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すべてのデバイスに対して適切なテスト技術と方法が適切に選択されていることを保証！
当資料では、ロチェスターエレクトロニクスのテストの品質について 詳しく解説しております。 ICコンポーネントテストやテストプログラム、フォールトカバレッジ などについて表を用いて詳しく解説。 参考になる一冊ですので、ぜひご一読ください。 【掲載内容(抜粋)】 ■ICコンポーネントテストとは何か ■テストプログラムとは何か ■テストの品質とは何か＆不良デバイスとは何か ■欠陥とは何か ■欠陥モデルとは何か ■フォールトカバレッジとは何か ※詳しくはぜひ「PDFダウンロード」よりご覧ください。 また下記リンクからも詳細ご確認をいただけます。
【テストプログラムの目的と機能を徹底解説】半導体・電子部品テストの基礎知識解説資料を無料進呈中！
テストプログラムとは、特定の機械やデバイス（例えば、スマホやコンピュータの部品）が ちゃんと動くかどうかを確かめるための「テストをするためのソフトウェア」です。 このプログラムは、テストをするための機器（計測器）を使って、 デバイスにいろいろな「テストの条件」を与え、デバイスが正しく動いているかを調べます。 現在『半導体・電子部品テストの基礎知識解説資料』を無料進呈中です。 テストプログラムの重要性や3つの要素など、その他基礎知識に関しても分かり易く解説をしておりますので ぜひご確認ください。 【資料掲載内容（一部抜粋）】 ■テストプログラムの目的と機能とは？ ■テストプログラムの重要性な3つの要素とは？ ■欠陥とは何か？ ■欠陥モデルとは何か？ ※『半導体・電子部品テストの基礎知識解説資料』はPDFダウンロードボタンよりご確認ください！
