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受託分析｜ユーロフィンEAGの企業情報
材料分析のエキスパート｜WE KNOW HOW to solve your scientific problems!
材料分析でお困りの方、お気軽にEAGまでご相談ください！ ●高品質分析 ●短納期 ●迅速対応 ユーロフィンEAG（略称：EAG）は、40年以上にわたり半導体産業、高純度金属、先端・ナノ材料分野で材料分析サービスを提供してまいりました。半導体デバイス・製造装置のプロセス開発、研究開発、品質保証に不可欠なSIMS分析（二次イオン質量分析法）やTEM/STEM分析（透過型電子顕微鏡分析）、そして高純度材料の不純物分析に用いるGDMS分析（グロー放電質量分析法）においては、長年の技術蓄積と迅速な納期対応でお客様のニーズにお応えします。
事業内容
■EAG材料分析サービス 形態分析 ●電子顕微鏡分析：TEM/STEM・AC-STEM、EDS・EELS、Cryo-TEM・Cryo-FIB、FIB-SEM・Plasma-FIB、SEM-CL ●発光故障個所特定：OBIRCH・Emission (EL)・IR ●非破壊解析：XCT・C-SAM SIMS分析：SIMS・PCOR-SIMS 結晶構造分析：TEM、XRD、Raman、PED・EBSD 表面分析：XPS/ESCA、AES、TOF-SIMS ●薄膜分析：RBS/HFS、XRR、Ellipsometer ●ウエハ表面汚染分析：TXRF、VPD-ICP-MS 不純物分析：GDMS、GD-OES、IGA、XRF、ICP-MS・ICP-MS/MS、ICP-OES、SIMS 有機分析：Nano-IR、TOF-SIMS、Raman・FT-IR その他： ●封止パッケージ分析：IVA/HR-IVA（封止内部水分量・ガス成分分析）、Kr85リーク試験 半導体ATE試験、電気特性評価、信頼性評価
製品・サービス (4)
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ニュース（1）
詳細情報
| 企業名 | 受託分析｜ユーロフィンEAG株式会社 |
|---|---|
| 連絡先 | 〒101-0065 東京都千代田区西神田3-8-1 千代田ファーストビル東館12F地図で見る TEL：03-4330-3709 |
| 業種 | 試験・分析・測定 |
受託分析｜ユーロフィンEAG株式会社 社屋画像