静特性検査装置
モジュールとしてパッケージングされたパワーデバイスを測定する静特性検査装置です。
各種パワーモジュールを対象とした静特性（DC特性）測定器です。 微小電流から大電力まで対応。
- 企業：コペル電子株式会社
- 価格：応相談
チップ単体用静特性検査装置
チップ単体でのパワーデバイスを測定する静特性検査装置です。 ウェーハ状態での検査装置も多くの実績があります。
チップ単体での静特性（DC特性）試験装置です。 微小電流から大電力まで対応。
- 企業：コペル電子株式会社
- 価格：応相談
マルチフォーカスX線検査装置『Cheetah EVO』
【ネプコン出展（小間番号11-26）】半導体、電子部品の製造現場で活躍。3つのモード切替とモノクロ65 536階調の表現に対応。
『Cheetah EVO』は、半導体や電子部品を生産する現場で 幅広い用途に使用できる「マルチな」X線検査装置です。 ナノフォーカス、マイクロフォーカス、ハイパワーモードを切り替えられ、 電子部品、樹脂部品、ゴム部品、金属部品の観察はもちろん、実装基板も解析も容易。 160×160mmの視野に対応し、モノクロ65 536諧調を出力できます。 製造部門、品質保証部門、開発部門などで幅広く活用する高い汎用性により、 半導体・電子部品工場のほか、エレクトロニクス業界の受託解析会社でも活躍中です。 ★2023年1月25日より開催の「インターネプコン ジャパン」に出展します。 【特長】 ■高速で再現性のある検査が可能 ■VoidInspectによるボイドの自動計算 ■eHDRなどの使いやすい力強いフィルター ■micro3DsliceとFF CTソフトウェアによる最良のラミノグラフィー ■線量低減キット、線量モニタリング、高感度部品用低線量検出器モード ■オプションの新型水冷式X線管で安定した焦点位置を実現 ■オプションで高耐荷重（20kg未満）を選択可能
- 企業：コメットテクノロジーズ・ジャパン株式会社 コメット・エクスロン事業部
- 価格：応相談
IGBT/SiC パワーモジュール検査装置『NATSシリーズ』
低LS 4.5nH！ニデックアドバンステクノロジーの検査装置をご紹介
当社で取り扱う、IGBT/SiC パワーモジュール検査装置『NATS Series』を ご紹介いたします。 低LS値を実現し、高精度検査に対応した絶縁/静特性/動特性自動検査装置 「NATS-1000」と、外部PCやcloud等の上位データ管理システムとの連携が 可能な動特性手動検査装置「NATS-1630/1730」をラインアップ。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ＜NATS-1000＞ ■絶縁検査(ISO) ■静特性検査(DC) ■動特性検査(AC) ■高温検査～175℃(～200℃) ■高スループット最大144UPH(25秒/ユニット) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- 企業：ニデックアドバンステクノロジー株式会社 本社、東京営業所、名古屋営業所
- 価格：応相談
パワーモジュール検査装置『NSAT Series』
ワイドバンドギャップな計測技術！最大144UPHの高スループット検査を実現
当社で取り扱う、IGBT/SiC パワーモジュール検査装置『NSAT Series』 をご紹介いたします。 「NATS-1000」は、絶縁/静特性/動特性 自動検査装置。 自動ライン拡張可能で、IEC60747準拠測定。 「NATS-1630/1730」は、動特性手動検査装置で、外部PCやcloud等の 上位データ管理システムとの連携が可能となっております。 【NATS-1000 特長】 ■高温検査～175℃(～200℃) ■高スループット最大144UPH(25秒/ユニット) ■低LS 4.5nH ■自動ライン拡張可能 ■IEC60747準拠測定 ■AOI/そり検査/レーザーマーキング ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- 企業：ニデックアドバンステクノロジー株式会社 本社、東京営業所、名古屋営業所
- 価格：応相談
