レーザー光源のメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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レーザー光源(装置) - メーカー・企業と製品の一覧

更新日: 集計期間:2025年10月01日~2025年10月28日
※当サイトの各ページの閲覧回数を元に算出したランキングです。

レーザー光源の製品一覧

1~12 件を表示 / 全 12 件

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ネオアーク株式会社 製品案内

多岐にわたる先端の光学機器を開発!国内外のお客様にご提供します

当カタログは、レーザ・光技術専門メーカーのネオアークが取り扱う 製品をご紹介しております。 高精度な光の櫛(周波数目盛)を実現したレーザ光源「光周波数コム」を はじめ、マスクレス露光装置「PALET」やKerrループ測定/磁区観察装置 「BH-1071シリーズ」など、様々な製品をラインアップ。 その他にも「レーザ加熱装置」や「レーザ入射顕微鏡ユニット」などの 特殊事例も掲載しております。 【掲載内容】 ■レーザ光源 ■フォトリソグラフィ ■磁性材料測定・観察 ■振動・面内速度測定・観察 ■特殊事例 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • レーザ部品

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【特集】ウェブ検査システム 生産性向上のための9つのアドバイス

欠陥検査装置とレーザ走査技術や開発事例等を掲載!検査装置の概要をご紹介します

当資料では、超広視野レーザ走査イメージャ欠陥検査装置の概要について ご紹介しています。 「欠陥検査装置とレーザ走査技術」をはじめ、「開発事例」や「市場動向 とオプセルの対応」などを掲載。 ぜひご一読ください。 【掲載内容】 1.欠陥検査装置とレーザ走査技術 2.開発の経緯と独自技術の特長 3.開発事例 4.市場動向とオプセルの対応 5.現在使われているレーザ走査イメージャの例 6.応用、ユーザメリット ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • マイクロスコープ

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【特集】不良ゼロを目指す「外観検査システム」

欠陥場所を拡大すると微小欠陥が見えてくる!検査装置の概要をご紹介します

当資料では、超広視野レーザ走査イメージャ欠陥検査装置の概要について ご紹介しています。 「欠陥検査装置とレーザ走査技術」をはじめ、「開発の経緯と独自技術の特長」 や「開発事例」などを掲載。 ぜひご一読ください。 【掲載内容】 1.欠陥検査装置とレーザ走査技術 2.開発の経緯と独自技術の特長 3.開発事例 4.外観検査市場の動向と当社の対応 5.現在使われているレーザ走査イメージャの例 6.応用、ユーザメリット ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • マイクロスコープ

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超広視野共焦点レーザ走査イメージャ検査装置

ユーザカスタマイズ可能!レーザ顕微鏡の光学系を使用した新しい検査装置

当製品は、顕微鏡でもCCDカメラでもない第3の観察、検査装置です。 レーザラスター走査なので顕微鏡に比べ100倍以上の大きい視野を持っており、 長い画像(Yステージ移動)を撮り走査幅に応じてX軸を移動させると さらに広範囲な画像を取り込めます。 また、この他に、円筒面への描画や通常の平面基板への描画ができる 「テレセンfθ型レーザ直接描画装置」と描画用光学ユニット「LSU」も 取り扱っています。 【超広視野共焦点レーザ走査イメージャ検査装置 特長】 ■光学顕微鏡では見にくい透明フィルムやセラミックスなどの画像取得が可能 ■レーザラスター走査なので顕微鏡に比べ100倍以上の大きい視野を持つ ■長い画像(Yステージ移動)を撮り走査幅に応じてX軸を移動させると  さらに広範囲な画像を取り込める ■走査レンズは特注仕様も可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • マイクロスコープ

