半導体RFバーンイン装置 試験用
CH数やFETパッケージ、試験条件に合わせたシステム構築をご提案致します！
『半導体RFバーンイン装置 試験用』は、高周波デバイス（以下FET）の 通電試験装置です。 用途に応じ、ホットプレート（ヒーター）タイプ、恒温槽タイプを選択可能。 お客様のFETを壊すことなく安全に装置を停止する安全回路を搭載しています。 大手半導体メーカ様の各種ラインアップに対応しており、特殊なFETにも 自社開発により柔軟に対応できます。 【特長】 ■多様な装置構成 ■発振に強い ■安定動作が可能 ■高温下にてバーンイン試験を実施することが可能 ■CH数やFETパッケージ、試験条件に合わせたシステム構築を提案 ※詳しくは製品詳細情報をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社多摩川電子
- 価格：応相談
