電子機器の加速劣化試験サービス
お客様の製品に適した加速劣化試験を“具現化”して提案・実施！加速劣化試験はお任せください
電子機器の軽薄短小化により配線の狭ピッチ化、ファインパターン化が 加速し、さらには使用環境の過酷化に伴い、より一層、マイグレーションを 代表とした絶縁劣化などのリスクが高まっています。 当社は、各種公的規格に準拠した試験は勿論、長年、各種電子機器の 品質保証で培ってきた試験・ノウハウを ベースに、お客様のご要望に 即した加速劣化試験を実施いたします。 製品の使われ方やお悩み事項等のヒアリング内容から、お客様の製品に 適した加速劣化試験を“具現化”して提案・実施。 部品選定・評価検討段階から、お気軽にご相談下さい。 【特長】 ■一般的な温湿度・電圧印加は勿論、絶縁劣化時でも好適な印加電圧を ダイナミックに自動制御し、絶縁劣化後の最悪事象の確認が可能 ■加速劣化試験の立案・実施の他、試験終了後、 絶縁劣化箇所の特定から、 劣化・断線箇所の顕微鏡撮影、成分分析のご要望までワンストップで対応可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：ユーロフィンFQL株式会社
- 価格：応相談
