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拡大率の高い画像をスピーディに取得！複雑な多層構造の検査にも対応します
当社では、トランスミッションナノフォーカスX線検査モジュール 『FXE 160.51』を取り扱っています。 「Comet FXE」は、ミリメートルからマイクロメートル以下の形状を 検出、識別、測定することが可能。幅広い焦点サイズを持つこのシングル チューブは、高い安定したドーズレートで高速スキャンを実現します。 また、消耗品はすぐに交換できるように設計されているため、耐用年数に 制限はありません。 【特長】 ■抜群の安定性と精度を両立 ■幅広い検査に対応できる柔軟性 ■制限のない長寿命 ■優れた操作性でワークフローをスピードアップ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
【ネプコン出展（小間番号8-31）】単一の部品の中で材料の強度や特性が異なる部品や、炭素繊維材料、鋳造などの検査に好適！
当社では、X線検査モジュール『MesoFocus 225』を取り扱っています。 「メソフォーカスシリーズ」は、単一の部品の中で材料の強度や特性が 大きく異なる部品、特に付加製造部品、炭素繊維材料、鋳造などの検査に好適。 開放型マイクロフォーカスとミニフォーカスのX線テクノロジーのギャップに 対し、性能を損なうことなく埋めることができます。 【特長】 ■高出力と優れた可用性 ■優れた安定性、再現性、精度 ■保守の頻度を低減、アップタイムを延長 ■インライン検査と24時間連続稼働に好適 ■25～300μmの検査レンジで高出力とトップクラスの高可用性を発揮 【第37回インターネプコン ジャパン 詳細】 ■展示会名：エレクトロニクス製造・実装展 ■会期：2023年1月25(水)～1月27日(金) 10:00～17:00 ■会場：東京ビッグサイト ■小間番号：8-31 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
短時間でワークフローを作成！クラス最高の低TOC（総所有コスト）を発揮します
『FXE 225.48』は、2D／3Dアプリケーションにおいて、十分な輝度の画像を スピーディに取得できるリフレクションマイクロフォーカスX線検査モジュールです。 225kVでの安定稼働を保証し、高密度パーツも透過。安定したコントラストを 実現するTXI（True X-ray Intensity）によって、ちらつきのないX線画像、 検査結果の整合性を実現します。 また、数ミリから4μmまでの微小な欠陥の検出、識別、測定が可能で、 このX線管と高性能検出器を組み合わせることで、非常に信頼性の高い 優れた解析ができます。 【特長】 ■抜群の安定性と精度を両立 ■幅広い検査に対応できる柔軟性 ■制限のない長寿命 ■優れた操作性でワークフローをスピードアップ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
