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実動作での検査および解析や他の部品を全て実装状態での評価試験を可能にします！
東洋電子技研株式会社で取り扱う、『実機基板上IC検査用ユニット治具』 をご紹介します。 「実装基板上でのIC検査治具」は、ICの性能評価を行う際、他の部品を 全て実装状態で評価試験が可能。 「高機能基板検査用治具」は、基板上のICソケットのプローブの信号を 2分岐することにより、実動作での検査および解析を行えます。 詳細については、ぜひ関連リンクをご覧ください。 【特長】 ■実装基板上でのIC検査治具 ICの性能評価を行う際、他の部品を全て実装状態で評価試験が可能となる ■高機能基板検査用治具 基板上のICソケットのプローブの信号を2分岐し、実動作での検査および 解析を可能にする ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基板の機能検査に使用する治具！お客様の仕様に合わせて製作いたします
東洋電子技研株式会社で取り扱う、『ファンクションテスター用治具』を ご紹介いたします。 機器の駆動装置は、エアーシリンダ―やサーボモーターの制御にPLCや 電子回路を使用し、好適な検査環境を実現。 基板の機能検査に使用する治具で、お客様の仕様に合わせ製作致します。 詳細については、ぜひ関連リンクをご覧ください。 【特長】 ■機器の駆動装置はエアーシリンダ―やサーボモーターの制御にPLCや 電子回路を使用し、好適な検査環境を実現 ■それぞれ検査機種に合わせ設計されたオリジナル品もご用意 ■適切な接触子を選んでプローブユニットを確実な物に製品化 ■電気検査の要と言われる検査ユニットを含め検査装置（機器）と 合わせてご提供 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
幅広い設計自由度、メンテナンス性！自動機の試験ユニットとして評判の製品などをご紹介！
『デバイス検査用ユニット治具』は、ファインピッチデバイス、コネクタ、 測定器付きモジュール、信号リレー等様々な検査用途に対応致します。 中でも「ファインピッチデバイス」は、当社のベア基板検査治具のノウハウ、 独自のコンタクト技術、オリジナルプローブピン搭載から生まれたユニット。 幅広い設計自由度、メンテナンス性に優れ、自動機の試験ユニットとして 多くのお客様から評判をいただいております。 【特長】 ＜ファインピッチデバイス検査ユニット＞ ■デバイス実装ピッチ0.3mmやルビン四端子測定、コネクタ製品の 耐圧試験等に幅広く対応 ＜コネクタ検査用ハンドラー取付治具＞ ■0.3mmピッチなどのファインピッチで、精度の高い安定した コンタクトが得られる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
自社オリジナルプローブピン使用！安定した電気接続、優れたメンテナンス性、耐久性を実現
東洋電子技研株式会社で取り扱っている『プリント基板検査用治具』を ご紹介いたします。 接触接点技術、5層ハウジング構成、自社オリジナルプローブピンにより、 安定した電気接続、優れたメンテナンス性、耐久性を実現。 高密度基板検査用治具の「V-500シリーズ」や「V-600シリーズ（セパレート方式）」、 高機能基板検査用治具の「V-4000FB」をラインアップしています。 詳細については、ぜひ関連リンクをご覧ください。 【特長】 ＜V-500シリーズ＞ ■先端部の振れを抑える構造で、コンタクト位置精度が極めて高精度 ■接触接点技術及び、5層ハウジング構成によりプローブピンの 交換メンテナンスを容易にし、製作時の短納期化も実現 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
