2 種類の金属箔を XPS 装置内で加熱し、加熱による金属元素の化学状態変化を評価した事例を紹介します。
【分析試料】 (1) Cu 箔：大気中で加熱して変色させた Cu 箔を分析に供しました。 (2) Ag 箔：大気中腐食により変色した Ag 箔を分析に供しました。 【分析方法】XPS 分析 XPS；単色化 AlKα線（アルバック・ファイ製 PHI5000 VersaProbe II） 各試料とも室温で測定後、そのまま装置内（真空下）で 500℃に加熱し、加熱後に再度測定しました。 【まとめ】 XPS 分析を行うことで、真空下での試料の温度上昇に伴う化学状態の変化を評価することが可能です。 また、カネカテクノリサーチが保有する X 線光電子分光（XPS）装置は、今回行った加熱前後での XPS 測定の他に、加熱しながらの XPS 測定も可能であるため、反応速度が遅ければ、化学状態が変化していく様子を評価することも可能です。
この製品へのお問い合わせ
カタログ（1）
カタログをまとめてダウンロード
企業情報
株式会社カネカテクノリサーチは1988年に設立され、企業理念のもと 「分析サービス」と「技術情報サービス」の分野でお客様に信頼される パートナーになることを目標として事業を展開してまいりました。 当社は先見的で高度な分析技術、調査技術を有するプロフェッショナルの 集団として、お客様が抱える課題の解決策を提案し、それを実現する 質の高い技術サービスを迅速に提供することにより、お客様から信頼される 課題解決型技術サービス企業となることを目指して日々研鑽に努めて参ります。 皆様から一層のご指導、ご支援を賜りますよう、心よりお願い申し上げます。
![[HAXPES]硬X線光電子分光法](https://image.mono.ipros.com/public/product/image/e31/2001512026/IPROS13284235485210605376.jpg?w=280&h=280)
