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ユーロフィンイーエージー株式会社

住所東京都千代田区西神田3-8-1 千代田ファーストビル東館12F
電話03-4330-3709
  • 公式サイト
最終更新日:2024/01/05
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ユーロフィンイーエージーの企業情報

材料から半導体の高度分析、電子部品/機器の環境試験・信頼性評価・故障解析を実施。特にTEM/SIMS分析はお任せください。

【ユーロフィンイーエージーとは】 全世界に20箇所以上の分析/試験ラボを持つ受託サービス企業です。 所有設備は2500台以上となり、すべての分析は高品質・短納期(8営業日~)で分析結果をお届けしています。 ・TEM/SIMS/GDMSを中心に高度材料・半導体分析を得意とした受託サービスを実施 ・TEMは装置を20台以上所有し、短納期対応(納期:約6~8営業日) ・SIMSはマトリックス効果を抑えた独自サービスPCOR-SIMSも実施 ・ GDMSは全元素を標準試料なしで高感度分析を実現 【更に…】 ・2021年、国内に信頼性評価/環境試験/故障解析を専門としたラボを開設 ・100台以上の試験層を所有、年間2000件以上の信頼性評価・200件以上の故障解析の実績

事業内容

【信頼性評価/故障解析サービス】 ・電子部品/機器の信頼性評価/環境試験 ・電子部品/機器の故障解析/良品検査 ・X線CT/透過装置/超音波探傷での非破壊検査 【分析サービス】 ◆ 不純物分析(定量、定性、面内分布、キャリア濃度、汚染など) ・SIMS、PCOR-SIMS(二次イオン質量分析) ・GDMS(グロー放電質量分析) ・ICP-MS(誘導結合プラズマ質量分析) ◆ 組成分析(組成、膜厚、密度、結合状態、微小異物、マッピングなど) ・TEM/STEM-EDS / EELS(透過型電子顕微鏡) ・RBS/HFS(ラザフォード後方散乱分析/水素前方散乱分析) ・XPS/ESCA(X線光電子分光分析)・XRR(X線反射率測定)など ◆ 形態観察/構造解析(形状、膜厚、構造、欠陥観察、結晶性、結合状態など) ・3D-APT(3次元アトムプローブ) ・TEM/STEM(透過型電子顕微鏡) ・FIB/SEM(集束イオンビーム/走査型電子顕微鏡) ◆ ORS社分析サービス 気密性試験 ・IVA/HR-IVA分析(半導体などの封止パッケージ内の水分量/ガス成分分析)

おすすめ情報

製品・サービス (4)

【受託サービス】分析事例と所有分析装置 製品画像
【受託サービス】分析事例と所有分析装置
【受託サービス】電源・ACアダプタの評価/故障解析サービス 製品画像
【受託サービス】電源・ACアダプタの評価/故障解析サービス
【受託サービス】フラットパネルディスプレイ評価/故障解析サービス 製品画像
【受託サービス】フラットパネルディスプレイ評価/故障解析サービス
【受託サービス】LSIの故障解析サービス 製品画像
【受託サービス】LSIの故障解析サービス

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カタログ(4)

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【受託サービス】分析事例と所有分析装置

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【受託サービス】電源・ACアダプタの評価/故障解析サービス

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【受託サービス】LSIの故障解析サービス

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ニュース(3)

【年末年始営業日について】

  • 企業ニュース

年末年始期間中のお取り扱いについてご案内申し上げます。 <休 業 期 間> 2019年12月28日(土)~2020年1月5日(日) ■2020年1月6日(月)より通常営業となります。 <サンプル受付> 2019年12月27日(金)AM弊社到着分まで ■午前中到着分については、当日受入れとさせていただきます ■午後到着分については、年始受入れとなる場合がございますので、事前のご連絡をお願いします。 ご迷惑をお掛け致しますが、何卒、ご理解賜りますようお願い申し上げます。

2019年12月24日

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【社名変更】2019年12月よりナノサイエンスは社名変更しました

  • 企業ニュース

社名変更のお知らせ さて、このたび弊社ナノサイエンス株式会社は2019年12月より下記の 通り社名を変更することになりました。 今後とも一層のご支援を賜りますようお願い申し上げます。 まずは略儀ながら書中をもちましてご挨拶申し上げます。   新社名:ユーロフィンイーエージー株式会社 Eurofins EAG Materials Science Tokyo Corporation ※住所、電話番号の変更はございません。 本件に関するお問合せは、analysis@eag.com までご連絡くださいませ。

2019年12月23日

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ナノサイエンスはSISS-20とSIMS研究会11をサポートしています!

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◎SISS-20   開催日:2018年6月28日~29日  ◎SIMS研究会11(SIMS基礎講座)   開催日:2018年6月27日10:00~17:30 (9:15受付開始)     〇SISS-20附設講座:SIMS基礎講座   *SISS-20ご参加登録の方は無料で聴講可能です。~  〇内容:SIMSを判り易く、また基礎から学べる講座を開催いたします。  〇場所:成蹊大学 10号館 4階 大会議室  〇プログラム【3】   14:00-15:10 1) Static SIMS応用                JSR株式会社 植野富和氏 2) Dynamic SIMS応用                株式会社ナノサイエンス 新宮一恵氏

2018年04月24日

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企業名 ユーロフィンイーエージー株式会社
連絡先〒101-0065 東京都千代田区西神田3-8-1 千代田ファーストビル東館12F地図で見る TEL:03-4330-3709
業種 試験・分析・測定
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