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CO2を排出しないクリーンエネルギー“電池” の材料評価に ～粒子径分布(粒度分布)・ゼータ電位測定を1台の装置で
NANOTRAC WAVE IIシリーズは、光学プローブによる後方散乱法測定を用いた粒子径分布(粒度分布)・ゼータ電位装置です。 低濃度から高濃度まで安定したデータを得ることが可能です。 【用途】 電池材料、飲料・食品・製薬・化粧品・セメント・インク・塗料・顔料・半導体・鉱物・高分子材料・ポリマー ※詳しくはお問い合わせください。また、デモ・サンプル分析も受け付けておりますので、お気軽にお問い合わせ下さい。
スラリー分散性の評価で活躍！高濃度、高粘度、ナノ粒子～数百ミクロン粒子の測定が可能
『STABINO ZETA』は、流動電位によりコロイド溶液や様々なスラリーの 分散性を数秒毎にリアルタイムで測定する流動電位測定装置です。 滴定システムを標準で搭載しており、従来のゼータ電位測定装置では 困難であった短時間での等電点測定を実現。 流動電位/ゼータ電位、導電率、pH、温度に加えて、NANOTRAC FLEXを 組み合わせることで粒子径分布を同時に測定することができます。 【特長】 ■数秒毎にリアルタイムで測定 ■滴定システムを標準で搭載 ■短時間での等電点測定を実現 ■NANOTRAC FLEXを組み合わせることで粒子径分布を同時に測定可能 ■数μm～数十μmの大粒子（石灰石、ゼオライト）の等電点測定が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
帯電物の表面電位を非接触で測定
日々の静電気管理に最適 明るく大きなカラー液晶表示 簡単なボタン操作で測定可能 ヘッド部は180度回転。各45度で5段階ホールド。狭い場所でも簡単測定 測定距離調整。赤色LEDによる光のマークの焦点が目安になります。
粒子の形状・大小の違いを識別しながら測定できる測定装置
『MARK 2』は、水系・非水系コロイド粒子を顕微鏡電気泳動法を用い、 粒子の形状・大小の違いを識別しながら測定する装置です。 縦型石英セルを採用しているため、沈降しやすい重い大きな粒子も測定。 また、回転プリズムシステムを使用すると視野全体の粒子群の平均泳動速度が数秒で測定できます。 【特長】 ■水系・非水系コロイド粒子を形状・大小の違いを識別しながら測定 ■顕微鏡電気泳動法を用いて測定 ■沈降しやすい重い大きな粒子も測定可能 ■視野全体の粒子群の平均泳動速度が数秒で測定可能 ※詳しくはお気軽にお問い合わせ下さい。
静電電位測定器
静電気が気になる、場所を測定することが簡単に出来ます。 センサー部の首振ができます。 イオナイザーのバランスチェックにもお使い頂けます。
原液のまま高濃度コロイド粒子のゼータ電位を自動測定。等電点も自動測定
ZetaProbeでは溶液に交流電圧を印加し、コロイド粒子の振動により発生する音波のＥＳＡシグナルからゼータ電位を測定します。 高濃度系コロイド溶液では光が透過できないために、光を利用する測定法では測定が困難ですが、電気音響法では音波を使用するため、より濃厚な溶液でもゼータ電位を測定することが可能です。希釈による電解質濃度やpHの変化を心配する必要がありません。 【特徴】 ○高濃度・高粘度の試料に対応、原液での測定が可能 ○電気音響法＋多重周波数解析による高精度な測定が可能［特許取得］ ○正確なゼータ電位を測定することが可能 →粒子からの信号に類似したイオンからの信号を バックグラウンド補正によって除去 ○パラメータを後から変更して再解析が可能 ○等電点測定に必要な自動滴定システムが標準装備 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。
