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測定したい光集積回路をカスタマイズ！当社のテストソリューションをご紹介
当社は、パッシブおよびアクティブコンポーネントテストやBERテスターなど 幅広いPICテスト環境をご提供いたします。 お客様のご要望に応じて、測定したい光集積回路毎に好適な構成を 都度カスタマイズしてご利用いただけます。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■幅広い光集積回路を、ウェハーレベル、ダイレベル、 コンポーネントレベルでのテスト環境を提供 ■自動化ソフトウェア、プローブシステムから光学/電気/ パフォーマンス測定系までワンストップでご提供 ※日本語版・英語版カタログをダウンロードいただけます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
測定したい光集積回路をカスタマイズ！スペクトル分析や、機能テストにも活用できる
当社では「PIC(光集積回路)テストソリューション」をご提供しております。 パッシブおよびアクティブコンポーネントテストやBERテスターなど 幅広いPICテスト環境をご提供。 お客様のご要望に応じて、測定したい光集積回路(PIC：Photonic Integrated Circuit)毎に適切な構成を都度カスタマイズして ご利用いただけます。 【特長】 ■パッシブ部品、アクティブ部品、量子フォトニクスチップ(ダイ)、 AWG、トランシーバー(伝送、BER)など幅広い光集積回路を、ウェハー レベル、ダイレベル、コンポーネントレベルでのテスト環境を提供 ■自動化ソフトウェア、プローブシステムから光学/電気/ パフォーマンス測定系までワンストップでご提供 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
