X線光電子分光分析法(XPS)
材料の最表面をXPS（X線光電子分光法）によって評価することで、お客様の材料評価を支援いたします。
X線光電子分光法（XPS）は、様々な分野の開発、品質管理において不可欠なツールです。お客様の製品の性能向上、不良原因の究明、そして次世代材料の開発に、XPSをご活用ください。XPSは、試料の極表面（数nm）にX線を照射し、そこから放出される光電子のエネルギーを精密に分析することで、以下の情報を明らかにできます。 (1)構成元素の特定: リチウム（Li）からウラン（U）までの幅広い元素を分析できます。 (2)深さ方向分析: アルゴンスパッタリングを併用することで、表面から深さ方向の元素組成を評価できます。薄膜の膜厚評価や界面分析に有効です。 (3)大気非暴露分析: 特殊な装置を用いることで、大気に曝すことなく試料を分析できます。これにより、大気中の成分による表面汚染や変質の影響を防ぎ、真の表面情報を取得できます。 (4)絶縁物の測定: 幅広い材料の分析が可能です。
- 企業：株式会社大同分析リサーチ
- 価格：応相談
