更新日： 集計期間:2025年08月20日～2025年09月16日
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自動光出力調整回路付！UV硬化やプロジェクターなど各種光学系に対応可能
『MLXシリーズ』は、小型で軽量の青色、緑色系半導体レーザー光源です。 赤色系半導体レーザーシリーズ同様に、輝度均一ラインレーザー光源や 各種工学系に対応します。 紫外光(375nm)から緑色(520nm)まで各種波長・出力があります。 【特長】 ■自動光力調整(APC)回路付 ■光出力調整可能(外部制御) ■フォーカス調整可能 ■小型軽量 ■低消費電力 ■各種オプション機能及び光学オプション対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
光沢紙程度の反射で干渉縞が出現！干渉縞で50mmの変化をとらえる干渉計
当製品は、レーザ走査を用いた干渉計です。 光沢紙程度の反射で干渉縞が出現。干渉縞で50mmの変化をとらえます。 サンプルをガラス面に置けば、簡単に干渉縞が見える倒立型の「LSMi-7000」 をはじめ、円筒用の「LSMi-7500」や正立型の「LSMi-8000」をラインアップ。 この他にも、5×50mmの範囲を3D形状計測できる超広視野共焦点型レーザ 走査イメージャ「LSM-5100-MH」も取り扱っています。 【特長】 ＜倒立型レーザ走査干渉計「LSMi-7000」＞ ■走査範囲は30mm×50mm、モニター上で拡大観察可能 ■セラミックスなどの細い傷、研磨不良、欠けなどが検査可能 ＜円筒用レーザ走査干渉計「LSMi-7500」＞ ■円筒の全面で干渉縞を観察可能、円筒の精密検査が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
走査幅4mmで0.2μmレベルの欠陥を検出！標準型レーザ走査イメージャをご紹介
『LSM-4000シリーズ』は、顕微鏡でもなくCCDカメラでもない第3の観察装置です。 幅広な長い画像を撮ることができ、細かな欠陥検査に好適。 セラミックス等のマイクロクラック、異物の検出が可能です。 当シリーズの他、大型レーザ走査イメージャ「LSM-6000シリーズ」や小型 レーザ走査イメージャ「LSM-3000シリーズ」もラインアップしています。 【LSM-4000シリーズ 特長】 ■標準型レーザ走査イメージャ ■透明フィルム、サファイア、ガラス、セラミックスなど、数μmのキズや 異物の検出（2画面表示） ■スーパーバリアフィルム、ITO膜のリペアー部検出 ■セラミックス等のマイクロクラック、異物の検出可能 ■走査幅4mmで0.2μmレベルの欠陥を検出 ■走査レンズは交換可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
ユーザカスタマイズ可能！レーザ顕微鏡の光学系を使用した新しい検査装置
当製品は、顕微鏡でもCCDカメラでもない第3の観察、検査装置です。 レーザラスター走査なので顕微鏡に比べ100倍以上の大きい視野を持っており、 長い画像（Yステージ移動）を撮り走査幅に応じてX軸を移動させると さらに広範囲な画像を取り込めます。 また、この他に、円筒面への描画や通常の平面基板への描画ができる 「テレセンfθ型レーザ直接描画装置」と描画用光学ユニット「LSU」も 取り扱っています。 【超広視野共焦点レーザ走査イメージャ検査装置 特長】 ■光学顕微鏡では見にくい透明フィルムやセラミックスなどの画像取得が可能 ■レーザラスター走査なので顕微鏡に比べ100倍以上の大きい視野を持つ ■長い画像（Yステージ移動）を撮り走査幅に応じてX軸を移動させると さらに広範囲な画像を取り込める ■走査レンズは特注仕様も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
FPD各種部材、光学欠陥検査装置、比類なき広視野 従来比５倍高速・高解像度、超広視野共焦点型・高分解能１μｍ
超広視野共焦点型・高分解能１μｍ、微小欠陥検査レーザ走査イメージャ 従来の顕微鏡光学系やSEMなどは狭い領域を高解像度で観察できるが、広い領域を簡便に観察できない。この課題をレーザ走査イメージャが解決します。 50×50ｍｍ範囲を３Ｄ形状計測できる 計測時間：１μｍ分解能 約３５秒 5μｍ分解能 約１０秒 ●計測幅：0.8μｍ 深さ：５nm ●最大45度傾斜で、形状測定が可。 ●キズや深い穴の欠陥も検出可。 レーザ走査イメージャの特徴 ・従来の顧微鏡やCCDカメラやラインセンサの欠点を克服した 新しい観察装置(照明装置がいらない) ・広い観察領域(顕微鏡の１００倍以上)と長いWDを持つ新開発専用走査レンス ・コントラストの高いレーザ共焦点方式光学ユニット ・レーザ共焦点顕微鏡光学系では初のラスター走査方式(長く大きな画像で大面積の画像を取得できる、マルチスキャン機能搭載) ・概略仕様 走査分解能が高い(1走査最大20000点)走査スピード4000ライン/秒 レーザはLD405nmを使用(650、830nmもあり) ・パソコンモニター上で拡大画像が見られる始めての装置です
