更新日： 集計期間:2025年12月31日～2026年01月27日
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一般財団法人 コージェネレーション・エネルギー高度利用センター主催「コージェネ大賞2021」にて技術開発部門特別賞を受賞しました
受賞製品「リキッドデシカントエアハンドリングユニット：L D A H U」は、コージェネ排熱を利用しつつ調湿と温調を同時に行う空調機です。コージェネからは、高温の温水・蒸気の他にインタークーラーの冷却排熱が発生しますが、３７℃程度と低いため多くは冷却塔で捨てられています。L D A H Uは、排熱を夏場の調湿液の再生（濃度調節）用熱源と冬場の加湿及び加温用熱源に利用して通年コージェネの効率を向上させ、インタークーラーの低温排熱も余すところなく活用します。 ぜひ資料をご覧ください。
ニーズに応じた柔軟な対応！総合的に不具合発生プロセスについて考察し、結果を提供します
川重テクノロジーでは『金属材料不具合調査』を行っております。 多くの場合、金属材料は複合的な原因で不具合を生じるため原因の特定は 困難ですが、当社では、組織観察・機械試験・材料分析等多くの調査を 行っており、皆様が抱える問題解決のお手伝いをします。 多種多様な製品を製造する川崎重工業グループの調査機関として多くの データを蓄積しており、これらをもとに調査を実施。 調査方法のご提案や短期間での対応等、ご要望に応じ柔軟に対応させて 頂きますので、ご用命の際は、お気軽にご相談ください。 【特長】 ■単なる成分分析ではない不具合調査 ■豊富な調査実績を基にした調査 ■ニーズに応じた柔軟な対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
φ10μm、φ100μmのX線プローブを搭載！微小部の元素情報の取得などに有効
当社で行っている「X線分析顕微鏡による元素マッピング」を ご紹介いたします。 当社のX線分析顕微鏡は、内蔵のカメラで試料を観察し、任意の場所で 元素(11Na〜92U)の定性・定量分析を行うことが可能。 また、マッピング分析では、元素分布情報と同時にX線透過像を 取得することもできます。 【分析例】 ■材料表面変色部の元素マッピング分析 ■プリント基板上の微小異物分析 ■樹脂内部の異物の非破壊分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
調査内容の提案から原因調査・評価試験までのトータルソリューションをご提供！
当社で行っている「高分子製品の不具合調査」についてご紹介いたします。 高分子製品の破損原因のひとつに環境応力割れ(ESC)があります。ESCは、 高分子材料が応力負荷状態で薬品類と接触することで、き裂が発生する現象です。 ESCが原因で重大なトラブルにつながる可能性があるため、使用環境の改善・ 好適な材質選定などが必要です。 【調査内容】 ■原因調査 ・破面観察：破面の様相から破壊形態を推定 ・付着物成分分析：ESCを誘発する可能性の有無を推定 ■評価試験 ・浸漬試験：臨界歪みの測定/再現試験・残留応力評価 ・シミュレーション：高分子部材と薬品類の間の相溶性を推定 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
状況に応じたサンプリング器具やマニュアルをご用意！当社メンバーによる現地採取も可能です
当社で行っている『調査試料のサンプリング』についてご紹介いたします。 サンプリング器具やマニュアルをご用意し、お客様自身で上手く 採取いただけるように努めており、採取に不安がある場合は、 当社メンバーが現地へ採取に伺うことも可能。 お客様の状況にあわせて対応いたしますので、まずはお気軽に ご相談ください。 【サンプリングキット例】 ■異物採取キット ■微量液体採取キット ■ガス採取ボンベ ■オイル採取キット ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
数十～数百μｍの粒子の変化を定量フェログラフィによって観察し異常 を早期に検知！
「メンテナンスには、できるだけお金をかけたくない」 だから、使えるとこまで使って壊れたら交換。 しかしこの方法が通用しない場合が多いのが現実です。 そこでこれまでは一定期間運転したらオイル交換やオーバーホールを行うなど ＴＢＭ（Time Based of Maintenance:時間基準保全）による管理が行われてきました。 そして現在、ＣＢＭ（Condition Based ofMaintenance:状態監視保全）へと移行しています。 状態を見ながら使えるところまで使って、必要なメンテナンスを行うという、 理想的な管理を行うための診断技術の一つとして、フェログラフィ分析は発達してきました。 フェログラフィ分析は、機械を分解せずに機械内部の主に摩擦部分の状態を把握し、故障を予知・診断できる技術です。 機械の潤滑管理やＣＢＭを進める有力なツールになります。 当社では、建設機械やガスタービン、陸・舶用ディーゼルエンジン等で蓄積されてきた知識を最大限に活かし、 お客様のメンテナンスのお手伝いをさせて頂きます。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
欠陥部分や歪の傾向などを視覚的に把握する事も可能！形状解析や寸法測定などの解析、評価を代行します
当社は、「形状比較評価」や、「3次元寸法・幾何公差測定」を 行っております。 「形状比較評価」では、3DスキャンしたデータとCADモデルを比較する 事で、形状や加工精度を確認することが可能。 「3次元寸法・幾何公差測定」では、ノギスやマイクロメーターなどの アナログ計測器では出来ない寸法測定、断面解析、形状や姿勢などの 幾何公差を測定する事が可能です。 また、お客様がお持ちの3Dスキャンデータを当社がお預かりし、形状解析や 寸法測定などの解析、評価を代行する「受託解析サービス」も行っております。 【サービス内容】 ■形状比較評価 ■3次元寸法・幾何公差測定 ■受託解析サービス ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
製品・材料に係る規制に適合しているか否かの分析・評価も実施します。 材料分析を行うことによって不具合の原因を特定します。