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FPD各種部材、光学欠陥検査装置、比類なき広視野

FPD各種部材、光学欠陥検査装置、比類なき広視野 従来比5倍高速・高解像度、超広視野共焦点型・高分解能1μm

超広視野共焦点型・高分解能1μm、微小欠陥検査レーザ走査イメージャ 従来の顕微鏡光学系やSEMなどは狭い領域を高解像度で観察できるが、広い領域を簡便に観察できない。この課題をレーザ走査イメージャが解決します。 50×50mm範囲を3D形状計測できる 計測時間:1μm分解能 約35秒 5μm分解能 約10秒 ●計測幅:0.8μm 深さ:5nm ●最大45度傾斜で、形状測定が可。 ●キズや深い穴の欠陥も検出可。 レーザ走査イメージャの特徴 ・従来の顧微鏡やCCDカメラやラインセンサの欠点を克服した 新しい観察装置(照明装置がいらない) ・広い観察領域(顕微鏡の100倍以上)と長いWDを持つ新開発専用走査レンス ・コントラストの高いレーザ共焦点方式光学ユニット ・レーザ共焦点顕微鏡光学系では初のラスター走査方式(長く大きな画像で大面積の画像を取得できる、マルチスキャン機能搭載) ・概略仕様 走査分解能が高い(1走査最大20000点)走査スピード4000ライン/秒 レーザはLD405nmを使用(650、830nmもあり) ・パソコンモニター上で拡大画像が見られる始めての装置です

  • 欠陥検査装置

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超広視野レーザ走査イメージャ『LSM-4000シリーズ』

走査幅4mmで0.2μmレベルの欠陥を検出!標準型レーザ走査イメージャをご紹介

『LSM-4000シリーズ』は、顕微鏡でもなくCCDカメラでもない第3の観察装置です。 幅広な長い画像を撮ることができ、細かな欠陥検査に好適。 セラミックス等のマイクロクラック、異物の検出が可能です。 当シリーズの他、大型レーザ走査イメージャ「LSM-6000シリーズ」や小型 レーザ走査イメージャ「LSM-3000シリーズ」もラインアップしています。 【LSM-4000シリーズ 特長】 ■標準型レーザ走査イメージャ ■透明フィルム、サファイア、ガラス、セラミックスなど、数μmのキズや  異物の検出(2画面表示) ■スーパーバリアフィルム、ITO膜のリペアー部検出 ■セラミックス等のマイクロクラック、異物の検出可能 ■走査幅4mmで0.2μmレベルの欠陥を検出 ■走査レンズは交換可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • マイクロスコープ

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コンパクト ピコ秒パルスレーザ光源 LDB-160

◆コンパクトサイズ・使いやすい ◆波長375-1550nmより選択 ◆PC制御・スタンドアローン動作可能

半導体レーザ(LD)を使用した光源です。学術研究から製品開発まで幅広くご利用いただけます。5V電源ケーブル付属ですので、特別な電源の用意も必要ありません。ノートPCからUSB接続で手軽にご利用頂けます。※波長375-1550nmの中から選択 ※ファイバ出力タイプと空間光出力タイプがあります。 複数の光源を完全に制御できるソフトウェアが無料で添付されます。(納入したその日から稼働できます)また、ソフトウェア開発用のDLLとAPI説明書も無償配布いたしますので、お客様による独自のソフトウェア開発も自由自在です。(DLLはWindows用の.NET Framework4.0で作成されています。VC++,VC#,VB,LabVIEWなどで開発が可能です。) 《珠電子株式会社》は1997年に静岡県に設立された超短パルス半導体レーザ光源装置の製造販売を行うメーカーです。独自の駆動電源により375~1550nmの半導体レーザにおいて、高ピークパワーのピコ秒パルス光源装置を製造しています。

  • その他光学部品
  • その他理化学機器

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ナノ秒パルスレーザ光源『LDB-300シリーズ』

シード光源や蛍光寿命測定に応用可能なハイパワーナノ秒パルスレーザ光源

『LDB-300シリーズ』は、装置への組み込み、研究・実験に適した ハイパワーナノ秒パルスレーザ光源です。 インターロックによる非常停止機能を搭載し、PCからUSBによる 操作が可能で、ソフトウェアは自由に開発できます。 シード光源をはじめ、蛍光寿命測定やバイオイメージングなどに 応用可能です。 【特長】 ■ターンキーによる安全な電源スイッチ ■インターロックによる非常停止機能 ■PCからUSBによる操作可能(ソフトウェア添付) ■ソフトウェアは自由に開発可能 ■スタンドアローン動作(LD TEC ON/OFF) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他照明機器

