無償分析セミナー｜Smart CHART
【無償】分析基礎セミナー開催！貴社の分析スキルアップにご活用ください
Smart CHARTは各種表面分析手法について、一目で分析領域と検出下限の関係がわかるようにEAGでデザインしたチャートです。表面分析手法が一望できるので、分析手法の種類を知りたい場合や分析手法を選択するときなどの目安に役立ちます。 ●無償の分析基礎セミナー開催 Smart CHARTにある分析手法をベースとした、オンライン形式の分析基礎セミナーを無償で開催しています。分析基礎セミナーでは各分析手法の原理・特徴および各手法から得られる分析結果について分かりやすくご説明いたします。 また、TEM/STEM （透過型電子顕微鏡分析）やSIMS（二次イオン質量分析）、PCOR-SIMS（Point by point Corrected 二次イオン質量分析法）といった分析手法の応用セミナーも無償開催しています。 セミナーはお客様ごとにアレンジして個別開催をしています。開催ご希望の際はお気軽に弊社までお問合せください。
- 企業：受託分析｜ユーロフィンEAG株式会社
- 価格：応相談
