ドーム照明
凹凸表面と反射である表面の検査へのいいチョイス
製品特徴 特別の拡散板を使う ドーム構造の照明 凹凸表面と反射である表面の検査へのいいチョイス
- 企業:SBS Vision Solution
- 価格:応相談
更新日: 集計期間:2025年03月26日~2025年04月22日
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凹凸表面と反射である表面の検査へのいいチョイス
製品特徴 特別の拡散板を使う ドーム構造の照明 凹凸表面と反射である表面の検査へのいいチョイス
★エコノミータイプ直線ドーム照明★
●ドーム内部に照射された光が反射され、影を作らず検査対象物を均一に照射できるLED照明です。 ●パワーLEDを採用したエコノミータイプLED直線ドーム照明です。 ●鏡面、非鏡面をはじめ凹凸のあるワークの検査にも最適なLED照明です。 ●印刷物検査、ウェハー検査、ガラス検査、シート検査、金属外観検査などに最適なラインセンサー(ラインカメラ)用LED照明(LED直線ドーム照明)です。 ●直線同軸落射照明(LED照明)との組み合わせも可能です。
★エコノミータイプ直線ドーム照明★
●ドーム内部に照射された光が反射され、影を作らず検査対象物を均一に照射できるLED照明です。 ●パワーLEDを採用したエコノミータイプLED直線ドーム照明です。 ●鏡面、非鏡面をはじめ凹凸のあるワークの検査にも最適なLED照明です。 ●印刷物検査、ウェハー検査、ガラス検査、シート検査、金属外観検査などに最適なラインセンサー(ラインカメラ)用LED照明(LED直線ドーム照明)です。 ●直線同軸落射照明(LED照明)との組み合わせも可能です。
文字・印刷検査、汚れ・欠陥検査用途向けのLED照明です。 PWM点灯制御方式は低発熱でLED素子への熱負担が軽減されます。
ライン・バータイプのLED照明をスクエアに配列、照射角度を任意に変更可能です。 ※一部製品は照射角度変更が不可 【ラインナップ】 ■スクエアタイプ HDSPシリーズ ※点灯させるには別途電源が必要となります。
滑らかな表面でのスクラッチ検査へのいいチョイス
製品特徴 高密度LEDsを使う 高輝度と高均一性 特別コーティングミラーを使う 滑らかな表面でのスクラッチ検査へのいいチョイス
優れた均一性、反射が強いワークの表面検査へのベストチョイス
製品特徴 特別の導光方法、高均一性 反射が強いワークの表面検査へのベストチョイス
高照度、高均一、コンパクト筐体を実現した擬似同軸落射照明
ハーフミラーを用いてカメラ軸と同じ軸で照射可能。 正反射での検査が可能なので表面の微細な傷の検査や印字、文字検査に有効。 基板のパターン検査やコネクタのピンのピッチ計測など幅広い用途に利用可能。
疑似同軸・ストレート疑似同軸で均一照射照明 ・
鏡面ワークに最適 ハーフミラーを用いてカメラ軸と同じ軸で照射可能。 正反射での検査が可能なので表面の微細な傷の検査や印字、文字検査に有効。 基板のパターン検査やコネクタのピンのピッチ計測など幅広い用途に利用可能。
【デモ機貸出OK】透明・半透明な化合物半導体ウェハ検査や非透明シリコンウエハ面上の欠陥検査、光学レンズの傷検査に適した照明です。
スタンドとシャフトの組合せにより、フレキシブルなライティングを実現します。 標準搭載のズームレンズで検査条件に合わせた照射エリアでの目視検査が可能です。 ■透明・半透明な化合物半導体やウェハや非透明なシリコンウェハのマスク面上の欠陥検査、ガラスやレンズの傷検査の効率が大幅アップします。 ■照射角度や高さを任意に設定できコンパクトサイズも実現しました。 ■電球色LEDの採用によりハロゲンランプからの置き換えも可能です。 ■ファンレスにより、粉塵を嫌うクリーンルーム環境での仕様が可能です。 ■各種交換レンズ・フィルターをラインナップしております。 詳細はカタログをダウンロードください。
導入事例・用語集付き!塗装・メッキなどのキズ・ブツ不良検査・凸凹の外観検査照明 総合カタログ
LEDはある程度の指向性を持った光を放ちます。この性質を利用して光を当てることにより、今まで見えづらかった異物・キズ・凹凸が鮮明に見え、不良低減に役立ちます。 外観検査の工程で不良を見つけやすくする為に、蛍光灯を増やして明るくしているの場合が多いのが現状ですが、本当に欲しい光には様々なものがあり御用途に合った光を提案します。 外観不良検査・目視検査で使用する照明をラインナップしています 【掲載製品】 ■LEDフラットライトポータブル/ワイド ■LEDフラットライト/ワイド ■ライトボードPRO2 ※詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。
リング照明IMAR-Dシリーズの半分割タイプの照明 リング照明を設置できない環境への対応が可能
ワーク形状、設置環境に合わせたライティングを実現 1台でハイアングルからローアングルまで、細かいポジションから照射し外観検査・印字検査・欠陥検査が可能なIMAR-Dシリーズを半分割タイプの照明。
高照度、高均一、コンパクト筐体を実現した擬似同軸落射照明
ハーフミラーを用いてカメラ軸と同じ軸で照射可能。 採用しているハーフミラーの改良により、IFVAシリーズと比べて解像力が大幅に高くなりました。 正反射での検査が可能なので表面の微細な傷の検査や印字、文字検査に有効。 基板のパターン検査やコネクタのピンのピッチ計測など幅広い用途に利用可能。