異物・キズ・膜ムラを全面全数で高速可視化するマクロ検査
検査・評価事例集を無料進呈。散乱光や反射光で凹凸やムラも可視化し、製造工程の歩留まり改善を支援
スミックスは、半導体ウェハやガラス、金属薄膜、樹脂フィルムなどの 異物・キズに加え、膜ムラも高速で可視化する「マクロ検査技術」を提供しています。 散乱光や反射光を利用して、材料表面の微細な異物・欠陥から 膜厚ムラなどの外観異常までを捉え、全面全数検査を実現。 製造工程の歩留まりに異常の把握を支援し、品質管理の効率化や歩留まり改善に貢献します。 【検査・欠陥・可視化項目(抜粋)】 ■パーティクル ■付着物・汚れ ■レジスト残り・加工残渣 ■キズ ■ピンホール ■突起 ■微小凹凸(表面粗さ・結晶欠陥) ■クラック ■チッピング ■ボイド ■デラミネーション(剥離) ■バリ ■白濁・ヘイズ ■色ムラ ■輝度ムラ ■膜ムラ ■塗布ムラ ■膜厚ムラ ■パターンの異常・欠陥(欠け、ショート、オープン、ライン幅異常) ※<カタログをダウンロード>より、事例集と当社技術の紹介資料をご覧いただけます。 ※無償評価を受付中です。お気軽にお問い合わせください。
- 企業:スミックス株式会社
- 価格:応相談