更新日： 集計期間:2025年09月24日～2025年10月21日
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熟練者でないと困難な作業においても安定した評価が可能！高機能材料の外観システムの仕様例をご紹介
"いろいろな検査装置で試してみたが、ブツなどが検出できない" というお困りごとに対し、当社では、「高精度カメラ・パターン照明・ 専用画像処理技術」で検出することを提案します。 パターン照明＋専用画像処理技術で検出。パターン縞画像の複数画像合成を 生成する事でブツ欠陥が強調され認識出来ます。 また、熟練者でないと困難な作業においても安定した評価が可能です。 【測定エリア仕様例】 ■測定エリア：54×18mm ■画素サイズ：0.010×0.010mm ■最小検出ブツサイズ：約30μm ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
「分析・解析・評価」を通じた課題解決で様々な製品開発に貢献します。
あらゆる材料分野で蓄積してきた信頼性の高い分析・解析技術と、広範囲な業界のお客様からの課題をもとに専門家の視点での分析調査をご提供しています。 ■事業内容■ ○化学成分分析 ○物理分析(表面解析) ○物理分析(構造解析) ○有機分析 ○試料作製 ○EVモーターの分解調査；部品の取り出しから材料分析まで ○ミクロ・硬さ調査 ○材料分析 ○環境測定・分析 ○労働安全衛生 ○受託調査 ※会社案内ご希望の方は、カタログダウンロードもしくはお問い合わせ下さい。
レーザーブレイクダウン分光分析システム
■ どこへでも持ち運び可能なポータブル型 ■ 豊富なデータベースにより、正確で迅速な解析 ■ ASCII、Binary、Excel(CSV)形式、WMFとWPG形式で出力可能
蛍光分光分析システム
■ 高いSN比 ■ TEクーリング機能により、測定時間の拡大 ■ 優れた励起光のカット技術（LED光源、バンドパスフィルターなど）
透明なパッケージから不透明な色付き容器に至るまで、高スループットの分光分析を実現します。
RapID システムは、ラマン原材料同定 (ID) 検証のための次世代ポータブルシステムで、透明なパッケージから不透明な色付き容器に至るまで、高スループットの分光分析を実現します。 医薬品メーカーにとって、不透明な容器に入った原材料の同定試験は、ボトルネックとなることがあります。内容物を検証するには、容器を開け、サンプリングと試験を行い、再封入するという作業専用のサンプリングエリアが必要になります。 RapID システムの空間オフセット型ラマン分光 (SORS) 技術は、原材料の非破壊的な同定検証に最適な独自のラマン技術です。 RapID システムのオペレーターは、不透明な容器や色付きのパッケージ越しに容器の内容物を数秒で検証できるため、原材料を即座に生産ラインに引き渡すことができます。 これにより、原材料の取り扱いやラボでの試験にかかる時間が短縮され、1 バッチあたり数時間から数日かかっていたオーバーヘッドが、わずか数分に激減します。
高性能タイプ金属材料分析装置 belec vario lab
オープンタイプの測定スタンドを採用！ 拡張性と高感度を備え、フレキシブルな拡張性をもった高性能分析システム 【特徴】 ○高感度フォトマルチプライヤー検出器と温度安定型分光器を 採用した発光分光分析装置 ○オープンタイプの測定スタンドを採用し、大型試料や長尺試料も分析可能 ○スパークスタンドとプローブの両方を同時に装着可能 ○温度安定型分光器の採用により 温度変化の影響を受けず高精度で安定した分析が可能 ○炭素（C）リン（P）硫黄（S）は当然のこと 真空オプションを追加することで窒素（N)の分析も可能 ○広範囲なダイナミックレンジ ○最大3台の分光器を搭載可能なため、最大128チャンネル対応 （マルチベース・アプリケーションに） ○様々な専用アダプタを用意 ○WindowsXPベースの、扱いやすいbelec win21ソフトウェア
デスクトップタイプ 金属材料分析装置 belec lab 3000s
低価格・コンパクトでありながら、フォトマルチプライヤー検出器と 温度安定型分光器を採用！デスクトップタイプの金属材料分析装置 【特徴】 ○低価格・コンパクトなデスクトップタイプ ○温度安定型分光器の採用により温度変化の影響を受けず 高精度で安定した分析が可能 ○高感度フォトマルチプライヤー搭載 ○炭素（C）リン（P）硫黄（S）まで標準仕様にて分析可能 ○広範囲なダイナミックレンジ ○最大24チャンネル （シングルベース・アプリケーションに） ○様々な専用アダプタを用意 ○WindowsXPベースの、扱いやすいbelec win21ソフトウェア
ハイブリッドポータブルタイプの金属材料分析装置です。
belec compact port HLCは、ポータブルタイプでハイブリッド分光光学系システムを搭載した第6世代分光光学系システム6GSO System (6th Generation Spectrometer Optic System)を採用した、小型・ポータブルタイプの発光分光分析装置です。 新開発のアルゴンUVプローブを使用することで、カーボンはもちろん、リン、硫黄、ボロン、スズまで分析可能です。（検出限界：C 0.003%、P 0.005%、S 0.005%、B0.0005%） また、窒素光学系オプションを使用することで、デュープレックススチールの分析に不可欠な窒素も0.05%の検出限界にて分析が可能です。 【特徴】 ○温度安定型分光器の採用 →周囲の温度に影響を受けず高精度な分析が可能 ○オプションにてDuplex Steelの分析にかかせない窒素の分析も可能 ○マルチベースアプリケーションにも最適 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
