露光解析ツール 位相シフト・フォーカス・モニタ
±25nm3σ以内の高精度。フォーカス・マトリクスが不要です。
露光解析ツール 位相シフト・フォーカス・モニタは±25nm3σ以内の高精度。フォーカス・マトリクスが不要です。既存のオーバーレイ計測器でフォーカス測定ができます。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。
- 企業:リソテックジャパン株式会社
- 価格:応相談
1~2 件を表示 / 全 2 件
±25nm3σ以内の高精度。フォーカス・マトリクスが不要です。
露光解析ツール 位相シフト・フォーカス・モニタは±25nm3σ以内の高精度。フォーカス・マトリクスが不要です。既存のオーバーレイ計測器でフォーカス測定ができます。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。
高出力レーザの集光過程のビームプロファイルを減衰せずに計測
フォーカスモニタは高出力レーザが集光する過程、デフォーカスする過程のビーム強度分布を計測します。計測には高速運動するピンホールを使用しており、これにより高出力レーザを減衰なしで計測することが可能です。 測定チップやディテクタの交換が可能で、近赤外の他、CO2レーザにも対応します。