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様々なニーズに対応可能！卓越した操作性、高感度測定を実現したXPS装置をご紹介
『K-Alpha』は、新しい技術の採用により、最高レベルの操作性と比類のない パフォーマンスを同時に実現した完全自動X線光電子分光装置です。 低出力・高強度のX線モノクロメーターを搭載しており、50μmから400μmまで 5μmステップで分析エリアを選択可能。 分析エリアを目的の試料サイズに調整することにより、最高レベルの 信号強度を得ることができます。 【特長】 ■高感度、高エネルギー分解能XPS測定 ■マイクロフォーカス型X線源による微小領域分析 ■試料鉛直方向からのリアルタイム試料観察機構 ■抜群の操作性と高スループット ■Thermo Scientific Avantageデータシステムによる 測定、解析、装置コントロールの統合制御 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
微小領域、多機能分析を実現！多機能オプションが搭載可能なX線光電子分光装置
『Nexsa』は、最高レベルのパフォーマンスと測定の完全自動化を 両立したX線光電子分光装置です。 新型モノクロメーターX線源は、高感度測定を維持しつつ5μmステップで 10～400μmまで測定することが可能。 高効率レンズ系と検出器のコンビネーションにより 高感度・高速のXPS分析を実現します。 【特長】 ■低濃度化合物や微小領域の測定が可能 ■最高レベルのパフォーマンスと測定の完全自動化を両立 ■多機能オプションが搭載可能 ■高感度・高速のXPS分析を実現 ■絶縁物の測定が容易に行える ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
研究室で最大0.1気圧環境下のオペランド測定が可能
EnviroESCAは試料を準大気圧（最大0.1気圧）環境下で測定し、従来のような超高真空環境を必要としません。液体・含水性試料はもちろん、揮発試料や激しく脱ガスする多孔質な試料でも、EnviroESCAの試料室に投入後、僅か数分後には測定を開始します。従来型XPSでは測定を諦めていた試料を分析できるだけでなく、雰囲気ガスや温度を自由に制御して新しい研究分野を開拓する強力な武器となります。現在急速に注目を集めている、デバイス動作環境下での測定、いわゆる“オペランド測定”も簡単に実現できます。超高真空環境を必要としないEnviroESCAであれば、短時間に多量の検査を必要とする生産ラインでの品質検査でも効率的に運用可能です。ロボット・オートローダーを使用して、無人で試料導入から測定までをバッチ処理することもできます。 X線光電子分光＝超高真空環境下の既成概念を払拭するEnviroESCAは、新奇の研究開発を牽引し、さらにX線光電子分光法に医療・バイオ・ライフサイエンスなど全く新しい活用の場を提供する装置です。
新型検知器の採用！板状・粉状のサンプルを25個まで自動測定できます
『AC-5』は、新センサ採用で1秒間で最大4000個まで光電子を 計数できる光電子分光装置です。 最大180mm×180mmの大型サンプルを装着でき、スポット指定測定で 任意の場所を測定可能。 また、オプションのサンプルチェンジャーで板状・粉状のサンプルを 25個まで自動測定ができ、Xe(キセノン)ランプを使用することで、 トナーなど電子が出にくい物質の高感度測定もできます。 【特長】 ■仕事関数・イオン化ポテンシャルが大気中で約5分で測定できる ■大きなサンプルの測定が可能(MAX180mm×180mm) ■連続測定が可能(1回最大25個) ■新型検知器の採用(1秒間の電子数の測定が当社比2倍に) ■粉体・液体の測定が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
「誰もが、簡単に、直ぐに使えること」
日本電子株式会社 JPS-9030 光電子分光装置(XPS)は、日本語環境で操作できる新設計のユーザーインターフェースを採用し、「誰もが、簡単に、直ぐに使えること」を実現しました。また、カウフマン型エッチングイオンソースやツインアノードを標準装備の上、汎用XPSでありながら高温加熱システムやガスクラスターイオンソース等幅広い拡張性も備えています。 〇特長 ・nmからμmまで幅広い目的に対応したデプスプロファイル (深さ方向分析) が可能 ・使いやすさを追求した新開発ソフトウェア ・ハイエンド機に匹敵する超高感度 ・豊富なオプション ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
大気中で遠紫外線領域(4.00-7.00eV)での光電子測定が可能な光電子分光装置
『AC-3』は、最高被占軌道近傍の状態密度や仕事関数、イオン化 ポテンシャルを大気中で簡単に測定可能な大気中光電子分光装置です。 またナノメートルオーダーの極表面の情報や極薄被膜の膜厚(0-20nm) を測定することもできます。 【特長】 ■真空中に持ち込めない、粉状や液体状の試料も測定可能 ■1回の測定時間はわずか5分程度 ■イオン化ポテンシャルを大気中で簡単に測定 ■膜厚（0-20nm）を測定可能 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。