「モノづくり」を追求するためには、最も上流に位置する材料の品質確保が重要な要素となります。弊社では、製品における環境負荷物質(フタル酸エステル類、重金属、ハロゲン類など)の分析および製品の付着物、異物、腐食、劣化、変色などを調べ、製品の不具合・不良の原因解析など、樹脂・金属材料の組成分析による品質評価を行っています。また、製品・材料に係る規制(RoHS指令など)に適合しているか否かの分析、評価も行います。 【特長】 ・電線材料の分析で培ったノウハウ、経験を礎にした有機・無機材料の分析および解析技術を駆使することで多様なニーズに対応します。 ・RoHS分析の他、物性評価(引火点、粘度など)や不良解析(異物、変色、腐食、劣化など)など、様々な分析品目に対応します。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
これまでの非破壊解析では困難であった低抵抗ショート不良の解析が可能に！
磁場顕微鏡は、電流により発生する磁場分布を測定対象外から測定し、 測定対象内に流れる電流経路を推定する非破壊の解析技術です。 磁場顕微鏡で特定したショートなどの異常個所を3次元X線顕微鏡(X線CT)で 観察することにより、非破壊で詳細な原因解析が可能。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【解析フロー】 1.磁場顕微鏡による異常検出 2.3次元X線顕微鏡による観察 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
SiCウェーハに形成されたエッチピットを3次元X線顕微鏡(X線CT)で観察した事例を紹介！
パワー半導体の普及に向け、低欠陥のSiCウェーハの開発が 進められています。 X線CTは非破壊で物質の形状を3次元的に可視化し、定量評価できる手法です。 PDF資料にて、SiCウェーハに形成されたエッチピットを3次元X線顕微鏡 (X線CT)で観察した際のCT像をご覧いただけます。 【概要】 ■X線CTによるエッチピットの形状解析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
温度条件による相変化・化学反応・格子定数の変化を知るために有効な手段！
当社で行う「高温XRDによる極薄膜の結晶性評価」についてご紹介いたします。 高温でのX線回折(XRD)は、各種材料の温度条件による相変化・化学反応・ 格子定数の変化を知るために有効な手段です。 添付のPDF資料にて、nmオーダの極薄膜の結晶構造の変化をIn-PlaneXRD＋ 高温測定で評価した事例をご紹介しておりますので、ぜひご覧ください。 【高温＋In-Plane XRD 特長】 ■極低角でX線を入射して面内方向に検出器を走査させる方法 ■入射X線は表面から深くまで入らず、かつ表面に対して 垂直な回折面のみを検出することができる ■数nmの極薄膜についても結晶の情報を得ることができる ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
Si基板上のSiO2表面酸化膜について、光電子分光から酸化膜厚を算出！
酸化膜の形成プロセスにおいて、酸化膜厚の制御は非常に重要な項目の1つです。 そこで、光電子分光を用いて表面酸化膜の膜厚を非破壊で見積りました。 表面が薄い酸化膜で覆われているような試料の場合、多くの元素の光電子ピークは 酸化物成分と基板成分に対応して2つのピーク構造を示します。各成分のスペクトル 強度を測定することによって酸化膜の膜厚を見積ることができます。 非破壊にて膜厚を求める分析手法はいくつかありますが、他の手法に比べ、 特定箇所の膜厚の見積りが可能であるところが、この手法の特長です。 ※記事の詳細内容は、添付のPDF資料より閲覧いただけます。 詳しくは、お気軽にお問い合わせください。
感度・定量に特化したSIMS(D-SIMS)にて高精度に成分評価する手法を確立！
ウェーハベベル部の成分評価は一般的にTEMやTOF-SIMSで行われていますが、 これらの手法はいずれも感度や定量に制限があり、微量の成分評価は困難と されてきました。 今回、新たに開発した専用治具を用いることで、感度・定量に特化したSIMS (D-SIMS)にて高精度に成分評価する手法を確立しました。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【技術概要】 ■傾けた不安定な状態の試料の位置ずれ、検出安定性の低下を 防止するために専用治具で固定 ■測定位置を高精度かつ自由度高く選択することができる ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
膜構造・組成情報があらかじめ分かれば、多層膜もシミュレーションにより評価可能！
当社で行う「X線反射率測定(XRR)による薄膜評価」についてご紹介いたします。 X線反射率測定(XRR)は、臨海全反射各近傍でのX線の減衰や干渉縞のある X線プロファイルと計算で得られたプロファイルをフィッティングさせることで、 表面(界面)粗さ・膜密度・膜厚の情報を得ることができます。 ご用命の際は、当社までお気軽にお問い合わせください。 【解析可能な薄膜】 ■試料表面：鏡面(表面粗さ 5nm以下) ■試料サイズ：30mm×30mm以上 ※サイズが小さい場合はご相談 ■膜厚：2nm～500nm ■必要な情報：膜構造および膜組成情報 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
表面の化学組成、結合状態および不純物分布などを詳しく調査！
当社で行う「半導体の表面・薄膜解析」についてご紹介いたします。 半導体デバイスのプロセス開発・工程管理・不良解析において、材料評価・ 故障モードの特定に有効な分析をご提案。 表面の化学組成、結合状態および不純物分布などを詳しく調べ、研究開発 および製造プロセス・不良解析に役立つ情報をご提供します。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問合せください。 【最表面】 ■組成：XPS ■結合状態：XPS ■汚染：TOF-SIMS・ICP-MS ■ラフネス：AFM・SEM ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
