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材料から半導体の高度分析、電子部品/機器の環境試験・信頼性評価・故障解析を実施。特にTEM/SIMS分析はお任せください。
【ユーロフィンイーエージーとは】 全世界に20箇所以上の分析/試験ラボを持つ受託サービス企業です。 所有設備は2500台以上となり、すべての分析は高品質・短納期(8営業日~)で分析結果をお届けしています。 ・TEM/SIMS/GDMSを中心に高度材料・半導体分析を得意とした受託サービスを実施 ・TEMは装置を20台以上所有し、短納期対応(納期:約6~8営業日) ・SIMSはマトリックス効果を抑えた独自サービスPCOR-SIMSも実施 ・ GDMSは全元素を標準試料なしで高感度分析を実現 【更に…】 ・2021年、国内に信頼性評価/環境試験/故障解析を専門としたラボを開設 ・100台以上の試験層を所有、年間2000件以上の信頼性評価・200件以上の故障解析の実績

事業内容
【信頼性評価/故障解析サービス】 ・電子部品/機器の信頼性評価/環境試験 ・電子部品/機器の故障解析/良品検査 ・X線CT/透過装置/超音波探傷での非破壊検査 【分析サービス】 ◆ 不純物分析(定量、定性、面内分布、キャリア濃度、汚染など) ・SIMS、PCOR-SIMS(二次イオン質量分析) ・GDMS(グロー放電質量分析) ・ICP-MS(誘導結合プラズマ質量分析) ◆ 組成分析(組成、膜厚、密度、結合状態、微小異物、マッピングなど) ・TEM/STEM-EDS / EELS(透過型電子顕微鏡) ・RBS/HFS(ラザフォード後方散乱分析/水素前方散乱分析) ・XPS/ESCA(X線光電子分光分析)・XRR(X線反射率測定)など ◆ 形態観察/構造解析(形状、膜厚、構造、欠陥観察、結晶性、結合状態など) ・3D-APT(3次元アトムプローブ) ・TEM/STEM(透過型電子顕微鏡) ・FIB/SEM(集束イオンビーム/走査型電子顕微鏡) ◆ ORS社分析サービス 気密性試験 ・IVA/HR-IVA分析(半導体などの封止パッケージ内の水分量/ガス成分分析)
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詳細情報
企業名 | ユーロフィンイーエージー株式会社 |
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連絡先 | 〒101-0065 東京都千代田区西神田3-8-1 千代田ファーストビル東館12F地図で見る TEL:03-4330-3709 |
業種 | 試験・分析・測定 |
