研究開発用マルチレンジスペクトロメータ『INVENIO X』
次世代のINVENIOプラットフォームを完成させ、先端研究開発用FT-IRの新たなスタンダードを確立
『INVENIO X』は、次世代のINVENIOプラットフォームを完成させ、 先端研究開発用FT-IRの新たなスタンダードを確立します。 「DigiTect」検出器ならびに「Transit」第2試料室を併用することで、 最大7台の検出器を同時に搭載し、それぞれをソフトウェアから自由に 制御することができます。 これにより、遠赤外から可視／紫外までの幅広い領域をカバーすることが 可能となります。 【特長】 ■新設計INTEGRAL干渉計 ■5台の検出器に対応する革新的MultiTectテクノロジー ■ユーザーによる交換が可能なDigiTect検出器スロット ■専用検出器搭載、簡易透過／反射測定用Transitチャンネル第2試料室 ■24ビットダイナミックレンジ・デュアルチャンネル ADC、 フルデジタル信号処理 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部
- 価格：応相談
