バウンダリスキャンテスト×株式会社ニューリー・土山 - 企業1社の製品一覧

バウンダリスキャンテスト JTAG (CORELIS)

BGA・QFP搭載基板、狭ピッチコネクター導入基板をピンレベルで検査。

バウンダリスキャンテスト JTAG の特徴は、BGA部分の品質をファンクションで保証すると製品全体の検査時間が増大し、結果、確実にBGAの実装保証が可能となり、不良原因の特定が短時間且つピンレベルで実現可能。

• 企業：株式会社ニューリー・土山
• 価格：応相談

• 基板間コネクタ
• 試験機器・装置
• コネクタ端子台