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外観検査ユニット - 企業4社の製品一覧

製品一覧

1~4 件を表示 / 全 4 件

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卓上型外観検査ユニットKENTABLE-J

生産現場に熟練の検査員はいらない?コンパクト&ローコストな外観検査ユニットで誰でも手軽に定量検査を実現!

KENTABLE-Jはこのようなお悩みを解決すべく誕生いたしました! 目視検査のよくあるお悩み ・人によって検査判断の基準にバラつきが生じる ・客観的な検査履歴が残せない ・人的ミス ・育成や採用が難しい 検査装置のよくあるお悩み ・多品種、小ロット製品のため専用機の導入はコストが合わない ・製品形状が自動検査装置に向いていない ・画像処理の設定が難しい 製品ポイント ・コンパクト&ローコスト  様々な現場に簡単に設置できるコンパクト設計。  更にローコストでありながら検査に役立つ機能が満載!   ・最適な検査設定が組めるようにオリジナルソフトを標準搭載  過検出予測値や検出位置情報などの指標を試算する分析ソフトを使えば  画像処理初心者でも最適な画像設定を導くことが可能です。 ・カスタマイズ性  ワークの形状にあわせて駆動系を3種類用意。  カメラや照明位置も簡単に変更、追加が可能なため様々な検査ワークに対応可能です。 汎用性に優れているため検証機としての導入もおすすめです。

  • 外観検査装置
  • その他画像関連機器

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部品面外観検査ユニット『LADYBIRD』

現場で生まれた虚報ゼロの実用性!様々な検査が可能な外観検査ユニット

『LADYBIRD』は、典型的な部品面検査の他、様々な検査が可能な部品面外観検査ユニットです。 検査方式にはパターンマッチングを一切使用していないほか、独自開発のFuzzicalZエンジンを搭載し、色分析による判定を行うことで、「虚報ゼロ(擬似不良ゼロ)」を実現しています。 また、既存の作業台に取り付けるのみで検査可能なほか、全ての検査画像を保存することもできます。 【特長】 ■検査スピードは、撮像・検査を含めて5秒が基本 ■被写界深度が深く、部品高80mmの電解コン極性も問題無し ■プログラム作成&デバッグで検査端末を止めることがない ■典型的な部品面検査の他、様々な検査が可能 ■既存の作業台に取り付けるのみで検査可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 外観検査装置
  • その他検査機器・装置

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半導体IC 寸法・欠陥用外観検査ユニット『VM-A』

端子や外観寸法検査、異物・キズ等の欠陥検査に適した高精度検査ユニット

高速・高精度な2D/3D検査を、1台に統合した画像検査ユニットです。 弊社検査機だけでなく、ハンドラメーカ様への搭載実績も多数あります。 〇寸法検査機能の特徴 JEITA規格に準拠した半導体 IC寸法検査に対応した検査機能を、標準搭載しています。 【特長】 ■対象製品:表面実装型 ICパッケージ(BGA、CSP、QFP、SOP、QFN、LGA) 、イメージセンサ、センサ製品 等 ■2D寸法項目:全長/全幅、ピッチ、位置度 等 ■3D寸法項目:コプラナリティ、スタンドオフ、反り、全高 等 ■計測取り込み時間 最速50msec以下!装置タクトに影響を与えません! 〇欠陥検査機能の特徴 汎用画像検査ユニットと違い、半導体ICの欠陥検出設定が容易に行えるよう設計されています。 【特長】 ■異物付着、キズ、打痕、バリ等 の検出に対応します。 ■照明を複数切り替え、欠陥モードにあった照明条件を追加可能です。 ■良品バラツキに追従し欠陥検出を行う検査ツールなど、様々なツールが標準搭載されています。 ■複数条件を登録しても装置タクトに影響を与えない、高速処理・演算設計になっています。

  • 三次元測定器
  • 欠陥検査装置
  • 外観検査装置

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AI外観検査ユニット『aiforce-mini』

従来の手続き型システムでは解決が困難だった問題を良品学習AIが解決!

『aiforce-mini』は、良品学習を搭載した新規製造ラインで活躍する AI外観検査装置です。 手のひらサイズでさまざまな装置に組み込み可能、シンプルで簡単に 操作ができる仕組みになっています。 良品を流して学習データを作成すれば、なかなか出ない不良品や未知の 不良品にも対応。設計・コスト削減に役立ちます。 【特長】 ■設定調整コストの削減 ■様々な不良に対応 ■汎用性、学習コストの削減 ■設計・検討コストの削減 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。

  • 外観検査装置

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