高機能SoC/Analogテストシステム 優れたマルチメディアオーディオ/ ビデオチップテストを実現
デジタル測定及びアナログ測定基板を24枚実装可能(組合せ自由) 最大データレート150 Mbps 最大512パラレルテスト対応 最大2048デジタルI/Oピン 最大256 MWパターンメモリ(512MWオプション) 最大64チャンネルPMU(高精度DC測定) タイミング測定/DC測定(PPMU)/周波数測定を全ピン装備 最大8G/スキャン (16Gオプション) タイミングエッジ精度 (EPA) : ±150ps 最大128チャンネル DPS(デバイス電源) HDADDA2(デジタイザ/任意波形発生)オプション 高電力HCDPSアナログオプション 高周波測定HDAVOオプション 多チャンネルHDVI、HDRFアナログオプション* ダイレクトプロービングシステム* OS : Microsoft Windows10 プログラム言語 : C#.NET and GUI オペレーションシステム : CRISPro, 他社テスタからのプログラムサポート 他社テスタのテストボードサポート 標準仕様STDFサポート 全機能をテストヘッドに実装 省スペース、空冷システム
この製品へのお問い合わせ
基本情報
SoCテストシステム3680 2048デジタルI/Oピン データレートは150Mbps～1Gbps 個数フリーパラレルテスト対応 64チャンネル高精度PMU 128チャンネル高密度DPS 高密度周波数 3680シリーズオプション HDVI測定アナログオプション 高周波測定HDAVOオプション HDADDA2 (デジタイザ/任意波形発生)オプション HDAWDG AD/DAオプション
価格帯
納期
用途／実績例
マイクロプロセッサ (MCU) デジタルオーディオ デジタルＴＶ (DTV) 放送機器用デバイス(STB) 高速信号処理プロセッサ (DSP) ネットワークプロセッサ プログラム可能ゲートアレイ(FPGA)
カタログ（1）
カタログをまとめてダウンロード
企業情報
1984年に台湾で創立されたChroma ATE Inc.は、高精度試験および電子計測器、自動検査システム、インテリジェントマニュファクチャリングシステムなどのテスト＆オートメーション・ターンキーソリューション領域をリードするグローバルサプライヤーとして、「Chroma」ブランドを全世界に展開しています。 クロマはICT、クリーンテクノロジー、スマートファクトリー、電気自動車（EV）、LED・レーザーダイオード、太陽光発電、バッテリー、半導体・IC、光通信、フラットパネルディスプレイ点灯器、モニタ・テレビ・ディスプレイ信号発生器、パワーエレクトロニクス、受動部品、電気安全試験、熱電計測、自動光学検査およびインテリジェントマニュファクチャリングシステムにおいて優れた試験器、検査システムを取り揃えています。 クロマジャパンはChroma ATE Inc.の日本法人として製品の販売と共にアフターサービスをローカル化し充実させるために設立されました。世界品質の製品を緻密なサポートを必要とする日本のお客様のために日々尽力しています。