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マクロ検査装置×CCTECH Japan株式会社 - 企業1社の製品一覧

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半導体マクロ検査装置(iFocus)

半導体ウェハー検査機器、検査用カメラを2台使用し、タクトタイムを1/2に削減。3Dバンプの検査も可能。

特許取得のOTF(On the Fly)技術をを使用し、検査用カメラを2台使用し、明暗視野を同時に撮像することにより、検査工程に価格時間を1/2に短縮。また、3Dの検査も可能し、WLSCPパッケージ等に使用されるバンプのコプラナリティの検査を可能にします。

  • 外観検査装置
  • 半導体検査/試験装置
  • テスタ

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