これ1台で動的・静的・電気泳動光散乱（DLS/SLS/ELS）測定に対応 - 少ないサンプル量でも信頼性の高い測定結果
DynaPro ZetaStar は、動的光散乱、静的光散乱および電気泳動光散乱 (DLS/SLS/ELS) の測定に1台で対応可能で、広い範囲の分子サイズと多分散性、ゼータ電位、粒子濃度、分子量、濁度/乳光度の情報を従来と比較して最大1/10の時間で取得可能です。 ウイルスベクター、ベシクル、LNP（脂質ナノ粒子）、無機ナノ粒子、ナノエマルジョン、ポリマー、ペプチド、タンパク質、核酸などの分析および定量に使用できます。 非常に少ないサンプル量でも高感度に測定ができるため、希少で貴重なサンプルにも対応します。 【特長】 ・ 手動測定・自動測定の双方に対応 ・ 数回のクリックで測定完了、操作が簡単で不慣れな方にも安心 ・ 温度設定範囲が広く（-10～120℃）、熱劣化や様々な保管条件下での挙動の評価が可能 ・ 高塩濃度対応で生理的条件下や製剤緩衝液中でも信頼性の高い測定を実現 ・ 豊富なセルオプション、使い捨てセル対応でキュベットの洗浄操作やサンプルのキャリーオーバーを排除
溶液中の粒子は、粒子間相互反応を特徴づける電気二重層（EDL）に囲まれます。
ゼータ電位の測定は、粒子の荷電環境と直接関係があり、分散安定に関する情報を与えます。このことは、化学合成や粒子の機能化などのために広く利用されています。 ディップセルの設計で、試料調製は単純で簡単になり、気泡の形成を防ぎます。 それは標準キュベットセルに適合し、有機溶媒と完全に互換性のあるポリスチレン、ガラスあるいは石英など、さまざまな材料を利用可能にしました。 革新的なガラス製炭素電極は長寿命化され、酸化しない電極は超音波槽や酸塩基による洗浄など標準的処理で簡単に洗浄できます。 WALLISは、キューベットの壁面に沿って変位を引き起こす抑制溶媒により電気浸透効果のような人工物を防ぐディップセル電極デザインを最適化しました。その結果、測定信号に対するソフトウェア補正は必要ありません。
表面特性の分析を直接評価。表面特性の解明と改良、及び新しい材料開発に貢献します！
流動電位及び流動電流の測定原理に基づき、バイアル内壁のゼータ電位を評価します。 ゼータ電位は、固体/液体界面での表面電荷に関係しており、表面化学特性(pH滴定)及び固相-液相間の吸着過程の重要な指標になります。 SurPASS３では、次の情報を得ることができます。 ・表面が液体に接触したときの帯電挙動 ・pH及びイオン強度の影響 ・表面化学特性に特有の等電点 ・特定の表面官能基の存在 ・表面改質の評価 ・添加剤の表面への吸着と脱着の挙動
表面特性の分析を直接評価。表面特性の解明と改良、及び新しい材料開発に貢献します！
流動電位及び流動電流の測定原理に基づき、ソフトコンタクトレンズのゼータ電位を評価します。 ソフトコンタクトレンズ用測定セルは、ソフトコンタクトレンズの機能を低下させずにゼータ電位分析を行えます。模型眼の上にレンズを置き、直接アクセスしてゼータ電位分析を行えます。 ・ソフトコンタクトレンズのゼータ電位分析が可能 ・補助器具を使用せずに、コンタクトレンズを模型眼の凸面に設置 SurPASS３では、次の情報を得ることができます。 ・表面が液体に接触したときの帯電挙動 ・pH及びイオン強度の影響 ・表面化学特性に特有の等電点 ・特定の表面官能基の存在 ・表面改質の評価 ・添加剤の表面への吸着と脱着の挙動
表面特性の分析を直接評価。表面特性の解明と改良、及び新しい材料開発に貢献します！
