1～3 件を表示 ／ 全 3 件
極めて微少な変位量を、レーザ光を用いて非接触で計測！過渡応答現象測定に適した、光ヘテロダイン変位計
光ヘテロダイン変位計の１プローブ１出射型のプローブを 顕微鏡鏡筒上部に設置し、顕微鏡による観察と同時に変位量を測定する 顕微鏡搭載型光ヘテロダイン変位計 【特徴】 ○被測定物の測定点をピンポイント ○被測定物状態観察と並行計測可能 ○落射照明系、CCDカメラを取りつけ通常の顕微鏡として 被測定物を視認すると共にCCDカメラを用い ディスプレイ（CRT）上で被測定面状態を観測 ○ステージ上に様々な装置を取り付けることも可能 ○ステージに自動ステージを取り付けることで、自動化することも可能 ○手動ステージか自動ステージかで構成の大きさが異なります。 ○ヘテロダイン変位計の選択はHV400,HV250いずれも可能 ●その他機能や詳細については、カタログダウンロード下さい。
光ヘテロダイン変位計 HV250
光ヘテロダイン計測の優位性を保ったまま、HV400の機能を簡便化し低価格を実現 アナログ出力、デジタル出力の機能も搭載した光ヘテロダイン変位計 【特徴】 ○分解能10nmを保ち、作動距離が1000mm ○本体、プローブと共に小型、低価格 ○リアルタイム測定・LED表示・アナログ・デジタル出力 ○汎用性が高い ○使用目的に合わせ、プローブ形状・光学系構成 形状・オプションなどの設定が可能 ●その他機能や詳細については、カタログダウンロード下さい。
極めて微少な変位量を、レーザ光を用いて非接触で計測！過渡応答現象測定に適した、光ヘテロダイン変位計
光ヘテロダイン変位計 HV400 【特徴】 ○1nmの分解能 0.001ミクロンが縦分解能 計測の基準は周波数安定化HeNeレーザの波長 ○最短１μsごとに過渡現象を記録 短時間に変動する事象を計測・記録・表示 PCのLCD画面上で変動の様子が一目瞭然 ○最大100万点を記録、データ処理 記録時間を大幅に増加 膨大な記録点数は、すべてPCで処理しフィルタ処理、エクセル変換が可能 ○相対計測でベース振動等に基づく誤差要因を排除 測定点を2か所として、その2地点での変位量の相対値を計測 相対変動量のみを明確にし、ベース振動成分などの 誤差要因を取り除く事が可能 ●その他機能や詳細については、カタログダウンロード下さい。
