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表面特性の分析を直接評価。表面特性の解明と改良、及び新しい材料開発に貢献します！
流動電位及び流動電流の測定原理に基づき、バイアル内壁のゼータ電位を評価します。 ゼータ電位は、固体/液体界面での表面電荷に関係しており、表面化学特性(pH滴定)及び固相-液相間の吸着過程の重要な指標になります。 SurPASS３では、次の情報を得ることができます。 ・表面が液体に接触したときの帯電挙動 ・pH及びイオン強度の影響 ・表面化学特性に特有の等電点 ・特定の表面官能基の存在 ・表面改質の評価 ・添加剤の表面への吸着と脱着の挙動
表面特性の分析を直接評価。表面特性の解明と改良、及び新しい材料開発に貢献します！
流動電位及び流動電流の測定原理に基づき、中空糸膜内面のゼータ電位を評価します。 中空糸膜用測定セルは、内面分析用の中空糸膜が組み込まれたミニモジュールに対応します。この測定セルの代表的な用途は、透析膜内面の改質に関する研究です。 SurPASS３では、次の情報を得ることができます。 ・表面が液体に接触したときの帯電挙動 ・pH及びイオン強度の影響 ・表面化学特性に特有の等電点 ・特定の表面官能基の存在 ・表面改質の評価 ・添加剤の表面への吸着と脱着の挙動
表面特性の分析を直接評価。表面特性の解明と改良、及び新しい材料開発に貢献します！
流動電位及び流動電流の測定原理に基づき、フレキシブルチューブ内面のゼータ電位を評価します。 フレキシブルチューブ用測定セルは、SurPASS 3の測定セルのうちで最も柔軟性の高い測定セルであり、フレキシブルチューブの内面だけでなく、水処理用のポリマー中空繊維膜の内面の分析も行えます。 SurPASS３では、次の情報を得ることができます。 ・表面が液体に接触したときの帯電挙動 ・pH及びイオン強度の影響 ・表面化学特性に特有の等電点 ・特定の表面官能基の存在 ・表面改質の評価 ・添加剤の表面への吸着と脱着の挙動
表面特性の分析を直接評価。表面特性の解明と改良、及び新しい材料開発に貢献します！
流動電位及び流動電流の測定原理に基づき、平面形状サンプルのゼータ電位を評価します。 クランプセルは、SurPASS 3を用いてホイル、ポリマーシート、膜、金属、セラミック、ガラスなどの平面形状サンプルを測定するためのツールです。独自のメカニズムで設定した接触圧力によってサンプルを装着し、再現性の高い測定を実現します。 高い柔軟性 ・ポリマーフィルム、シート、金属、セラミックス、ガラスなどの平板表面向け ・電解液の流路を挟んで同一のサンプル表面を向かい合わせ、そのサンプルのゼータ電位を求める構成と、リファレンス表面を使用する非対称構成の2つの異なるサンプルアレンジメントが可能 ・異なる厚さのサンプルの非破壊測定が可能 SurPASS３では、次の情報を得ることができます。 ・表面が液体に接触したときの帯電挙動 ・pH及びイオン強度の影響 ・表面化学特性に特有の等電点 ・特定の表面官能基の存在 ・表面改質の評価 ・添加剤の表面への吸着と脱着の挙動
表面特性の分析を直接評価。表面特性の解明と改良、及び新しい材料開発に貢献します！
流動電位及び流動電流の測定原理に基づき、毛髪サンプルのゼータ電位を評価します。 ゼータ電位は、固体/液体界面での表面電荷に関係しており、表面化学特性 (pH滴定) 及び固相-液相間の吸着過程の重要な指標になります。 SurPASS３では、次の情報を得ることができます。 ・表面が液体に接触したときの帯電挙動 ・pH及びイオン強度の影響 ・表面化学特性に特有の等電点 ・特定の表面官能基の存在 ・表面改質の評価 ・添加剤の表面への吸着と脱着の挙動
これ1台で動的・静的・電気泳動光散乱（DLS/SLS/ELS）測定に対応 - 少ないサンプル量でも信頼性の高い測定結果
DynaPro ZetaStar は、動的光散乱、静的光散乱および電気泳動光散乱 (DLS/SLS/ELS) の測定に1台で対応可能で、広い範囲の分子サイズと多分散性、ゼータ電位、粒子濃度、分子量、濁度/乳光度の情報を従来と比較して最大1/10の時間で取得可能です。 ウイルスベクター、ベシクル、LNP（脂質ナノ粒子）、無機ナノ粒子、ナノエマルジョン、ポリマー、ペプチド、タンパク質、核酸などの分析および定量に使用できます。 非常に少ないサンプル量でも高感度に測定ができるため、希少で貴重なサンプルにも対応します。 【特長】 ・ 手動測定・自動測定の双方に対応 ・ 数回のクリックで測定完了、操作が簡単で不慣れな方にも安心 ・ 温度設定範囲が広く（-10～120℃）、熱劣化や様々な保管条件下での挙動の評価が可能 ・ 高塩濃度対応で生理的条件下や製剤緩衝液中でも信頼性の高い測定を実現 ・ 豊富なセルオプション、使い捨てセル対応でキュベットの洗浄操作やサンプルのキャリーオーバーを排除
