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モジュール検査装置 Product List and Ranking from 5 Manufacturers, Suppliers and Companies

Last Updated: Aggregation Period:2025年11月19日~2025年12月16日
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モジュール検査装置 Manufacturer, Suppliers and Company Rankings

Last Updated: Aggregation Period:2025年11月19日~2025年12月16日
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  1. ニデックアドバンステクノロジー株式会社 本社、東京営業所、名古屋営業所 京都府/産業用機械
  2. CCTECH Japan株式会社 CCTECH Japan(株)-  日本法人 東京都/産業用電気機器
  3. 株式会社テストラム 大阪府/試験・分析・測定
  4. 4 新栄電子計測器株式会社 神奈川県/産業用電気機器
  5. 5 株式会社リッカンウイル 神奈川県/産業用電気機器

モジュール検査装置 Product ranking

Last Updated: Aggregation Period:2025年11月19日~2025年12月16日
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  1. IGBT/SiC パワーモジュール検査装置『NATSシリーズ』 ニデックアドバンステクノロジー株式会社 本社、東京営業所、名古屋営業所
  2. モジュール検査装置 CM2030(カメラモジュール) CCTECH Japan株式会社 CCTECH Japan(株)-  日本法人
  3. 接触・非接触COT検査発行装置 株式会社テストラム
  4. 4 カメラモジュール検査装置『CAU-200』 新栄電子計測器株式会社
  5. 5 モジュール検査装置 CM8200(指紋認証モジュール) CCTECH Japan株式会社 CCTECH Japan(株)-  日本法人

モジュール検査装置 Product List

1~7 item / All 7 items

Displayed results

カメラモジュール検査装置『CAU-200』

カメラ検査のすべてのニーズに対応可能!NTSCカメラモジュール検査装置

『CAU-200』は、1台でカメラ性能検査・ビデオ信号検査・ 欠陥検査(オプション)が可能なカメラモジュール検査装置です。 ビデオアナライザー機能を搭載し、ビデオ波形のレベル計測や 周波数測定ができます。 また、カメラ入力用電源を2ch独立して内蔵し、電流測定が可能です。 【特長】 ■1台でカメラ性能検査・ビデオ信号検査・欠陥検査が可能 ■ビデオ波形のレベル計測や周波数測定が可能 ■電流測定可能 ■PCとの接続はUSB2.0で行いシステム構築が容易 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 画像処理機器

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接触・非接触COT検査発行装置

出荷・受け入れ時点での、モジュールへの安心。大量生産を強力に支援します

『接触・非接触COT検査発行装置』は、ICカード用モジュールCOT(Chip On Tape)の出荷検査、並びに受け入れ検査及び発行を行う装置です。 COT段階でテストを行い、良品だけに共通部分のプログラムを書き込むことが できれば、0次・1次発行でのICカードの生産性を向上することが可能。 一般的なDC特性測定、高温負荷検査、非接触でのポーリング検査、発行、 外観検査も行えます。 【特長】 ■生産性を向上させることができる ■測定項目の変更や追加には、カスタマイズで柔軟に対応 ■お客様の信頼性あるICモジュール製品の大量生産を強力に支援 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他検査機器・装置
  • ICタグ

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モジュール検査装置 CM8200(指紋認証モジュール)

CCTECHのオーダーメイドのモジュール検査装置。外観検査を基本とし、お客様ニーズに対応するためフルカスタマイズすることが可能。

CM8200は指紋認証モジュールの外観検査対応、かつ、一部電気的特性のテストを可能にした検査装置になります。になります。基本は指紋認証センサーですが、CCTECHのCMシリーズはモジュールだけではなく、カスタマイズすることにより、あらゆる外観検査に対応することが可能。昨今RF関係の半導体など、ICパッケージの中に複数の半導体ダイを内蔵した製品が多く、それらの半導体チップ内部のサブストレート基板のワイヤーボンディングの検査、キズ、欠けなどの欠陥検査まであらゆる欠陥を検査することが可能な製品です。

  • 基板検査装置
  • 外観検査装置
  • 欠陥検査装置

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パワーモジュール検査装置『NSAT Series』

ワイドバンドギャップな計測技術!最大144UPHの高スループット検査を実現

当社で取り扱う、IGBT/SiC パワーモジュール検査装置『NSAT Series』 をご紹介いたします。 「NATS-1000」は、絶縁/静特性/動特性 自動検査装置。 自動ライン拡張可能で、IEC60747準拠測定。 「NATS-1630/1730」は、動特性手動検査装置で、外部PCやcloud等の 上位データ管理システムとの連携が可能となっております。 【NATS-1000 特長】 ■高温検査~175℃(~200℃) ■高スループット最大144UPH(25秒/ユニット) ■低LS 4.5nH ■自動ライン拡張可能 ■IEC60747準拠測定 ■AOI/そり検査/レーザーマーキング ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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IGBT/SiC パワーモジュール検査装置『NATSシリーズ』

低LS 4.5nH!ニデックアドバンステクノロジーの検査装置をご紹介

当社で取り扱う、IGBT/SiC パワーモジュール検査装置『NATS Series』を ご紹介いたします。 低LS値を実現し、高精度検査に対応した絶縁/静特性/動特性自動検査装置 「NATS-1000」と、外部PCやcloud等の上位データ管理システムとの連携が 可能な動特性手動検査装置「NATS-1630/1730」をラインアップ。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【特長】 <NATS-1000> ■絶縁検査(ISO) ■静特性検査(DC) ■動特性検査(AC) ■高温検査~175℃(~200℃) ■高スループット最大144UPH(25秒/ユニット) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

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モジュール検査装置 CM2030(カメラモジュール)

CCTECHのオーダーメイドのモジュール検査装置。外観検査を基本とし、お客様ニーズに対応するためフルカスタマイズすることが可能。

CM2030はイメージセンサーカメラモジュールの外観検査対応の検査装置になります。基本はイメージセンサーですが、CCTECHのCMシリーズはモジュールだけではなく、カスタマイズすることにより、さまざまな外観検査に対応することが可能。 昨今RF関係の半導体など、ICパッケージの中に複数の半導体ダイを内蔵した製品が多く、それらの半導体チップ内部のサブストレート基板のワイヤーボンディングの検査、キズ、欠けなどの欠陥検査までさまざまな欠陥を検査することが可能な製品です。

  • 半導体検査/試験装置
  • 基板検査装置
  • 外観検査装置

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自動3姿勢機構部

携帯電話用カメラモジュールの姿勢差を測定できます。

・カメラモジュールの検査装置です。 ・ストローク時の傾きとストローク量を測定します。 ・上向き/横向き/下向きの3姿勢を測定します。 ・機構部の移動は自動です。 ・測定ソフトと連携しています。 ・AF/OIS共に測定できます。 ・OIS測定時には、XY測定も行います。 ・オープンループ/クローズドループともに測定できます。 ・中置モーターの測定も可能です。

  • その他検査機器・装置

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