通信帯対応 光学トランシーバー試験用波長計
通信波長帯対応 光学トランシーバー試験用波長計
高精度・高速・低コストを実現する光トランシーバー試験用波長計です。実績ある干渉計ベースの技術を採用し、トランシーバーの波長を最大 ±0.3 pm の精度で正確に測定します。高速測定で試験効率を高め、生産スループットを向上。通信帯を幅広くカバーしつつ、高速性とコストパフォーマンスを両立しており、WDM伝送システム、データセンター、3Dセンシング、LIDAR 用途に最適です。
- 企業:株式会社日本レーザー
- 価格:応相談