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実績多数のアントンパールのレオメータMCR(e)シリーズとラマン分光計Cora5001Fiberの組合せで複合評価を実現
【レオメータMCR(e)シリーズ＋Cora5001 Fiber の特長】 ■リーズナブルな価格 ■モジュラー構造のため、セットアップが簡単 ■スタンドアローンでも使用可能 ■MCR xx2シリーズレオメータ（MCR 302を推奨） ■プローブ位置はリニアテーブル付属のホルダで微調整可 ■下部ガラスプレート付き温調デバイス ■マイナス20 ～200 °C (ペルチェ温調装置) ■最高 300 °C (電気温度制御) ■ディスポーザブルプレートも使用可 ■レオメータによる物理特性だけでなく、化学構造的変化をモニタリング ■532・785・1064nmを選択可能 ■石英プレートなのでシリカバックグランドの補正が不要 ■UV硬化、(蛍光)顕微鏡、小角光散乱(SALS)、偏光イメージングにも取替え が容易
鉛筆硬度試験に代わる傷つき易さの定量化
「ナノスクラッチテスタ(NST3)」 を用いて、スマートフォン用の液晶保護フィルムのスクラッチ試験を実施。 数種類の携帯電話用保護フィルムを用意して同じ条件にてスクラッチ試験。 スクラッチ後のパノラマ写真観察による剥離荷重から傷のつきやすさを定量化。 独自のプレスキャンポストスキャン機能によりフィルムの傷修復も数値化。 鉛筆硬度測定との比較、より詳しい定量化が可能。 ナノスクラッチテスタは、特に標準膜厚1000 nm以下の薄膜やコーティングの実際的な密着性評価に最適です。 有機系及び無機系のコーティングや、軟質及び硬質のコーティングの分析に使用できます。 光学用途から、マイクロエレクトロニクス用途、保護膜、装飾膜など様々な用途向けの、薄膜・多層膜のPVD・CVD・PECVD膜、フォトレジスト、塗装、ラッカーなどの膜の評価に利用できます。 金属合金、半導体、ガラス、反射材や有機材料を含む硬質あるいは軟質の基材も評価できます。 鉛筆硬度試験・サイカス・ウール試験・消しゴム試験では困難な定量化を実現します。
セミコンダクタ・スマートフォンなどの研究開発のためのナノインデンテーション試験
エレクトロニクス･半導体産業では製品開発のためにナノインデンテーションテスタによる表面機械特性評価が用いられます。 微小荷重にてダイヤモンド圧子を対象サンプルに押し込むことにより、硬さ・弾性率・粘弾性・貯蔵弾性率・損失弾性率・クリープ率などの物性値を測定することができます。 ナノインデンテーション試験では数百ナノ～数百ミクロンの薄膜や柔らかいポリマーの評価が可能です。 測定例 -スマートフォン等のディスプレイ用有機材料・ポリマーフィルム (絶縁体・光ファイバー・半導体) -磁気記憶媒体 (ハードディスクドライバー) -太陽光発電バックシート -プリント基板のSi3N4及び高誘電率セラミック層 -サファイヤコーティングゴリラガラス アントンパール社製ナノインデンテーションテスタは、特許取得済みの独自のアクティブ表面リファレンスシステムにより、熱ドリフト及びコンプライアンスの影響が実質的に排除されます。 したがって、ポリマーや非常に薄い膜、軟組織などを含むあらゆる種類の材料を長時間測定するのに最適です。
