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波長精度：+/-5pm 波長分解能：1pm
Mux/Demux、フィルタ、スプリッタ、ROADM、WSS等の光パッシブコンポーネント、モジュール等の特性を評価するテスタです。測定波長レンジは、1260-1650nmです。リアルタイムで測定でき、特に挿入損失の測定に優れています。 【特徴】 ○波長精度：+/-5pm ○波長分解能：1pm 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。 ※こちらのカタログは英語のカタログになります。
◆MUX/DEMUX フィルタ スプリッタ等の光コンポーネント試験◆RODAM WSS等の光通信用モジュール試験
◆1240～1680nmをカバー◆PMオプション有◆PDL試験オプション有 フルバンド対応 (1240～1680nm) 波長分解能：1～250pm 波長精度：±5pm ダイナミックレンジ：65dB @single sweep ●フルバンドスイープ CT440は1240～1680nmで動作し、同社の波長可変光源と完全な互換性を持っております。 複数の波長可変光源を仕様する場合、CT440は自動的にレーザを切り替え、シームレスなフルバンド測定を可能にします。 DUTへの接続が1本のため、外部からの切り替えも不要です。 ●正確かつ高速な挿入損失測定 CT440は高速電子回路と光干渉計のユニークな組合せを特徴としております。 4つのディテクタを内蔵しているため、1回のスイープで4チャンネルの光源を同時に測定できます。 ダイナミックレンジは65dBとなっており、また、波長精度±5pmは掃引速度に関わらず保証されます。
電圧、抵抗、静電容量、ダイオード、継続性などの電気パラメータを測定！
当社で取り扱っている「コンポーネントテスタ」をご紹介いたします。 IC(集積回路)およびSMD(サービスマウント機器)をテストし、電圧、 抵抗、静電容量、ダイオード、継続性などのさまざまな電気パラメータを 測定するために使用する装置。 また、一般的に、製造、トラブルシューティング、保守といった用途で 使用されます。 【ラインアップ】 ■ideal-tek コンポーネントテスタ ■IKALOGIC コンポーネントテスタ ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
光パッシブ部品を24時間365日テストするためのモジュール式測定プラットフォーム！
『CTP10』は、光集積回路や光パッシブ部品のIL/RL/PDL測定評価用 プラットフォームです。 チューナブルレーザ(T100S-HP)との組み合わせで高精度の掃引IL/RL/PDL測定を 提供、モジュール式の為、自由度の高い測定環境を構成できます。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■波長範囲：1240-1680 nm ■ダイナミックレンジ：一回の掃引で70 dB ■IL解像度：0.0001 dB ■プラットフォーム毎に最大50の検出器 ■波長精度：±5 pm ■サンプリング分解能：1 pm @掃引速度100 nm/s ※英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
波長範囲は、1240-1680nm！一回の掃引で70dBのダイナミックレンジ
『CTP10』は、光集積回路や光パッシブ部品のIL/RL/PDL測定評価用 プラットフォームです。 チューナブルレーザ(T100S-HP)との組み合わせで高精度の掃引IL/RL/PDL 測定を提供、モジュール式の為、自由度の高い測定環境を構成可能。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■波長範囲：1240-1680nm ■ダイナミックレンジ：一回の掃引で70dB ■IL解像度：0.0001dB ■プラットフォーム毎に最大50の検出器 ■波長精度：±5pm ■サンプリング分解能：1pm@掃引速度100nm/s ※詳しくはPDF(英語版)をダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
