更新日： 集計期間:2025年08月20日～2025年09月16日
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分析項目はご要望に応じて組み合わせ可能！各種抗体の分析などにご活用ください！
当社では、『抗体分離と分離画分の糖鎖構造解析』を行っております。 FcRIIIAカラムによる抗体分析、分取、質量分析によるN型糖鎖構造解析を 受託します。分析項目は、ご要望に応じてどの組み合わせでも可能です。 各種抗体の分析、抗体ロット間差分析、抗体産生細胞培養状態のモニタリング 等に活用いただけます。 【特長】 ■糖鎖構造（ADCC活性）の違いにより抗体を分離・分取 ■各分取画分のN型糖鎖の同定・組成比決定 ■分析項目は、ご要望に応じてどの組み合わせでも可能 ■各種抗体の分析、抗体ロット間差分析、抗体産生細胞培養状態の モニタリング等に活用できる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
シランカップリング剤処理の効果を高める処方を分析結果から導きます！
当社では、分析が難しいnmオーダーの薄い表面/界面層の構造を推定し、 シランカップリング剤の処理条件の最適化に貢献します。 反応液の状態把握や付着量の比較が可能で、複数の分析手法を組み 合わせることで、精度がUP。 シランカップリング剤処理の効果を高める処方を分析結果から導き、 さらに薄膜コーティングなど様々な表面修飾層の分析にも対応します。 【特長】 ■反応液の分析 ■処理表面の分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
材料をマクロレベルから分子レベルに至るまで精密に解析！
当社では、無機化合物の『組成分析・構造解析サービス』を提供しております。 電子材料や半導体、金属、セラミックス、セメント、触媒など 無機材料の元素分析と化合物組成の解析、結晶構造・組織の解析、 熱的性質の解析など広範囲に実施。 無機化合物に対する深い知識と試料の高度な前処理技術をベースに、 材料をマクロレベルから分子レベルに至るまで精密に解析し、 新素材開発に貢献します。 【分析例】 ■精密格子定数の決定 ■温度上昇に伴う相変化の追跡 ■結晶性、配向性、結晶子径の測定 ■反射率解析による多層薄膜構造評価 ■リートベルト法による結晶構造解析 など ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
微小領域のXRD測定が可能
照射X線をΦ400μmに絞ってXRD測定を行うことで、面全体ではなく所定の領域を狙って結晶情報を取得した事例をご紹介します。 プリント基板サンプルのXRD測定の結果、測定箇所（１）～（3）全てでCuとBaSO4が検出され、電極である測定箇所（１）ではAu由来のピークが検出されました。XRFによる測定結果とよく一致しています。 このように組成や結晶性の異なる数百μmの領域を狙って結晶構造を同定することが可能です。 測定法：XRD・XRF 製品分野：LSI・メモリ・電子部品 分析目的：組成評価・同定・構造評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
【無料プレゼント】タンパク質の二次構造の温度依存性に関する解析事例をご紹介
生体を構成する成分は、いずれも生命にとって重要な機能を果たしており、 その中でもタンパク質は多岐にわたる働きを有するため、生命活動の 仕組みを知る上で、その基本的性質の研究が必要不可欠です。 当社の「CONFOCHECK」は、軽水溶液中のタンパク質の定性および定量、 二次構造の変化に関する動的解析を可能にします。 当資料では「CONFOCHECK」による、タンパク質の二次構造の温度依存性に 関する解析事例についてご紹介しています。 【掲載内容】 ■はじめに ■試料、分析システム ■結果 ■まとめ ■参考文献 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
点灯確認、パネル解体、光学顕微鏡観察により、不良発生箇所を絞り込みます！
不良現象の確認から原因の解明、詳細な不良解析まで 液晶パネルの不良診断メニューをご提供いたします。 初期解析では、現状確認(点灯試験)、パネル解体、光学顕微鏡観察、 不良症状に合わせて実施。 詳細解析では、初期解析での診断結果をもとに表面分析、断面解析、成分分析 など好適な手法をご提案いたします。 原因となった生産工程の絞り込みなど不良発生メカニズムの推測も可能です。 【解析内容】 ■初期解析 ・現状確認(点灯試験)、パネル解体、光学顕微鏡観察、不良症状に合わせて実施 ・セルパネルや周辺回路などの大まかな箇所から、細かいところまで絞り込み ■詳細解析(別途解析費用が発生) ・初期解析での診断結果をもとに表面分析、断面解析、成分分析など好適な手法 をご提案 ・原因となった生産工程の絞り込みなど不良発生メカニズムの推測も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
EBSD：電子後方散乱回折法
薄片化した試料でEBSD分析を行うことにより、従来のバルク試料よりも高い空間分解能を得ることができます。
キーとなる革新的なプロセス技術の研究・製造コストの最適化・歩留まりの改善！
