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恒温恒湿試験前後の曇価測定、IR分析で素材の特性、分子構造変化が把握できます！
『信頼性試験、曇価（ヘーズ）測定、IR分析のセットメニュー サービス』についてご紹介します。 プラスチック（樹脂）素材は、使用環境により変色、変質する場合があり、 透明素材は、その透明性、高い透過率が価値ある特性となりますが、 劣化変質によりその特性が低下することで、素材としての機能を失います。 当資料では、「信頼性試験装置例」をはじめ「曇価測定結果」や 「IR分析結果」を表とグラフを用いて解説。 是非、ご一読ください。 【掲載内容】 ■信頼性試験装置例（恒温恒湿試験装置） ■曇価（ヘーズ）測定結果 ■IR分析結果 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
接続信頼性試験法やマイグレーション試験などを、写真や図表を用いて詳しく解説！
当資料では、信頼性試験の接続信頼性とマイグレーション試験について ご紹介しております。 冷熱衝撃試験結果では、スノーホール全体をはじめ、クラック発生部、 コーナー部の写真を掲載。 ホットオイル試験／導通抵抗値測定では、試験方法や試験結果なども ご紹介しております。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■接続信頼性試験法 ■冷熱衝撃試験結果 ■冷熱サイクル試験後断面観察(500サイクル) ■マイグレーション試験 ■ホットオイル試験／導通抵抗値測定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
気相式に比べ短時間での評価が可能！さまざまなプリント基板に対応
『PH-500』は、プリント基板の熱衝撃試験条件（JIS C5012）に準拠した、 ホットオイル信頼性試験機です。 多層、フレキシブル、両面などさまざまなプリント基板に対応。 また、260℃でのテストが可能で、発売以来、プリント基板メーカーの 標準検査設備として多数の納入実績があります。 【特長】 ■連続した導通抵抗の測定が可能 ■タッチパネルの導入により、簡単操作 ■基板サイズ・形状により取付治具の個別対応が可能 ■自動運転開始モード選択可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
観察・分析など！冷熱衝撃試験等の信頼性評価を実施します
当社は、冷熱衝撃試験、低温試験、高温硬質試験等の信頼性評価を実施しております。 信頼性試験後の観察・分析等も実施します。 試験実施後の評価（変退色、色差、光沢度、引張試験等）についても実施していますので、お問い合わせください。 【試験】 ○熱冷衝撃ヒートショック試験 ○恒温恒湿試験 ○低温試験 ○恒温水槽試験 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
長年の経験と実績を活かし、お客さまの信頼性試験をトータルにサポートします
エスペックでは、環境試験器の販売だけでなく、長きにわたり環境試験の 研究や試験方法の開発などを行ってきました。 その数多くの経験と実績を活かし、信頼性試験の設計から評価・解析、 さらには評価結果に対する改善提案まで、プロセス単位またはトータルに お客さまの信頼性試験を受託いたします。 また、新しい環境試験器をラインアップしておりますので、お客様の 要望に応じてさまざまな試験にお応えできます 【特長】 ■周辺システムを含めた試験設計（コンサルティング） ■公的に認められた試験所 ■長年の経験と実績 ■お客さまの信頼性試験をトータルにサポート ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
高電圧絶縁計測＋100n秒以下の高速イベント収録が可能！筐体デザインも一新しました
『HVUαシリーズ』は、部分放電による瞬間的な電流変化も検出可能な 高電圧絶縁信頼性試験装置です。 最大4000Vの印加電圧で高電圧デバイスのTDDB試験、インバーター回路基板等の エレクトロケミカルマイグレーション試験、各種高電圧部品の絶縁信頼性試験 などにご活用頂けます。 また印加電圧は、1チャンネル単位で100V～4000Vの間で任意に設定可能。 1000V、2000V、3000Vのモデルも標準ラインアップしています。 【特長】 ■最大4000Vの高電圧で様々な用途に対応 ■部分放電による瞬間的な電流変化も検出可能 ■全CH個別フィードバック制御で安定した電圧印加 ■PC1台で最大200チャンネルまで拡張可能 ■アクティブガードケーブルで低ノイズ計測 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
マザーテクノロジーで未来を拓く アールムテック サービスご紹介
【取扱い製品紹介】 ●温度信頼性試験装置 ハイタオ製サーマルショック装置は温度信頼性試験環境として －55℃→＋125℃まで10秒で昇温 ＋125℃→－55℃まで16秒で降温 急速温度変化環境を提供します。 ●サップコールド 弊社相模原サービスセンターにて全数出荷前検査を行い日本、台湾、中国、東南アジアに出荷しています。 フロン排出規制に対応した冷凍機のため、既存設備からの載替を行っています。 ●GCIB（ガスクラスターイオンビーム） 数十〜数万個の気体原子よりなるクラスターをイオン化し、適度なエネルギーに加速して照射する技術です。低エネルギーイオンエッチング、高品位成膜・表面平滑化が実証されています。 ●Multiple APC 高い安定性と幅広い互換性を兼ね備えたオート・プレッシャー・コントローラー ●DP-eco 電気代削減で環境に優しいDP用省エネ・ユニット ●イオンビームエッチング/スパッタリング装置 お客様仕様に合わせて設計致します。 小型実験機～CtoC量産装置に対応。 ●消耗品 ●薄膜材料 ●KRI社製イオンソース DC、RF、エンドホール
サーマルショックは十数秒での昇温/降温によって温度信頼性環境を提供します。