流動電位及び流動電流の測定原理に基づき、天然 / 化学繊維のゼータ電位を評価します。 ゼータ電位は、固体/液体界面での表面電荷に関係しており、表面化学特性 (pH滴定) 及び固相-液相間の吸着過程の重要な指標になります。 SurPASS３では、次の情報を得ることができます。 ・表面が液体に接触したときの帯電挙動 ・pH及びイオン強度の影響 ・表面化学特性に特有の等電点 ・特定の表面官能基の存在 ・表面改質の評価 ・添加剤の表面への吸着と脱着の挙動
表面特性の分析を直接評価。表面特性の解明と改良、及び新しい材料開発に貢献します！
流動電位及び流動電流の測定原理に基づき、コアサンプルのゼータ電位を評価します。 コアサンプル用測定セルは、一般的なコアサンプルを格納し、コアサンプルの断面と外周面におけるゼータ電位分析が可能になります。岩石表面の掘削流体などの相互作用について研究することができ、この情報はEORプロセスの改善に用いられます。 EOR試験で使用されるコアサンプルの非破壊分析 ・コアサンプルの断面と外周面におけるゼータ電位分析 ・岩石表面と相互作用する掘削流体などの特性を評価する接線測定モード ・代替技術に比べて非常に効率的: ゼータ電位分析のためにコアサンプルを微粉末に破砕する必要がありません ・コアサンプルの長手方向のゼータ電位勾配の評価 SurPASS３では、次の情報を得ることができます。 ・表面が液体に接触したときの帯電挙動 ・pH及びイオン強度の影響 ・表面化学特性に特有の等電点 ・特定の表面官能基の存在 ・表面改質の評価 ・添加剤の表面への吸着と脱着の挙動
表面特性の分析を直接評価。表面特性の解明と改良、及び新しい材料開発に貢献します！
流動電位及び流動電流の測定原理に基づき、セラミック膜のゼータ電位を評価します。 セラミック膜用測定セルは、シングルチャンネル及びマルチチャンネルのどちらの微量濾過用チューブ状セラミック膜にも対応します。ゼータ電位分析により、セラミック膜の表面電荷に直接アクセスできます。 SurPASS３では、次の情報を得ることができます。 ・表面が液体に接触したときの帯電挙動 ・pH及びイオン強度の影響 ・表面化学特性に特有の等電点 ・特定の表面官能基の存在 ・表面改質の評価 ・添加剤の表面への吸着と脱着の挙動
表面特性の分析を直接評価。表面特性の解明と改良、及び新しい材料開発に貢献します！
流動電位及び流動電流の測定原理に基づき、半導体ウェハのゼータ電位を評価します。 クランプセルは、SurPASS 3を用いて半導体ウェハ等の平面形状サンプルを測定するためのツールです。独自のメカニズムで設定した接触圧力によってサンプルを装着し、再現性の高い測定を実現します。 高い柔軟性 ・電解液の流路を挟んで同一のサンプル表面を向かい合わせ、そのサンプルのゼータ電位を求める構成と、リファレンス表面を使用する非対称構成の2つの異なるサンプルアレンジメントが可能 ・異なる厚さのサンプルの非破壊測定が可能 SurPASS３では、次の情報を得ることができます。 ・表面が液体に接触したときの帯電挙動 ・pH及びイオン強度の影響 ・表面化学特性に特有の等電点 ・特定の表面官能基の存在 ・表面改質の評価 ・添加剤の表面への吸着と脱着の挙動
表面特性の分析を直接評価。表面特性の解明と改良、及び新しい材料開発に貢献します！
流動電位及び流動電流の測定原理に基づき、メンブレンサンプルのゼータ電位を評価します。 可変ギャップセルにより、長方形または円板状の小型サンプルまでアプリケーションの幅が広がります。 SurPASS３では、次の情報を得ることができます。 ・表面が液体に接触したときの帯電挙動 ・pH及びイオン強度の影響 ・表面化学特性に特有の等電点 ・特定の表面官能基の存在 ・表面改質の評価 ・添加剤の表面への吸着と脱着の挙動
