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接触式表面粗さ・形状測定機の特長など、多数の情報を掲載しております！
当資料は、表面粗さや形状測定に関する基本、測定に関する留意点を まとめたものです。 表面粗さとは何かという解説をはじめ、用語、パラメータ、表面粗さ・ 形状を測定する機器など、多数の情報を掲載。 ご一読いただき、本書の内容が少しでも、お客様の懸案解決の一助に なりましたら幸いです。 【掲載内容(一部)】 ■表面粗さの基礎 ・表面粗さとは ・表面粗さの用語 ■表面粗さのパラメータ ・表面粗さのパラメータ(JIS B 0601-2001) ・JIS B 0601-1994とJIS B 0601-2001の違い ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
誰でも使える現場向きの使いやすさと、裏面反射キャンセルなどの高機能を両立させ、更にコストパフォーマンスにも優れた干渉計です。
『OptoFlat』干渉計は、低コヒーレンス干渉原理を使用し、平面形状を裏面の影響を受けることなく簡単に測定することが可能です。LED光源のため電源ONで即時に測定可能な上、アライメント補助機構により、初めて干渉計を使う方でも操作が容易で即戦力として活躍します。 光学部品だけでなく、金属・セラミックス部品や金型の平面部など、幅広い用途でお使い頂けます。 ■裏面反射の低減（裏面キャンセル厚さ0.3mm以上） レーザー干渉計では、平行平面サンプルの測定において、表面の反射波面に裏面の反射波面が影響して測定が困難なケースがありますが、低コヒーレンス干渉原理では、短い領域でコヒーレンスを制限することにより、裏面からの干渉の抑制が可能になり、表面のみからの干渉縞が生成されます。 ■現場向きの使いやすさ アライメント補助機構があるため、初めて使用する方でも容易に測定ができます。また光量の自動調節により、反射率の大きく異なるワークでも基準板の交換の必要がありません。更にマウスを触らなくても非接触センサーで解析スタートができるため、操作による振動の心配も不要です。
光学式なのに「垂直焦点」でナノスケールの「実測」を可能に。
■高速連続スキャン ■光学プロファイラー ■実測（ステッチングなし）■サンプル簡単準備 表面特性評価用のリアルナノ3Dプロフィロメーター ナノビア社のリアルナノ3D表面検査装置は、「粗さ測定」「テクスチャ分析」「段差・高さ評価」のための高精度の表面特性評価を提供します。高度なクロマティックライト技術を使用した非接触プロファイロメーターは、「コーティング」「半導体」「医療機器」「航空宇宙材料」など多岐にわたる再現性のある高解像度の表面計測を提供します。 １）400mm2×200mm/s 高速連続スキャン※ST500 ◎400 x 400mmのX-Y軸移動で最高速度200mm/s。 ◎384,000点/秒の比類なき超高速スキャン。 2）ナノビア社独自の新方式「多彩色光センサー測定」 ◎白色光を波長ごとに分割。 ◎光の波長を利用して物理的な高さを正確に測定。 3）ステッチ不要の垂直焦点 ステッチングなしの実測データ ◎表面から反射する物理波長を直接測定。 ◎データポイントを連続的に収集。 ４）サンプル前処理なし サンプル簡単準備 ◎鮮明画像。 ◎リフォーカスなし。
