【納入実績】計測・制御機器 半導体検査装置
コストパフォーマンスの大幅向上を図る複数個同時測定等に対応可能
ロジックデバイスで代表されるように、半導体テクノロジーはすさまじい 勢いで進化しており高速化、多機能化、多ピン化傾向となっています。 デバイスの機能を測定する半導体検査装置をお客様の仕様に基づき、 専用機として設計製作します。 長大テストパターンを考慮した大容量パターンメモリの搭載、 高タイミング精度、100MHzのテスト周波数での高速ファンクションテスト、 512ピンの多ピン対応、コストパフォーマンスの大幅向上を図る 複数個同時測定等に対応可能です。 【特長】 ■お客様の仕様に基づき、専用機として設計製作 ■長大テストパターンを考慮した大容量パターンメモリの搭載 ■高タイミング精度 ■100MHzのテスト周波数での高速ファンクションテスト ■512ピンの多ピン対応可能 ■コストパフォーマンスの大幅向上を図る複数個同時測定等に対応可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：応用電機株式会社 神奈川事業部（大和工場）
- 価格：応相談
