10/13無料ウェビナー電子機器開発：試作評価フェーズの管理技術
【無料Webセミナー】要素技術の検証不足で数カ月の手戻りに！～電子機器開発、試作評価フェーズの管理技術～
センサをはじめとする電子機器開発では、超小型化という制約の中で、メカ・エレキ・ソフトが連携して精度を確保しなければなりません。新規機構や新規ICを採用した「攻めた設計」ほど、試作・評価段階で防水性能やノイズ干渉などの「想定外」に直面し、カットアンドトライが続きがちです。要素技術の検証不足が、数カ月単位の手戻りを招くことも珍しくありません。 本セミナーでは、想定外を事前に減らす「セットベースコンカレント開発」と、開発フローを改善しリードタイムを短縮する「CCPM」を組み合わせた製品開発マネジメントを、実践事例とともにご紹介します。 ■日時：2026年10月13日（火）15:00～16:00 ■形式：オンライン（Zoom）／参加費無料／定員100名 ■講師：真道 久英（ゴール・システム・コンサルティング 執行役員CTO） ■対象：電子機器メーカーの製品開発部門の管理職・リーダークラスの方
- 企業：ゴール・システム・コンサルティング株式会社
- 価格：応相談