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小型マルチカラーレーザ光源

カスタム対応可能!高い出力安定性を手のひらサイズで実現した小型マルチカラーレーザ光源

当製品は、バイオメディカル用に好適な小型マルチカラーレーザ光源です。 最大4波長をご選択でき、単一ファイバから同時出力も可能。 高い出力安定性を手のひらサイズで実現しており、装置の小型・ 低コスト化に適しています。 また、ドライバオプション搭載によりプラグアンドプレイ化が可能です。 【特長】 ■最大4波長(405nm~905nm)のレーザを選択可能 ■当社独自の532nm, 561nm, 594nm高安定出力レーザ光源搭載可能 ■手のひらサイズの小型パッケージ(80x80xt30mm) ■ファイバ曲げに強い安定した光出力(安定性<2%) ■CW,パルス駆動ドライバ(オプション)によるプラグアンドプレイ化 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • レーザ部品

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ピコ秒パルス光源『OPG-1000PLシリーズ』

光源ヘッド2台を同時駆動!250MHzまでの高繰り返しに対応するピコ秒パルス光源

『OPG-1000PLシリーズ』は、半導体レーザダイオード(LD)を内蔵したヘッドと、 当該ヘッド駆動用の電源供給・コントローラにより構成され、迅速で安定的な 半導体レーザダイオード光源を実現するピコ秒パルス光源です。 LDパッケージ内蔵フォトダイオードによるAPC制御、フォトダイオード無しの場合の 外部APC制御(外部のフォトダイオード等)、ACC制御(駆動電流一定モード)に対応。 当装置は、GPIBインターフェイスを標準で備えており、外部からの制御が可能です。 【特長】 ■波長ラインアップ:375nm〜1550nm ■250MHzまでの高繰り返しに対応 ■DC点灯(CWモード)により光軸調整可能 ■アナログ変調も可能(10KHz〜1GHz) ■GPIB 外部制御 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他照明機器

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ポンプレーザ光源~ファイバレーザ向等~ (Focuslight)

◆ 波長 : 915, 976nm◆ 出力 : 150W◆ ファイバ:200/220・NA0.22◆ ファイバ長:5m

Focuslight社のFlux-Sシリーズレーザは、ファイバレーザポンプソース,レーザ半田つけ,プラスチック溶接,物質表面トリートメントを用途として開発されたレーザ光源です。パッケージもスタンドアローン式,OEM式から選べるため、研究機関の研究用途及び装置組込用として便利に使用可能です。また空冷式で150Wのオペレーションができますので、設備の面倒なチラーの設置も必要ございません。 Focuslight Technologies 社は2007年に中国 西安に創立された高出力半導体レーザ専門の会社です。Xi’an (China), Dongguan (China), Haining (China) 及び Dortmund (Germany)に38,500m²(8,700m² clean room)の生産拠点を有し、光学レンズの生産、表面処理、メタリゼーション、パッケージング、光学アッセンブリ、システムインテグレーション等を行っています。

  • その他光学部品
  • その他理化学機器

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エキシマレーザ

XeF(キセノン・フッ素)351nmなどの発振波長があります!ヒカリの用語をご紹介

「エキシマレーザ」は、希ガスやハロゲンなどの混合ガスを 用いて発生されるレーザ(装置)です。 代表的な発振波長には、XeF(キセノン・フッ素)351nm、 XeCl(キセノン・塩素)308nm、KrF(クリプトン・フッ素)248nm、 ArF(アルゴン・フッ素)193nmがあります。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【代表的な発振波長】 ■XeF(キセノン・フッ素)351nm ■XeCl(キセノン・塩素)308nm ■KrF(クリプトン・フッ素)248nm ■ArF(アルゴン・フッ素)193nm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • レーザ部品

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