いつ起こるかわからない瞬間的な変動を見逃さない！かつてない高速・長時間計測
100μsの高速計測を無制限にモニタリングし続けられます。 いつ発生するかわからない… 一瞬だけピークが変動する… でも、従来の高速分光器ではデータの取りこぼしや モニタ可能時間の短さがネックだ。 このような声にお応えしました。 この速度でデータを取りこぼさないマルチチャンネル型分光器は他にありません。 しかも、プロセスモニタに大変便利な機能もご用意しています。 ・信号出力機能 ・プロセス終了後の再生機能 ・プラズマ発光のリアルタイムバックグラウンド除去
ラマン分光法による深さ方向への測定！多層膜の表面から各層の材料分析が可能です
当社の「顕微ラマン分光光度計」は共焦点光学系が採用されており、 顕微鏡のように深さ方向に焦点位置を変化させることで、多層膜の表面から 各層の材料分析が可能です。 顕微ラマン分光光度系の共焦点機能を用いて、ラマンレーザー光の焦点を 深さ方向に変化させることができます。 また、焦点位置を連続的に変化させれば、深さ方向に連続的にスペクトルを 取得することが可能です。 【特長】 ■共焦点光学系を採用 ■多層膜の表面から各層の材料分析が可能 ■ラマンレーザー光の焦点を深さ方向に変化させることができる ■深さ方向に連続的にスペクトルを取得することが可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
樹脂材料を分析し、製品性能に与える特性を評価することが可能！
株式会社アイテスでは、樹脂材料（半導体 LED用途）の分析を行っております。 MOSFET、ICといった半導体製品、LEDパッケージには、エポキシ樹脂や シリコーン樹脂といった 樹脂材料が多く使用されています。 これらの特性は製品の性能に大きく寄与します。当社ではこれらの 樹脂材料を分析し、製品性能に与える特性を評価することが可能です。 【分析・評価方法】 ■DSC ■TMA ■GCMS ■SEM-EDX ■TG-DTA ■FT-IR ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
規制値は1000ppm！簡易的に規制対象化合物含有の有無を調べる事が出来ます
フタル酸エステル類は、可塑剤などの添加剤成分として多くの プラスチック製品に使用されていますが、改正RoHS指令により 新たに4種のフタル酸エステル類が規制対象となりました。 当社の「スクリーニング分析」では、簡易的に規制対象化合物含有の 有無を調べる事ができ、500～1500ppm含有が推定された場合には より詳細な定量分析にて判定。 RoHS指令4種以外にも、JIGや食品衛生法などで規制対象となるDNOP、 DINP、DIDPについての簡易的な「スクリーニング分析」が可能です。 試料の詳細や測定対象化合物など、お気軽にお問い合わせください。 【Py-GC/MSによる気泡緩衝材中のフタル酸エステル類スクリーニング分析】 ■判定基準 半定量値 ・500ppm以下：非含有と判定 ・1,500ppm以上：含有と判定 ・500～1,500ppm：溶媒抽出による定量分析にて再検査を行う ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
材料と目的に応じた分析手法をご提案！液晶・封止材など部材毎の化学分析例をご紹介
液晶ディスプレイは、液晶の他、シール材や封止材、偏光板など、 様々な有機材料が使用されています。 それぞれの部材の材料特性や材料劣化メカニズムを化学的な視点から 考察する事は、製品評価や製品不良解析において重要となります。 本資料では、液晶ディスプレイの部材ごとの化学分析例をご紹介しています。 【化学分析例】 ■FT-IR：主成分分析 ■EDX：元素分析 ■GCMS: 液晶成分分析 ■HS-GCMS︓アウトガス分析（劣化解析）ほか ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
温度の変化または温度変化の繰り返しが、電子部品や機器に与える影響を確認します
「電子部品の急速温度サイクル試験」は、外部環境および 自己発熱による温度が繰り返し変化する状況を想定し、 熱ストレスを与えて耐性を確認する試験です。 冷熱衝撃装置は、試料へ均一な温度ストレスを与える2ゾーン方式で、 MIL-STD-883、JIS C 60068-2-14などの規格試験に対応。 急速温度変化チャンバーは、試験要求が厳しくなる車載用部品の 環境試験にマッチした恒温恒湿器です。 【冷熱衝撃装置の仕様(一部)】 ■設定温度への到達が早く、試験時間を短縮 ■試料の温度復帰を15分以内で実現 ■型式：TSD-101-W ■メーカー：エスペック株式会社 ■テストエリア内容量：100l ■テストエリア耐荷重：30kg ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
