近赤外対物レンズ『PElR2000HR 20X・50X』
故障解析で電流リークによる極微弱な発光の検出に威力を発揮いたします
『PElR2000HR 20X・50X』は、2000nmで80%以上の透過率を維持した対物レンズです。 半導体デバイスの故障解析で電流リークによる極微弱な発光の検出に 威力を発揮いたします。 高集積、多層配線化された半導体デバイスを、チップの裏面からシリコンを 透過してくる赤外光で観察が可能です。 ※シリコン補正対応いたしますので、ご相談ください。 【特長】 ■2000nmで80%以上の透過率を維持 ■極微弱な発光の検出に威力を発揮 ■シリコン補正対応可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業:株式会社清和光学製作所
- 価格:応相談