Last Updated： Aggregation Period:2026年05月06日～2026年06月02日
This ranking is based on the number of page views on our site.
Last Updated： Aggregation Period:2026年05月06日～2026年06月02日
This ranking is based on the number of page views on our site.
Last Updated： Aggregation Period:2026年05月06日～2026年06月02日
This ranking is based on the number of page views on our site.
1～9 item / All 9 items
測定対象に合わせてカスタム製作！「色温度」「分光」など多種多様な光源をご用意できます！
『LMx-シリーズ』は、透過率測定、反射率測定が可能な製品です。 サンプルに対して平面上の複数点、又は角度を振って角度特性を 測定することも可能。細かく測定点を変更しながら大量にデータを 取得したい場合には、測定工数が大幅に削減できます。 また当社では、「色温度」「輝度・照度」「分光」など、多種多様な 光源をご用意しております。 ご用命の際は、お問い合わせください。 【特長】 ■輝度計と光源を組み合わせて測定システム化 ■測定対象に合わせてカスタム製作 ■透過率、反射率を測定表示 ■電動機構により複数点の測定を自動化 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
微小領域、曲面、極薄試料の高速、高精度測定をかつてない低コストで実現
●定価：4,000,000円(税別) ●デモのご希望がございましたらお問い合わせください。
わずか3秒・高精度で 連続測定可能！ ーオリジナルの近赤外反射率測定器を開発いたしますー
お客様のニーズに応じた特定の近赤外領域による反射率測定器を開発設計を致します。 ◆ 選択可能なLED光源の波長：７５０nm～１６５０nm（２０２３年７月現在） ◆ 光学系の投受光方式：単方向照射ー積分球受光方式または単方向投受光方式 ◆ 測定可能な反射率：全反射率、正反射率、拡散反射率及びビームスプリッター（ハーフミラー）を応用した再帰反射率 ◆ 設計可能な照射角および受光角：法線方向に対しそれぞれ０°～８０°MAX 尚、近赤外領域に限定せず、ある特定波長の反射率を計測したい場合もご要望に応じた反射率測定器を製作致します。 ● 自社開発の測定器は、充電型の軽量コンパクトな本体 ● 近赤外の波長に特化した測定により低価格を実現 ● 遮熱製品の性能評価をわずか3秒で計測することが可能 製品版として遮熱特性測定器【TP-01】4波長を販売
XRR：X-ray Reflectivity
XRRは、X線を試料表面に極浅い角度で入射させ、その反射強度を測定します。この測定で得られた反射X線強度プロファイルをシミュレーション結果と比較し、シミュレーションパラメータを最適化することによって、試料の膜厚・密度を決定する手法です。 ・膜厚の評価が可能 （2～300nm 程度） ・密度の評価が可能 ・表面粗さの評価が可能（Rms = 5nm 以下） ・非破壊で分析が可能 ・約10×20mm の広い範囲の平均情報を得ることが可能
膜構造・組成情報があらかじめ分かれば、多層膜もシミュレーションにより評価可能！
当社で行う「X線反射率測定(XRR)による薄膜評価」についてご紹介いたします。 X線反射率測定(XRR)は、臨海全反射各近傍でのX線の減衰や干渉縞のある X線プロファイルと計算で得られたプロファイルをフィッティングさせることで、 表面(界面)粗さ・膜密度・膜厚の情報を得ることができます。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【解析可能な薄膜】 ■試料表面：鏡面(表面粗さ 5nm以下) ■試料サイズ：30mm×30mm以上 ※サイズが小さい場合はご相談 ■膜厚：2nm～500nm ■必要な情報：膜構造および膜組成情報 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
かつてない低コストで実現
●特殊ハーフミラー（特許取得済）の採用により、裏面反射光をカットし、裏面処理無しで短時間で正確な測定ができます。（薄板0.2mmの反射率測定が可能：×20倍対物レンズ使用時） ●レンズ曲面、コーティングむらも測定可能です。（試料面に微小スポット（φ50μm）を結ぶ） ●低反射試料でも短時間で再現性の高い測定ができます。（独自の光学設計により光量を最大限に取り込み、512素子のリニアPDA、16bit A/Dコンバータ内蔵、USB2.0インターフェース高速演算でスピーディな測定を実現） ●色度測定、L*a*b*測定ができます。分光反射率から分光測色法に基づき物体測定ができます。 ●Microsoft Excel(R)形式でのデータ保存が可能です。 ●単層膜を非接触、非破壊で測定ができます。 ●同一の画面上に複数の測定結果を表示機能付きです。測定結果の比較が容易になります。
反射率測定装置
反射率を簡単に測定できる分光光度計です。 分光器、光源、ファイバの一体型で簡単・瞬時に測定し、面倒な設定や光軸調整は必要ありません。 光源+CCD・InGaAs検出器により、250nm〜1700nmの範囲で、毎秒20〜100スペクトルの高感度・高速測定 が可能になりました。
X線反射率測定（XRR）で膜厚・密度の分析が非破壊で可能です
有機ELディスプレイは自発光原理による高輝度、高精細カラー、薄型化等の利点を活かし、実用化が進みつつあります。有機ELデバイスは有機膜を積層させて作製しますが、有機膜積層状態での有機膜分析を行うことは困難でした。今回、XRR法を用いることによって、積層状態のまま、有機膜の膜厚測定および密度測定を行うことが可能となりました。 結晶質、非晶質を問わず、積層膜の膜厚および密度の分析が可能です。
東北大学技術のご紹介（T07-098）：集光精度の高い曲率分布結晶レンズを実現！ Ｘ線強度を高め、装置の小型化、長寿命化が可能！
従来のＸ線用モノクロメータは、分光結晶を弾性的に少し曲げ、その後研磨に よって所定の回折が均一に得られるように仕上げが行われている。しかし、この弾性 限界内で変形させた作成方法では、曲率の大きな曲げができないため、大型の Ｘ線装置にしか用いることができないことに加え、弾性変形結晶の保持における変 形量の安定性、経年変化の問題もある。 本発明によって、入射角範囲が広く、集光精度の高い曲率分布結晶レンズを実 現することが可能となった。本発明の曲率分布結晶レンズは、GeまたはSiの(110) 単結晶板を高温型押し成型により塑性変形させて作られることを特徴としている。 また、本発明のＸ線反射率測定装置は、上記の曲率分布結晶レンズを備えるこ とで広角度での集光が可能となり、Ｘ線強度を飛躍的に高めることができる。
