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屈曲部の配線に歪みが蓄積している個所などが分かる、EBSD解析をご紹介します！
フレキシブル基板（FPC）のEBSD解析をご紹介します。 可動部や折り曲げ機構がある製品に使用されるフレキシブル基板について、 屈曲部と固定部でCu配線に違いがあるかEBSDによる確認を実施。 その結果、光学像では屈曲部と固定部の配線に顕著な異常や差異は 確認できないが、EBSD解析では、屈曲部の配線に歪みが蓄積している個所や、 小傾角粒界が集中している個所が存在していることが分かりました。 【解析内容】 ■フレキシブル基板外観とCu配線光学像 ・フレキシブル基板外観 ・屈曲部の配線 ・固定部の配線 ■EBSDによる屈曲部と固定部のCu配線比較 ・屈曲部の配線 ・固定部の配線 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
試料表面で生じる電子線後方散乱回析により金属など結晶性材料の結晶方位・粒径・歪み分布などに関する情報を取得することが出来ます。
EBSD分析とは、SEM（走査電子顕微鏡）と組み合わせて、金属結晶粒子の方位、微粒子化を解析する事で、問題点を顕在化させ、 設計・プロセス・材料の改善や、品質トラブルの未然防止に役立てることが出来ます。 また、 信頼性試験と組み合わせることにより、評価初期段階での歪み発生箇所の解明、破壊メカニズムの解明などに役立ちます。 【マッピングの例】 ■IQマップ パターンの良否により結晶性の良し悪しを表します。 IQ値は試料断面加工の精度良否の指標として用いられます。 ■IPF（結晶方位）マップ 試料座標系を設定し、結晶面がその方向に向いているかを表したものです。 ■Grainマップ 基準方位差を指定し、隣り合う測定点同士の方位差が基準より大きく、粒子として閉じていれば、 異なる結晶粒とみなし、異なる色を付けます。 ■KAMマップ 微視的方位変化、局所方位差を表します。 ■GRODマップ Grainマップで定義された粒子1つ1つに対し、微小な方位変化を求め、 印加されている残留応力を粒子毎に求める場合に用いります。 ※詳細は下記までお問い合わせください。
簡単で使いやすい！AM/FM/φM復調器のご紹介
『R&S FPL1-K7』は、「R&S FPL1000」を振幅 、周波数および位相変調 信号用のアナログ変調アナライザに変換する復調オプションです。 変調の特性だけでなく、残留FMや同期変調などの係数も測定可能。 ユーザは、ローパス、ハイディエンファシス、および 重み付けフィルタから選択できます。 【特長】 ■R&S FPL1000の復調オプション ■簡単で使いやすい ■振幅 、周波数および位相変調信号用のアナログ変調アナライザに変換 ■残留FMや同期変調などの係数も測定可能 ■ローパス、ハイディエンファシス、重み付けフィルタから選択可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
透明体の位相差、複屈折、内部歪みを簡単・高速に測定！多彩な解析が可能
当社では、光学材料の品質向上と機能向上に貢献する、 2次元複屈折評価システム『PA/WPAシリーズ』を取り扱っていおります。 「WPAシリーズ」は、大きな位相差の面分布測定を可能にします。 「PAシリーズ」は、低歪みの測定対象を高精細に測定することが可能。 また、可視光で不透過で近赤外光に透過特性を有する特殊窓ガラスや 樹脂カバーなどの、品質管理、プロセス開発に向いている「NIRシリーズ」 もございます。 【ラインアップ(抜粋)】 ■WPA-300 ■WPA-micro ■PA-300 ■PA-300-XL ■PA-300-NIR/WPA-200-NIR ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