プロセスは、デバイスの原価、品質、性能の決定に役立ち、また設計上の欠点を補うことも多くあります。 TechInsightsは、10人のプロセス専門家をスタッフとして抱え、140年以上にわたって蓄積されたデバイス構造解析の集合的専門知識をご提供します。 デバイスにはCMOS、バイポーラ、BiCMOS、GaAs、SiGe、銅、低誘電体、SOI、歪シリコン、MEMS、TFTが含まれますが、これらに限定されるものではありません。 TechInsightsの専門的技術によって収集されたデータを使用し、お客様の製品または競合製品の構造、材料組成、限界寸法、および製造プロセスに関する情報を、プロセス解析レポートとしてご提供します。 【対応問題例】 ○メモリ（フラッシュ、DRAM、SRAM、FeRAM）を論理デバイスに埋め込む方法 ○より進んだプロセス世代に移行する際のリスクを軽減する方法 ○主要競合製品はどのようなトランジスタ性能を持っているか ○RFデバイスはCMOSにどのように組み込まれているか 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。
【要旨】 金属チップ先端などに局在化する近接場光を利用した分光分析技術はナノメートル領域の化学構造の解析を可能にする手法として強く期待されている。チップ増強ラマン分光法や近接場ラマン分光法はその代表的な手法であり、原理解明や応用に関する様々な研究が行われてきた。本稿ではそれらの材料分析への適用例を示し、材料解析に対する実用性について言及する。 【目次】 １．はじめに ２．TERSによるCNTの結晶構造解析 ３．SNOM-RamanによるSiO2/SiC界面応力解析 ４．まとめ
電子回折で結晶性・配向性を連続的に評価
IGZO膜はディスプレイ用TFT材料として研究開発が進んでいる材料です。 薄膜中の結晶構造の有無はTFT特性や信頼性に影響する可能性があり、デバイス中における局所的な結晶評価が必要になります。 TEMの電子回折測定を用いてIGZO膜中の結晶構造を連続的に評価した事例をご紹介します。
技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品質管理等のお役に立つ分析技術の最新情報です。
【要旨】 CNFを扱う研究開発のうち、ほぼすべての材料分野、研究フェーズで電子顕微鏡を用いた観察は必要な評価となっている。特にポリマー中に分散するCNFをTEM観察するためには、これまで高分子材料のTEM試料作製を実施する上で不可欠であった「電子染色」の技法を駆使する必要がある。今回、CNFを用いた複合材料の形態観察事例を紹介すると共に、CNF自体の観察事例、構造解析例として13C核 固体NMR法による結晶化度、および酸加水分解HPLC-蛍光検出法による構成糖分析の例を示す。 【目次】 １．はじめに ２．形態観察の概要 ３．CNFおよびCNF／ポリマーの観察事例 ４．CNFの結晶化度の評価 ５．CNFの構成糖分析（HPLC-蛍光検出法） ６．まとめ
「FT-IR」や「X線回折」といった試験法での構造解析の料金表！税抜き、税込みで掲載
株式会社ミツバ環境ソリューションは、環境測定、調査・解析、 ISOコンサルティングの専門企業です。 当資料では『化合物構造解析』の料金について税抜き、税込みで ご紹介。 「前処理」や「通常測定 KBr・測定・解析」「顕微法 測定・解析」 といった試験項目ごとに掲載しておりますので、ぜひご一読ください。 【掲載項目】 ■FT-IR ■ガスクロマトグラフ質量分析 GC-MS ■X線回折 ■紫外可視 分光光度計 ■熱分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
シミュレーションによってアモルファス膜のミクロな構造解析が可能です
アモルファスSiNx（a-SiNx）膜は、N/Si比などの組成変化によって半導体から絶縁体まで物性が大きく変化することから、トランジスタ用ゲート絶縁膜など幅広い用途で用いられています。一方、結晶性のないアモルファス構造の材料に対し、原子レベルのミクロな構造解析を行える実験手法は限られているため、シミュレーションによってさまざまな組成、密度を有したアモルファス構造を作成し、解析を行うことは有効なツールとなります。本資料では、分子動力学計算を用いたa-SiNx膜の構造解析事例を紹介します。
【無料プレゼント】新鋭の顕微赤外分光イメージングシステムを用いた技術資料
自動車の塗装は、耐候性や外観上の品位を向上させるために複数の塗料層で 構成され、層構造や塗料の種類は車種ごとに異なります。 したがって塗料片を構成する各層の成分分析は、その車種を特定するうえで 貴重な情報を与えます。 当資料では、新鋭の顕微赤外分光イメージングシステムを用いて行った 自動車塗料片に関する解析事例についてご紹介しています。 【掲載内容】 ■はじめに ■試料、分析システム ■データ解析 ■結果 ■まとめ ■参考文献 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
光学顕微鏡観察及び極低加速FE-SEMにて観察！詳細な構造の解析や元素分析等が可能
市販の角型Liイオン電池を機械研磨し、光学顕微鏡観察及び極低加速FE-SEMにて 観察することにより、詳細な構造の解析や元素分析等が行えます。 資料では、Liイオン電池の全体構造及びSEM観察や極低加速FE-SEMによる Liイオン電池の詳細構造観察を写真を用いてご紹介しております。 【解析概要】 ■Liイオン電池の全体構造及びSEM観察 ■極低加速FE-SEMによるLiイオン電池の詳細構造観察 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