「位置決め・ガイド光」や「計測」などに利用されている機器組込用の小型汎用レーザー光源。
機械・鉄鋼、建築・土木、アパレル、医療機等の幅広い産業分野において「位置決め・ガイド光」や「計測」などに利用されている機器組込用の小型汎用レーザー光源。各種半導体レーザ素子搭載可能。特注仕様品の対応も可能です。 貸出サンプル製品（デモ機）を準備しています。ご検討の際には、是非ご相談下さい！ ポイント，ライン，十字ライン(クロスライン)等の多彩なレーザパターンに対応。（サークルパターン等の特注品についてはご相談下さい） ・レーザ波長：515～780nm， レーザ出力：3～90mW（LD最大定格出力） ※入力電圧 専用ACアダプター又はDC5V(DC3V,12V,24Vは特注対応可） ※JIS C 6802に準拠したクラス1，1M,クラス2，2M対応可 ※詳しくは弊社ホームページをご確認ください。 弊社への問い合わせにつきましては下記の【エフエムレーザテック株式会社ホームページ】経由でお願いいたします。
◆ 波長 : 915, 976nm◆ 出力 : 150W◆ ファイバ：200/220･NA0.22◆ ファイバ長：5m
Focuslight社のFlux-Sシリーズレーザは、ファイバレーザポンプソース，レーザ半田つけ，プラスチック溶接，物質表面トリートメントを用途として開発されたレーザ光源です。パッケージもスタンドアローン式，OEM式から選べるため、研究機関の研究用途及び装置組込用として便利に使用可能です。また空冷式で150Wのオペレーションができますので、設備の面倒なチラーの設置も必要ございません。 Focuslight Technologies 社は2007年に中国 西安に創立された高出力半導体レーザ専門の会社です。Xi’an (China), Dongguan (China), Haining (China) 及び Dortmund (Germany)に38,500m²(8,700m² clean room)の生産拠点を有し、光学レンズの生産、表面処理、メタリゼーション、パッケージング、光学アッセンブリ、システムインテグレーション等を行っています。
独自の技術開発により、優れた温度特性と長時間の出力安定性能を実現！高出力タイプ（20mW）も間もなく登場！
位置決め・計測等の目視用途で使用している赤色レーザー光が見にくくお困りではありませんか？ 弊社では今まで出力制御に難のあったグリーンレーザーにおいて、独自の技術開発により赤色レーザーと同等レベルの出力安定性を実現しました。 位置決め・計測等を今まで以上に見やすく、迅速に行えます。 駆動回路・電源一体化のコンパクト形状で、汎用的に使用できます。 最大出力 は１[mW] 、３[mW] の２タイプ。照射形状はポイントタイプのほかラインタイプもあり、保持機構等の各種オプションもご用意しており、さまざまなニーズに対応可能です。 さらに、ご使用の環境に合わせてのアレンジも可能です。 グリーンレーザーポインターにつきましても国内で高いシェアを持っており、大手文具メーカーのグリーンレーザーポインターの多くは弊社で製造しております。 【OEM・ODM及び代理店を募集しております。詳しくは、カタログダウンロードまたはお気軽にお問い合わせください】
ABRIS-Mは 幅広いスペクトルレンジで倍率が選べ、焦点距離も変えられる高性能型。CCDカメラタイプ,CMOSカメラタイプ有り
IR Viewerは近赤外域のレーザ光をモノクロイメージで可視化できるもので、軽量ハンディタイプ ABRIS-M 特長 ●高解像度：60 LP/mm ●波長域：350～ 2000nm, 350～1700nm, 350～1300nm ●35時間連続使用が可能 ●バッテリー（35時間）（外部電源DC3V, 30mAも可能） ●ハンディタイプ: 400g （付属のポストで固定も可能） ●IRカットフィルター付き Contour IR-CCD は CCDカメラ型の近赤外ビューアで、高感度・低ノイズCCDカメラを使用したコンパクトタイプ。費用効果が高く、近赤外域の観察・検査・登録・記録などの幅広い用途に使用できる。 Contour IR Degital CMOS cameraは 最新のデジタルCMOSカメラ型近赤外ビューアで、高感度・低ノイズを実現している最新のCMOS技術を使用した軽量コンパクトタイプ。費用効果が高く、近赤外域の観察・検査・登録・記録などの幅広い用途に使用できる。
