解析(走査型電子顕微鏡) - 企業4社の製品一覧

パナソニック　ReRAM　8bitマイコン　構造解析

パナソニックReRAM搭載MN101LR05D　8bitマイクロコントローラ

MN101LR05Dはポータブルヘルスケア、セキュリティ装置、センサー処理用と向けに開発された低消費電力の8bitシングルチップマイクロコントローラです。MN101LR05DはCPUコアが10MHz　8bitのAM13Lで６４KBのReRAM容量と４KBのSRAM容量を特徴としています。 MR101LR05Dは世界初の量産化されたReRAM(Resistive RAM:抵抗変化型メモリー）の実用例であり、既存の不揮発性メモリーの後継技術として多く活用されるとみられています。 MN101LR05Dは180nm　CMOSプロセスに４層のAIメタライゼーションを使用して製造されています。この金属酸化物のReRAMセルはメタル3から４に接続するスタックWビアの間に形成されます。レポートの結果は走査型電子顕微鏡（SEM)、透過型電子顕微鏡（TEM)、エネルギー分散型X線分析（TEM-EDS）、電子エネルギー損失分光法（TEM-EEKS）、および拡がり抵抗測定（SRP)のデータによるものです。

企業：テックインサイツジャパン株式会社（TechInsights）
価格：100万円 ~ 500万円

その他電子部品

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不良解析サービス

多様な解析手法と適宜対応で製品の品質向上に役立つサービスをご紹介

当社では、他社の製品サンプルを含め、様々な不良に対する詳細な不良解析サービスを行っております。広範囲に及ぶ多様な解析手法を用いて、不良の原因を詳細に調査します。 FTIR（フーリエ変換赤外分光法）などの専門的な材料解析技術を利用し、材料自体の問題や不具合を特定することも可能です。また、必要に応じて工業試験所などの外部設備を利用し、社内設備で対応できない特殊な解析も可能です。依頼内容や製品の状況を詳細に伺った上で、特に不良が発生しやすいと予測される部分を集中的に解析します。【サービス事例】 ■LED製品解析 ■ワイヤーボンド接合部解析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。　

企業：株式会社佐用精機製作所
価格：応相談

解析サービス
受託解析
その他解析

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【STEM/EDS】Auめっきされたコネクタ端子接点不良解析

STEMでめっきされたコネクタ端子表面の付着物層(20nm程度)の”表面を保護するサンプリング法”により損失なしで確認可能です

STEM(走査型透過電子顕微鏡 )とEDS(エネルギー分散型Ｘ線分析装置)では細く絞った電子線を試料上で走査することで、試料の組成に関する情報（原子番号を反映したコントラスト像）が取得できます。以下の特長もあります。・電子線の入射角度を変えることで、回折コントラストの変化を観察・観察対象が結晶質であるかの判断・結晶内にある結晶欠陥（転位、双晶等）の情報の獲得本事例では「STEMによるAuめっきされたコネクタ端子接点不良解析」を紹介します。ぜひPDF資料をご一読ください。また、弊社では本STEMに加えTEM、SEM各種断面解析を行っております。お気軽にご相談いただければ幸いです。セイコーフューチャークリエーション公式HP https://www.seiko-sfc.co.jp/ ※その他の資料もあります。問い合わせボタンからご用命いただければ送付いたします。

企業：セイコーフューチャークリエーション株式会社
価格：応相談

めっき装置
受託解析
その他金属材料

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マイグレーション現象に対する環境試験・観察・解析

観察・解析のみの対応も可能！必要に応じて組合わせたプランをご提案

当社では、基板故障の大きな要因になるマイグレーション現象に対し環境試験・観察・解析によりトータルでご提案します。初期観察や環境試験、専用冶具を使用しての実装済み部品の素子剥がし、試験後の観察・撮影など、必要に応じてプランを組み合わせます。観察・解析を取り扱う品目については、電子部品や一般の電子機器が多数を占めますが、様々なマイグレーションの発生状況に対応してご提案可能です。ご要望の際は当社までお問い合わせください。【プラン】 ■初期観察：蛍光実体顕微鏡、蛍光金属顕微鏡など ■環境試験：高温高湿槽、プレッシャクッカ　各試験 ■必要に応じて、専用冶具を使用しての実装済み部品の素子剥がし ■試験後、イオンマイグレーション発生の有無チェック ■必要に応じて、走査型電子顕微鏡(SEM)などを使用しての詳細調査 ■観察・分析結果のまとめ、報告書作成 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。