・温度変化範囲 ETS-210-10S：-55℃～+180℃ ETS-310-10S：-65℃～+220℃ ETS-410-10S：-80℃～+220℃ ・温度変化時間 -55℃⇨+125℃ 10秒 +125℃⇨ -55℃ 16秒 最短時間内に冷温熱衝撃を与え、テストサンプルの化学的・物理的・電気的時間変化を確認でき、研究開発および生産効率の向上に最適です。
研究開発及び生産効率の向上に好適！十数秒での昇温・降温により、温度信頼性環境を提供します。
『Thermal Shock ETSシリーズ』は、5G通信用デバイス、半導体、チップ、 センサー、マイクロエレクトロニクスなど幅広い分野にて使用されている 環境信頼性試験装置です。 短時間にて冷熱衝撃をかけたテストサンプルの化学的・物理的・ 時間変化を確認可能。 研究開発及び生産効率の向上に好適です。 ・温度変化範囲 ETS-210-10S：-55℃～+180℃ ETS-310-10S：-65℃～+220℃ ETS-410-10S：-80℃～+220℃ ・温度変化時間 -55℃⇒+125℃ 10秒 +125℃⇒ -55℃ 16秒 【特長】 ■自社開発コントロールシステム ■大型タッチスクリーン ■超低騒音 55dB(A) ■省エネ30％以上 ■長時間低温テストでも霜発生無し ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
絶対的安全・環境性が求められるお客さまに、満足と安心を提供。エンジン等の大型サンプルの振動試験や半導体寿命試験などに。
大型の試料を試験したい、大量の試料を同時に試験したいというニーズに対するため、大型振動試験装置、大型気槽冷熱衝撃装置、大型液槽冷熱衝撃装置を保有しています。 エンジン等の大型サンプルの振動試験、パワーコントロールユニット等の大型デバイスのウィスカ、半導体寿命試験を実施できます。 【特長】 ■大型複合振動試験装置 ⇒最大積載400ｋｇ・温度-70℃まで対応 ⇒加振機仕様・恒温槽仕様（垂直・水平ともに可） ■大型気槽冷熱衝撃装置 ⇒300Lクラス・ダンパ切替による3パターン方式 ■大型液槽冷熱衝撃装置 ⇒テストエリア容量 約15L ⇒試料カゴ移動による2槽方式 ※詳細に関しましては下記までお問い合わせまたはカタログをダウンロードしてください。
気相式に比べ短時間での評価が可能！さまざまなプリント基板に対応
『PH-500』は、プリント基板の熱衝撃試験条件（JIS C5012）に準拠した、 ホットオイル信頼性試験機です。 多層、フレキシブル、両面などさまざまなプリント基板に対応。 また、260℃でのテストが可能で、発売以来、プリント基板メーカーの 標準検査設備として多数の納入実績があります。 【特長】 ■連続した導通抵抗の測定が可能 ■タッチパネルの導入により、簡単操作 ■基板サイズ・形状により取付治具の個別対応が可能 ■自動運転開始モード選択可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
RD＆QRA活動の共通ラボとして社会に貢献し続けることを使命に掲げています！
MA-tek社は、台湾、中国市場において分析、解析診断を行える コンサルティングラボとして多くのお客様から支持されています。 日本市場でも目指しているのは、同じポジション。 役割としては、RD＆QRA活動の共通ラボとして社会に貢献し続けることを 使命に掲げています。 【事業内容】 ■信頼性試験（RA） ■故障解析（FA） ■材料分析（MA） ■表面分析（SA） ■化学分析（CA） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
両振りねじり試験など、さまざまな条件での試験に対応可能！
当社で保有している「強度信頼性試験機」についてご紹介いたします。 金属同士を摺動させ、金属表面にダメージを与え、焼き入れ状態や成分、 それらを潤滑しているオイルが狙った機能を持っているか等を確認・評価。 また、軸受に使われるブッシュラジアル力とスラクト力を加え回転させる事で 各部の耐焼き付き性の確認・評価が可能です。 【保有設備】 ■疲労・破壊試験機 ■ローラピッチング試験機 ■回転ラジアルスラスト試験機 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
疲労破壊初期では応力集中部に結晶方位差が発生し、その後、動的再結晶により方位差が拡大することで、クラックの発生、進展に繋がります
はんだ接合部の高温化が招くクラックについて、その進展メカニズムを ご紹介します。 はんだ付け部の信頼性で、クラックは最大の問題になります。近年、 パワーモジュールをはじめとする電子機器で、接合部の高温化が進んでおり Δtの増大によるクラックの促進は大きな懸念事項になっています。 まだまだその原因や対策について確立されているとはいえません。 当社でも引き続き、断面研磨、EBSD観察を主に原因や対策を考えていく とともに、皆様のご要望、問い合わせ、試験受託に対応していく所存です。 【クラックの種類】 ■初期クラック：部品めっき不良、反りによる剥離、BGAボール落ち等 ■落下等衝撃によるクラック ■疲労破壊によるクラック ・高温で一定の応力が負荷されるクリープ破壊 ・繰り返しの加熱冷却で発生する熱疲労破壊 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
当社で保有する装置は、半導体や多層の基板評価等に適した試験装置です！
『HAST(PCT)』は、樹脂封止された半導体等の電子部品を通常の使用環境より 高い水蒸気圧の雰囲気に晒すことにより、短時間に供試品の内部に水分を 侵入させ、樹脂封止の気密性を評価することを目的にした試験です。 その試験のうち、JIS C 60068-2-66の不飽和加圧水蒸気における 通電試験も可能。 当社で保有する装置は、半導体や多層の基板評価等に適した試験装置です。 【概要】 ■HAST(不飽和加圧蒸気試験) ・電子部品の信頼性試験(評価)に採用されたもので、デバイスに温度と 湿度ストレス、場合によってはバイアスを同時に加える方法が とられており、並列複合試験の代表的な試験方法 ■PCT(飽和加圧蒸気試験) ・飽和水蒸気での高温試験で、HAST以上に厳しい試験条件設定が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
