特定の官能基を化学修飾し、導入したマーカー元素からC=Cの有無や量比を評価した事例を紹介します。
高分子材料表面の元素の化学結合状態の把握にはX線光電子分光（XPS）が用いられますが、C=C、C-C、C-Hの化学結合を区別することは困難です。そこで、四酸化オスミウム（OsO4）でC=Cを化学修飾し、導入したマーカー元素（Os）からC=Cの有無や量比を評価した事例を紹介します。 【分析試料】 （1）ポリブタジエン薄膜 （2）モノマー配合比が異なる2種類のスチレン－ブタジエンゴム 【分析方法】 各試料の表面に、OsO4を用いた化学修飾処理を施してからXPS測定しました。 XPS；：単色化AlKα線（アルバック・ファイ製 PHI5000 VersaProbe II） OsO4を用いた化学修飾処理とXPS分析を組み合わせることで、樹脂表面だけでなく、表面改質層、コーティング層、接着層などに含まれるC=Cの有無や量比を評価することができ、材料の性能評価に有効です。また、樹脂の劣化度合いの指標としても、C=C量の評価は有効であり、新品の材料とC=C量比較することで材料の劣化度合いを評価することが可能です。
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