実動作での検査および解析や他の部品を全て実装状態での評価試験を可能にします!
東洋電子技研株式会社で取り扱う、『実機基板上IC検査用ユニット治具』 をご紹介します。 「実装基板上でのIC検査治具」は、ICの性能評価を行う際、他の部品を 全て実装状態で評価試験が可能。 「高機能基板検査用治具」は、基板上のICソケットのプローブの信号を 2分岐することにより、実動作での検査および解析を行えます。 詳細については、ぜひ関連リンクをご覧ください。 【特長】 ■実装基板上でのIC検査治具 ICの性能評価を行う際、他の部品を全て実装状態で評価試験が可能となる ■高機能基板検査用治具 基板上のICソケットのプローブの信号を2分岐し、実動作での検査および 解析を可能にする ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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東洋電子技研株式会社は創立37年以来、電子デバイス検査ユニット治具の 専門メーカーとして、お客様のニーズにお応えしております。 常に難易度の高い製品造りに挑戦し、お客様に満足頂ける「高品質」の製品 造りを目指しておりますので、ご要望の際はお気軽にお問い合わせ下さい。