次世代のINVENIOプラットフォームを完成させ、先端研究開発用FT-IRの新たなスタンダードを確立
『INVENIO X』は、次世代のINVENIOプラットフォームを完成させ、 先端研究開発用FT-IRの新たなスタンダードを確立します。 「DigiTect」検出器ならびに「Transit」第2試料室を併用することで、 最大7台の検出器を同時に搭載し、それぞれをソフトウェアから自由に 制御することができます。 これにより、遠赤外から可視／紫外までの幅広い領域をカバーすることが 可能となります。 【特長】 ■新設計INTEGRAL干渉計 ■5台の検出器に対応する革新的MultiTectテクノロジー ■ユーザーによる交換が可能なDigiTect検出器スロット ■専用検出器搭載、簡易透過／反射測定用Transitチャンネル第2試料室 ■24ビットダイナミックレンジ・デュアルチャンネル ADC、 フルデジタル信号処理 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【その他特長】 ■遠赤外、近赤外、可視 ／ 紫外領域への拡張、フィールドアップグレード対応 ■INTEGRAL干渉計とMultiTectテクノロジーにより遠赤外から可視/紫外領域までのマルチスペクトル測定を完全自動化 ■高度な測定と解析に対応するOPUSソフトウェア ■さらに快適な操作環境を実現するOPUS-TOUCH R&Dソフトウェア/タッチパネルPCオプション ■ソフトウェア制御式、光入出力ポート（出力X3、入力X2） ■各種変調測定と時間分解測定を実現するラピッド、スロー、ステップスキャンオプション ■VERTEX、INVENIO 用のすべてのアクセサリおよび拡張モジュールとの互換性を完全継承 ■試料室バイパス／ダイレクトエミッション光路オプション ■簡単操作で脱着が可能な試料室カバー（カスタマイズ可能） ■乾燥密閉型光学ベンチ（パージ可能） ■LEDライトバーによる洗練されたシステムステータス表示 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業情報
オプティクス事業は1960年、ブルカーグループの赤外分光分析部門として、ドイツにおいてスタートしました。高い設計思想をベースに開発された製品群は、生産管理や品質保証を目的として日常的に利用される専用機から、先端材料の研究開発において威力を発揮するリサーチモデルまで多岐に渡ります。ドイツ・エットリンゲンを開発製造の拠点として、グローバルな販売・サービスネットワークを通じてお客様の様々なニーズにお応えしています。
