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テストシステム×クロマジャパン株式会社 - メーカー・企業と製品の一覧

テストシステムの製品一覧

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高機能SoC/AnalogテストシステムModel 3680

高機能SoC/Analogテストシステム 優れたマルチメディアオーディオ/ ビデオチップテストを実現

デジタル測定及びアナログ測定基板を24枚実装可能(組合せ自由) 最大データレート150 Mbps 最大512パラレルテスト対応 最大2048デジタルI/Oピン 最大256 MWパターンメモリ(512MWオプション)  最大64チャンネルPMU(高精度DC測定)  タイミング測定/DC測定(PPMU)/周波数測定を全ピン装備 最大8G/スキャン  (16Gオプション) タイミングエッジ精度 (EPA) : ±150ps 最大128チャンネル DPS(デバイス電源) HDADDA2(デジタイザ/任意波形発生)オプション 高電力HCDPSアナログオプション 高周波測定HDAVOオプション 多チャンネルHDVI、HDRFアナログオプション* ダイレクトプロービングシステム* OS : Microsoft Windows10 プログラム言語 : C#.NET and GUI オペレーションシステム : CRISPro,  他社テスタからのプログラムサポート 他社テスタのテストボードサポート 標準仕様STDFサポート 全機能をテストヘッドに実装 省スペース、空冷システム

  • 半導体検査/試験装置

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